MAP mSWS 掃頻波長測試系統

全新的 MAP 掃頻波長測試系統（mSWS-A2）是產業的下一代產品，全球超過100家製造商依賴這款測試系統，在研發和生產環境中，對於 DWDM 裝置、ROADMs 和電路板進行插入損耗（IL）、偏振依賴損耗（PDL）、回波損耗（RL）和以波長為函數方向性的測試；mSWS-A2 提高了測試速度、準確性和解析度，同時保持其專利的分佈式架構，為產業提供了最具成本效益的測試解決方案。

mSWS 系統驗證了最新的光學元件和模組的光學性能，包括無色、無方向、無競爭（CDC）ROADM、多埠波長開關 (high-port-count wavelength switches)、可調式濾波器、和電路板；藉前一代的 SWS2000 可調式雷射源和光源模組（SOM）的功能，全新的 mSWS 系統現在成為 VIAVI Solutions MAP-300多應用光學測試平台 的下一代量測接收器。

新一代的 mSWS 在整個 1520 到 1630 nm 波長範圍內的絕對波長準確度為 ±0.002 nm，並且在 100 nm/s 的速度下保持其全部規格性能，這個速度是前一代產品的兩倍；同時，系統還增加了可變波長分辨率功能，使用者可以從 0.4 至 3 pm 中選擇分辨率。

SWS 測試系統目前已在 100 多個客戶端，部署了超過 9,000 個接收模組通道，用於驗證最新的光學元件和模組，包括：ROADMs、波長開關、可調式濾波器、和電路板的光學性能；SWS 系統由可調式雷射源、光源光學模組（SOM）、控制模組、接收器主機、一個或多個接收模組模組和應用軟體組成。

重點應用

• MAP 掃頻波長測試系統（mSWS-A2）

• 在製造、產品開發和研究環境中進行光學元件和模組特性評估

• ROADMs、波長交換器、波長阻擋/過濾器

• 電路板

• 密集波長分波多工 (DWDM)、粗波長多工 (CWDM)

• 可調式濾波器、耦合器、分光器、開關、衰減器、FBGs、交錯器、二色性濾波器

• 微機電系統 (MEMS) 和波導裝置

特點

• 可擴展架構 - 可增加最多 7 個量測站，共支援 8 個量測站，由一個 TLS/SOM 發射站來提供支援

• ± 0.002 nm 絕對波長準確度

• 每個量測站最多可提供 256 個接收通道

• 高速掃描（使用者可控制）最高達 40 nm/s

• 靈活易用的軟體和透過動態連結庫（DLLs）自定義應用程式

• mSWS 能夠提高製造產量，同時不損失性能 - 可以以競爭解決方案的兩倍速度，對多埠 (high port-count) CDC ROADM 進行全面評估，同時在最大掃描速度下保持規格性能

• mSWS 能夠減少佔用50％空間，並最小化操作費用：它將每個測試模組中的功率計數量翻倍

• 以業界最具成本效益的解決方案，降低添加測試站所需的資本支出：mSWS 可以快速擴展製造，最多支援八個測試站，這些站可以由一個分佈式可調式雷射發射器提供支援。

高性能、低成本：mSWS超過70 dB動態範圍

憑藉超過 70 dB的動態範圍，mSWS 提供業界領先的性能，同時具有低擁有成本，這項採用專利分佈式架構的技術，每個光源雷射器可支援最多八個獨立控制的量測站，通常最初被用於研發，量測站的可擴展性使客戶可以靈活地將設備從研發轉向生產。

SWS2000系統升級與分析工具優化

已安裝的 SWS2000 系統，可以透過添加新的 mSWS-A2 量測站進行升級，充分發揮現有 SWS 使用者的資本基礎設施效益。

SWS 可直接測量：插入損耗（IL）、偏振依賴損耗（PDL）和以波長為函數的插入損耗，並可使用選配的回波損耗模組進行回波損耗（RL）量測。

使用原始的 IL 和 PDL 資料，全新易用的應用軟體提供完整的分析工具，可針對量測的峰值、ITU 網格、或使用者定義的網格，計算這些參數的相對值：

• 峰值處損耗

• x dB 閾值開始的中心波長

• 中心波長處損耗

• x dB 閾值處的頻寬

• 聲道串音、左/右和累計

• 均平度

mSWS-A2 自訂測試軟體開發與精確PDL量測

mSWS-A2 資料連結層（DLLs）可用於開發符合自訂測試需求的軟體，這些 DLLs 通過 mSWS 接收器硬體運作，使用者可以存取所有 SWS 功能，透過提供的 DLLs，使用者可以在 Visual Basic™、C、C++ 或LabView 環境中開發應用程式。

搭載在 SOM 內的四狀態 (4-state) 偏振控制器，讓 PDL 和平均損耗可以快速隨波長變化進行量測，它可在 0°、90°、–45° 和圓偏振四種偏振狀態下進行量測，並透過穆勒 (Mueller) 矩陣分析精確測定所有掃描波長下的 PDL 值。

將 mSWS 功能整合至 MAP-300 平台，讓使用者可以充分發揮 MAP-300 應用模組的強大功能。測試系統可自動化，並新增開關和雷射源；同時，使用 MAP-300 配備各種連接器檢測工具，可確保連接器的乾淨，避免影響測量結果。

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