MAP Swept Wavelength System (mSWS) - new device development of passive DWDM devices, ROADMs & Circuit Packs

MAP mSWS 掃頻波長測試系統

MAP Swept Wavelength System (mSWS) - new device development of passive DWDM devices, ROADMs & Circuit Packs

MAP mSWS 掃頻波長測試系統

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VIAVI Solutions

MAP Swept Wavelength System (mSWS) - new device development of passive DWDM devices, ROADMs & Circuit Packs

MAP mSWS 掃頻波長測試系統

網路與光通訊傳輸測試

這是一個用於 DWDM裝置、ROADMs、和電路板的製造和新裝置開發的測試解決方案，可以對波長相依性能進行全面評估和特性測試。

全新的 MAP 掃頻波長測試系統（mSWS-A2）是產業的下一代產品，全球超過100家製造商依賴這款測試系統，在研發和生產環境中，對於 DWDM 裝置、ROADMs和電路板進行插入損耗（IL）、偏振依賴損耗（PDL）、回波損耗（RL）和以波長為函數方向性的測試；mSWS-A2提高了測試速度、準確性和解析度，同時保持其專利的分佈式架構，為產業提供了最具成本效益的測試解決方案。

mSWS 系統驗證了最新的光學元件和模組的光學性能，包括無色、無方向、無競爭（CDC）ROADM、多埠波長開關 (high-port-count wavelength switches)、可調式濾波器、和電路板；藉前一代的 SWS2000 可調式雷射源和光源模組（SOM）的功能，全新的 mSWS 系統現在成為 VIAVI Solutions MAP-300多應用光學測試平台的下一代量測接收器。

新一代的mSWS在整個1520到1630 nm波長範圍內的絕對波長準確度為±0.002 nm，並且在100 nm/s的速度下保持其全部規格性能，這個速度是前一代產品的兩倍；同時，系統還增加了可變波長分辨率功能，使用者可以從0.4至3 pm中選擇分辨率。

SWS測試系統目前已在100多個客戶端，部署了超過9,000個接收模組通道，用於驗證最新的光學元件和模組，包括：ROADMs、波長開關、可調式濾波器、和電路板的光學性能；SWS系統由可調式雷射源、光源光學模組（SOM）、控制模組、接收器主機、一個或多個接收模組模組和應用軟體組成。

MAP 掃頻波長測試系統（mSWS-A2）

重點應用

MAP 掃頻波長測試系統（mSWS-A2）
在製造、產品開發和研究環境中進行光學元件和模組特性評估
ROADMs、波長交換器、波長阻擋/過濾器
電路板
密集波長分波多工 (DWDM)、粗波長多工 (CWDM)
可調式濾波器、耦合器、分光器、開關、衰減器、FBGs、交錯器、二色性濾波器
微機電系統 (MEMS) 和波導裝置



特點

可擴展架構 - 可增加最多7個量測站，共支援8個量測站，由一個TLS/SOM發射站來提供支援
± 0.002 nm 絕對波長準確度
每個量測站最多可提供256個接收通道
高速掃描（使用者可控制）最高達40 nm/s
靈活易用的軟體和透過動態連結庫（DLLs）自定義應用程式
mSWS能夠提高製造產量，同時不損失性能 - 可以以競爭解決方案的兩倍速度，對多埠 (high port-count) CDC ROADM進行全面評估，同時在最大掃描速度下保持規格性能
mSWS能夠減少佔用50％空間，並最小化操作費用：它將每個測試模組中的功率計數量翻倍
以業界最具成本效益的解決方案，降低添加測試站所需的資本支出：mSWS可以快速擴展製造，最多支援八個測試站，這些站可以由一個分佈式可調式雷射發射器提供支援。