VIAVI Solutions Medusa Labs Test Tools Suite (MLTT) I/O 讀寫驗證測試 (Medusa Labs Test Tools Suite) - VIAVI JDSU Medusa Lab集10年測試與驗證經驗與知識之大成，VIAVI Medusa Lab Test Tool (簡稱MLTT)提供多樣獨特的強大功能，除了精確檢驗出資料讀寫存取的正確性之外，以更快的測試速度與產生更高的資料流，當偵測到錯誤時，可發出特定封包，觸發協定分析儀擷取封包，進一步分析資料找出原因，不管是硬體或軟體工程師，皆能快速建立符合需求的測試環境。 Medusa Labs Test Tools Suite Medusa Labs Test Tools Suite (MLTT) I/O 讀寫驗證測試 Medusa Labs Test Tools Suite Medusa Labs Test Tools Suite (MLTT) I/O 讀寫驗證測試 1/1 VIAVI Solutions Medusa Labs Test Tools Suite Medusa Labs Test Tools Suite (MLTT) I/O 讀寫驗證測試 高速匯流排測試 有別於市面上的免費軟體，VIAVI JDSU Medusa Lab 集 10 年測試與驗證經驗與知識之大成，Medusa Lab Test Tool (簡稱 MLTT) 提供多樣獨特的強大功能，除了精確檢驗出資料讀寫存取的正確性之外，以更快的測試速度與產生更高的資料流，當偵測到錯誤時，可發出特定封包，觸發協定分析儀擷取封包，進一步分析資料找出原因，不管是硬體或軟體工程師，皆能快速建立符合需求的測試環境。 應用MLTT，工程師可以同時使用多台安裝有MLTT的主機(Host/Initiator, HBA)，針對單一如JBOD等儲存設備(Storage Device)，在高資料流量下進行讀寫測試，可以針對Local或網路硬碟進行測試，也可以由一台MLTT控制其他所有MLTT，同時發動讀寫測試(I/O Test)。 產品應用 完整的資料bit正確性比對 支援Pain與Maim同步與非同步I/O測試 豐富的封包格式庫，可設定發出特定封包包括：Fibre Channel、iSCSI、SAS、 SATA與Ethernet 多款作業系統支援：Windows、Linux、Sun SPARC 驗證 I/O 能力包括：Queue depth、Block Size、File Size 強大的除錯功能：完整錯誤記錄與memory dump 提供指令模式，可完整編程並達到容易操作 圖形化操作介面，快速完成測試劇本 支援遠端操控與執行 可執行傳輸效能驗證 完整的驗證功能包括：Checks for errors、data corruptions,、I/O halts、I/O time outs、與validates performance 容許略過某些OS應用層，輸出超過OS容許的流量 偵測到錯誤時可發出特定封包，觸發協定分析儀 瀏覽 VIAVI Solutions 所有技術文章 > 檔案下載 Medusa Labs Test Tools Suite - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Rohde & Schwarz R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 (R&S®FSWP Phase noise analyzer and VCO tester) - R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀，憑藉其極低雜訊的內建訊號源與交叉相關（Cross Correlation）技術，達到極高的量測靈敏度。能精準捕捉雷達應用中高度穩定的訊號源、也能在數秒內完成相位雜訊與振幅雜訊的量測。 R&S®FSWP Phase noise analyzer and VCO tester R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 R&S®FSWP Phase noise analyzer and VCO tester R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 1/1 Rohde & Schwarz R&S®FSWP Phase noise analyzer and VCO tester R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 一般量測儀器 R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀，憑藉其極低雜訊的內建訊號源與 交叉相關（Cross Correlation）技術 ，達到極高的量測靈敏度。