MAP mVOA-C1 可變光學衰減器
MAP mVOA-C1 可變光學衰減器
Variable Optical Attenuators (mVOA-C1) - metrology-grade programmable optical attenuation
MAP mVOA-C1 可變光學衰減器
MAP可變光學衰減器 (mVOA-C1) 是一種以步進馬達和濾波器為基礎的衰減器，提供計量級的可編程衰減性能，擁有業界最精巧的封裝；高解析度和寬波長範圍，非常適合放大器測試、100/400GE甚至更高速率的客戶端光學測試、以及新一代高階相干長距離介面的測試。
VIAVI Solutions憑藉在實驗室和製造應用領域中高性能衰減器30多年領先地位，mVOA-C1 已經進入第五代；mVOA 是一款高解析度、寬波長範圍的衰減器，非常適合用於放大器測試、100/400GE甚至更高速率的客戶端光學測試、以及對新一代高級相干長距離介面進行測試；該衰減器採用經過驗證領先業界的技術，以確保最大可靠性和性能。
該模組可提供單模、或多模光纖版本，支援多種光纖連接器，並提供輸出分路器 (tap)、或整合功率計控制的版本；功率控制選項可作為內部的功率監測器，它可提供單埠、雙埠、或四埠配置，全部均為單插槽模組；在單個8插槽MAP主機中，最多可安裝48個獨立控制的衰減器。
MAP系列可變光學衰減器支援熱插拔，並設計可配合所有版本的MAP系列主機使用；mVOA擁有低插入損耗（<0.9 dB），領先業界的光譜和衰減均勻性，因此最大限度地減少損耗預算，使mVOA成為CWDM和DWDM測試應用的理想選擇；衰減精度（± 0.01 dB）和重複性（± 0.015 dB）是實現生產測試系統最大化測試產出的關鍵。
重點應用
高精確度和高重複性，減少測量不確定性
平坦的光譜響應，減少 CWDM 和 DWDM 多波長應用中的與波長有關的不確定性
低背向反射
可選配內建波長校準功率計
高輸入功率，適用於 EDFA 測試和多波長應用
特點
<0.9 dB的超低插入損耗和優秀的光譜均勻性，最小化損耗預算利用
最快的轉換速度和穩定時間，減少測試時間
可選配內建功率監控器，提供全面的封閉迴路功率控制設定
可選配更高功率，承受單模光纖高達 2W 的輸入功率 (多模光纖為 500 mW)
mVOA：優化光學設計，業界領先的高速衰減控制
mVOA採用擴展光束結合線性可變中性密度濾光片進行衰減，精密的光學設計在30多年的優化過程中，確保了低插入損耗、低反射損耗、和偏振依賴損耗；在衰減光學訊號的管理方面，VIAVI 特別謹慎，以確保高功率性能和長期可靠性，專有的馬達控制算法搭配動學驅動 (Kinematic drive) 系統，實現高速衰減變化，並具有業界領先的穩定時間，短的穩定時間可以提高系統的效率，並確保光訊號的穩定性和可靠性。
mVOA有兩種工作模式，分別是衰減模式和功率模式；衰減模式是最基本的工作模式，它改變模組的插入損耗，而不考慮輸入功率；功率模式則設置mVOA輸出的絕對功率，需要配備內部功率計選項，在功率模式下，可以啟用輸入功率跟踪功能，這會自動調整mVOA來保持輸出功率恆定；多個功率和衰減偏移可用於補償測試系統損耗，簡化測試系統的整合。
優化的直覺化的圖形使用者介面（GUI），適用於實驗室或製造環境，在摘要和詳細視圖之間高效切換，讓使用者可以在系統層面操作，或者利用模組的全部功能。
選配和系統配置
mVOA有三種可能的配置方式：
標準衰減器（圖a）：
帶有輸出訊號複製 (tap) 的衰減器（圖3b）：
帶有輸出功率監控的衰減器（圖c）：
MAP主機和系列模組
VIAVI多功能應用平台（MAP）是一個模組化的、可安裝在機架上、或工作台上的光學測試和測量平台，主機可以容納2、3或8個應用模組；LightDirect系列模組以其簡單的控制和單一功能著稱，它們可以單獨使用或一起使用，構建出各種不同的光學測試應用，該平台具有網路啟用的多使用者界面，操作簡單直覺化；其符合LXI標準，提供完整套SCPI自動化驅動程式和PC管理工具，VIAVI MAP平台在實驗室和製造環境中的運作模式都經過優化。
mVOA是LightDirect系列模組的一部分，除了其他眾多模組，如：光源、偏振擾偏器、功率計、和光譜分析儀等，MAP系列是理想的模組化平台，適用於光子系統和模組的測試。