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光連未來,算力重構 研討會— 翔宇解說224G SerDes技術與CPO的光學測試方法
〈光連未來,算力重構〉研討會,現場共聚集了來自半導體、電子電路、光通訊產業等領域、超過 300 名來賓。講師陣容包括 思渤科技、翔宇科技、Lightmatter、汎銓科技和鴻騰精密科技等專家;聚焦「從技術突破到商機落地」的實踐路徑,討論在 1.6T 世代的市場機會。
其中,Eagletek 翔宇科技的講師 — 業務開發經理 Hans Wu,以「突破 AI 資料中心 IO 瓶頸:224G SerDes 到矽光子 CPO 的技術演進與驗證關鍵」為題,深入解析新世代 AI 基礎設施所面臨的高速互連挑戰,以及驗證測試技術如何成為推動產業落地的重要基石。
4天前


PCIe7.0 的規格優勢與測試難題,Scale-Up 與光電共存的超高速驗證
PCIe 7.0 的推出,也象徵高速互連正式進入「光電共存」與「資料導向架構」的新階段。未來系統效能的關鍵,不再只取決於 GPU 算力本身,而是 CPU、GPU、記憶體、交換器與儲存之間能否維持低延遲、高頻寬且穩定的資料搬移效率。從 PAM4、FEC、Retimer,到 Optical Aware Retimer 與光纖 PCIe 互連,整體驗證難度正快速提升,也讓高速測試平台的重要性大幅提高。
5月28日


VIAVI Solutions 於 OFC2026 展示 AI 高速連接測試,驗證 1.6T、800G 與 CPO 架構
VIAVI 指出,AI 工作負載正加速推動高速 I/O 技術演進,包括:1.6T 光模組與高速 SerDes 驗證、矽光子 PIC(Photonic Integrated Circuit)測試、CPO 系統級熱管理與訊號完整性驗證、矽光子與CPO所使用到的光纖的端面監視與清潔,包含光纖陣列單元(Fiber Array Unit, FAU)、PCIe 與 CXL 在 AI 伺服器中的互連效能測試
3月30日


IHS 與 RHS:OSFP 與適配主機的熱管理進化與 1.6T 光模組趨勢
224G 訊號處理有多困難:為何我們「賠不起」增加額外損耗?1.6T (224G/lane) 的電氣挑戰已非昔比。根據實測數據,通道損耗從前代的 15 dB 飆升至 30~32 dB,訊號到達接收端時能量已微乎其微。
2月9日
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