能精準捕捉雷達應用中高度穩定的訊號源、也能在數秒內完成相位雜訊與振幅雜訊的量測。 此外，還附加脈衝訊號量測 (pulsed signal measurements)、殘留相位雜訊(residual phase noise, 包含脈衝訊號) 的特性分析。整合式高階訊號與頻譜分析等選配功能，是 Rohde Schwarz 獨一無二的測試量測儀器。 R&S®FSWP 相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀，是雷達應用，以及合成器（Synthesizer）、OCXO、DRO 與 VCO 研發與製造過程中的最佳測試解決方案。系統可依不同應用需求進行彈性設定。憑藉低雜訊的內建本地振盪器（LO），R&S®FSWP 在不需額外選配的情況下，即可量測市面上多數商用合成器與振盪器。靈敏度相較同級系統高出 10 dB 以上。對於 DRO、OCXO 等高靈敏度振盪器，R&S®FSWP 內建訊號源所需的相關次數可降低達百倍，尤其在接近載波的量測條件下，能大幅提升整體量測吞吐量。 針對高階應用，R&S®FSWP 配備第二條接收路徑，可啟用交叉相關（Cross Correlation）量測，最高可將量測靈敏度提升至 25 dB。內建訊號來源與高度數位化的架構，量測速度優於傳統上，在相位偵測後才進行數位化的測試系統。 R&S®FSWP 可一鍵完成脈衝訊號源的相位雜訊量測，以及單一元件（含脈衝元件）的殘留相位雜訊量測，並支援使用內建或外部高品質訊號源。除相位雜訊分析外，亦整合完整的訊號與頻譜分析功能，讓使用者能快速檢視頻譜並即時切換至相位雜訊量測，提供真正的 All-in-One 整合式量測體驗。 主要特點： 頻率範圍涵蓋 1 MHz 至 8 / 26.5 / 50 GHz，搭配外接諧波混頻器最高可達 325 GHz 透過 Cross Correlation 技術與極低雜訊內建參考訊號源，提供高靈敏度相位雜訊量測 – 1 GHz 載波、10 kHz 偏移時、Typ. –74 dBc/Hz　 – 10 GHz 載波、10 kHz 偏移時、Typ. –158 dBc/Hz 可同時量測振幅雜訊與相位雜訊 一鍵完成脈衝訊號源的相位雜訊量測 內建訊號源可進行殘留相位雜訊量測，亦支援脈衝訊號 採用數位化架構，具備高速量測效能 低雜訊內建 DC 電源，適用於 VCO 特性分析 支援 VCO 自動化特性量測 可分析最高 8 GHz 頻寬的頻率跳變（瞬態），並自動量測穩定時間 支援 Allan 變異數量測 內建 SCPI 記錄器，簡化自動化程式碼撰寫 整合訊號／頻譜分析與相位雜訊分析於單一平台 – 高階訊號與頻譜分析功能，頻率範圍 10 Hz 至 8 / 26.5 / 50 GHz　 – 低顯示平均雜訊位準（DANL）–156 dBm/Hz（未啟用雜訊消除），TOI Typ. 25 dBm，提供寬廣動態範圍　 – 訊號分析頻寬達 320 MHz　 – 總量測不確定度：3.6 GHz 以下 < 0.3 dB，8 GHz 以下 < 0.4 dB R&S®FSWP Phase noise analyzer and VCO tester 極低相位雜訊，靈敏度最高達 25 dB 內建極低相位雜訊本地振盪器，無需外接參考訊號源，其相位雜訊效能優於市面多數訊號產生器。若需更高靈敏度，可選配第二本地振盪器啟用交叉相關量測，依相關次數不同，靈敏度最高可提升 25 dB。憑藉低雜訊內建訊號源，僅需少量相關次數即可快速、可靠地完成高品質振盪器的相位雜訊量測，大幅縮短研發與製造時間。 振幅雜訊量測的準確度，最高達 20 dB R&S®FSWP 可同時量測振幅雜訊與相位雜訊，並以同一圖表或分開視窗顯示結果。憑藉高精度內建訊號源與交叉相關技術，其振幅雜訊量測準確度，顯著高於傳統二極體檢波器。 FSWP 靈敏度最高可提升達 20 dB，適用於高精度雜訊分析應用。 交叉相關靈敏度提升的顯示輔助 使用者若無法事先得知量測訊號源所需的相關次數，因此系統會在量測曲線下方以灰色區域顯示，在目前選定相關次數下可達到的靈敏度數值。若增加相關次數仍無法進一步提升靈敏度，交叉相關流程可自動中止，以避免不必要的量測時間。 量測頻率偏移範圍 R&S®FSWP 可量測從 1 µHz 起的相位雜訊頻率偏移，最大偏移僅受限於儀器的輸入頻率。振幅雜訊與相位雜訊可並行顯示，偏移範圍可達 30 MHz。儘管量測頻寬廣，但由於 R&S®FSWP 採高速頻率處理並分段覆蓋量測範圍，因此不受動態範圍限制。 Allan 標準差（Allan deviation）與 Allan 變異數量測 R&S®FSWP 可在時間域以固定間隔量測振盪器頻率，計算偏差與變異數，並以時間曲線呈現，適合分析高穩定訊號源如衛星導航系統。靠近載波的相位雜訊亦可用來計算數千秒以上的長期頻率穩定度。儀器可顯示最長 1 百萬秒的 Allan 標準差與 Allan 變異數（最小偏移 1 µHz），並能有效抑制相位雜訊頻譜中的雜散干擾，包括內建訊號源造成的短期波動。 R&S®FSWP 會根據相位雜訊量測（上方視窗）計算 Allan 標準差。例如，偏移範圍 10 mHz 至 10 MHz 對應的時間域顯示為 100 ns 至 100 s。 簡單的量測設定 過去量測雷達等應用中的脈衝訊號相位雜訊，需要極昂貴且複雜的系統，且需精確的脈衝參數資訊與耐心才能獲得穩定量測。配備 R&S®FSWP‑K4 選項後，R&S®FSWP 只需按下一個按鍵即可完成量測。FSWP 會記錄訊號、計算所有脈衝參數，並解調訊號，同時顯示相位雜訊與振幅雜訊。量測快速穩定，所有結果即時可得，讓使用者可專注於電路設計最佳化。 在曲線選單中，使用者可將曲線指定為相位雜訊或振幅雜訊量測。使用者也可選擇是否移除雜散訊號、對曲線進行平滑處理，或以持續模式（persistence mode）顯示曲線。 Cross Correlation 高靈敏度量測 R&S®FSWP 採用交叉相關技術，並可設定量測埠（gating）以測量脈衝訊號，補償由於長脈衝關斷時間導致平均訊號功率降低所造成的靈敏度下降。即使對脈衝訊號的相位雜訊量測，也能維持寬廣的動態範圍。高靈敏度量測。 可自動量測脈衝參數；使用者可自行設定量測門檻（gate） 自動脈衝參數量測 搭配選配模組 ，R&S®FSWP 可自動偵測所有與脈衝訊號相位雜訊量測相關的脈衝參數（如脈衝重複率與脈衝寬度），使用者無需手動設定。使用者仍可自行定義量測門檻（gate），例如抑制瞬態干擾。無需後續校正、移動曲線或手動限制可用偏移範圍，量測更快速方便。 左上方視窗顯示脈衝訊號源的相位雜訊，其偏移範圍可達脈衝重複率的一半；右上方視窗則顯示振幅雜訊。下方表格列出脈衝分析結果及所有重要的脈衝參數。 脈衝訊號的相位與振幅穩定度量測 在雷達應用中，為了偵測移動目標，脈衝的相位與振幅必須非常穩定，才能將目標與不必要的反射信號清楚區分。振盪器與放大器通常是訊號不穩定的主要原因。 選配中，R&S®FSWP‑K6 與 R&S®FSWP‑K6P 可量測並顯示這些不穩定性；若搭配內建訊號源（R&S®FSWP‑B64），還可對放大器、電纜及其他雙埠元件進行脈衝穩定度的殘留量測。R&S®FSWP 的量測靈敏度，達到過去僅能透過少數昂貴且複雜系統才能實現的水準。3D 圖可呈現單一脈衝與不同脈衝序列（burst）的相位與振幅穩定度，提供更精確的整體概覽。 各脈衝序列（burst）中脈衝相位穩定度的 3D 圖。 簡單且成本優化的量測設定，亦可作為高階訊號與頻譜分析儀 R&S®FSWP 相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀可透過加裝 R&S®FSWP‑B1 選項，輕鬆升級為具訊號與頻譜分析功能的儀器。使用者可在不同量測通道監控訊號，快速且有效地啟動量測並最佳化設定，無需額外複雜線材，對自動化測試系統尤其有利。 R&S®FSWP 基於 R&S®FSW，具卓越射頻效能與高靈敏度。低相位雜訊可精確分析調變、量測相鄰頻道功率及雜散訊號，內建前置放大器將 DANL 降至 –165 dBm/Hz，額外雜訊消除可接近 –174 dBm/Hz。高解析頻寬與典型 TOI 25 dBm 提供寬動態範圍，即使在強訊號環境下也可量測微弱訊號並評估相鄰頻道抑制。 作為訊號分析儀（R&S®FSWP‑B1），可支援最高 320 MHz 分析頻寬，並提供 I/Q 資料分析功能。搭配 R&S®FSWP‑K6 可自動分析脈衝訊號，並一鍵計算脈衝寬度、上升時間及重複率。數位調變訊號可用 R&S®FSWP‑K70 向量分析，類比調變訊號可用 R&S®FSWP‑K7，亦可將 I/Q 資料上傳至電腦進行自訂分析。 靈敏的相位雜訊量測、頻譜分析、向量訊號分析與脈衝訊號分析：R&S®FSWP 可輕鬆切換量測通道，並同時顯示所有量測結果。 用於 VCO 分析的低雜訊直流電源、高階諧波量測 R&S®FSWP 具備極低雜訊的內建直流電源，可供電並控制壓控振盪器（VCO）及其他元件，使 VCO 量測變得簡單。建立 VCO 規格表也相當容易，儀器可在不同調諧電壓與供電電壓下量測相位雜訊，提供規格表中常列出的參數值。使用者可自行決定是否變化調諧電壓或供電電壓，以及是否在調諧電壓或供電電壓端測量電流。 R&S®FSWP 不僅可量測 VCO 的基本頻率，也能測量其高階諧波功率與調諧電壓的關係。這項量測相當重要，因為高階諧波可能干擾整體系統，因此通常會被抑制。高階諧波抑制能力也是 VCO 使用者期望看到的參數。 VCO 在不同調諧電壓下，偏移頻率為 1 kHz、10 kHz、100 kHz 與 1 MHz 的相位雜訊。 瞬態或頻率跳變量測（瞬態分析） R&S®FSWP 提供最高 8 GHz 頻寬，可分析訊號隨時間的頻率與相位特性，精細表徵切換訊號源、合成器頻率跳變及頻率掃描。使用者可快速確認頻率是否達標、切換時間長短及進入目標公差的時刻。窄頻分析可至 40 MHz，用於檢視 PLL 瞬態響應。持續顯示所有曲線，可評估參數散佈及異常值。 為取得可重現結果，可使用外部觸發、功率觸發，或針對頻率／相位偏移觸發。即時解調功能可設定頻率閾值，使訊號僅在高於或低於指定頻率時顯示，便於錯誤分析或合成器最佳化，並能針對特定頻率跳變進行選擇性觸發。 合成器瞬態響應的持續顯示模式。水平紅線表示頻率觸發閾值，垂直線表示觸發偏移。亮黃色曲線為目前量測結果，暗黃色曲線則顯示所有先前量測結果。 FMCW 連續波訊號線性分析 與 自動穩定時間量測 頻率域中雷達 chirp 訊號等的線性偏差會對系統效能造成關鍵影響，需詳細分析。R&S®FSWP 可插入參考線，該線為兩個評估線間訊號的回歸斜率，用戶可透過觸控螢幕輕鬆調整。新視窗會顯示頻率相對於參考線的偏差。 在觸發事件後，R&S®FSWP 可自動量測合成器頻率進入指定公差範圍所需的時間。使用者可依需求定義公差範圍，量測結果會直接顯示在螢幕上，無需複雜設定限制線或 delta 標記功能。 FMCW Chirp 線性分析：左圖：粉紅色參考線位於兩條評估線之間。右圖：顯示頻率相對於理想線性行為的偏差。 高速數位時鐘抖動分析 高速介面如 PCIe 6.0、IEEE 802.3ck 需超低抖動振盪器與參考時鐘（RefClk），例如 100 fs 或更低。R&S®FSWP 以業界領先的抖動與相位雜訊靈敏度，精確呈現裝置真實抖動效能，並可量測使用展頻時鐘（SSC）的 RefClk。可顯示隨機抖動（RJ）與週期抖動（PJ），並提供加權濾波器，符合 TX、RX 與 CDR 傳遞函數。 對高速資料介面，透過資料線時鐘模式可量測訊號的真實 RJ 與 PJ。替換參考時鐘為近似理想訊號源，還可量測 PLL 的抖動。數位解調架構支援 SSC 展頻至 80 MHz，抖動可依接收器 CDR 行為濾波加權，方便模擬與分析接收端效能。 量測 100 MHz 參考時鐘（使用展頻時鐘 SSC）。可套用加權濾波器（如螢幕下方的「PCIE_GEN5_CDR_100MHz」），並設定 1 kHz 至 80 MHz 的積分範圍。 檔案下載 R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 - Data Sheet (EN) PDF 下載 R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 - User Manual (EN) PDF 下載 R&S®FSWP 相位雜訊分析與 VCO 測試儀 - Specifications (EN) PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Acute 皇晶科技 ADP2025-B 高壓差動探棒 (ADP2025-B - High Voltage Differential Probes) - ADP2025-B 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過電池供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和無法使用 USB 介面的保密性測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±1400 V 的差動電壓。 ADP2025-B - High Voltage Differential Probes ADP2025-B 高壓差動探棒 ADP2025-B - High Voltage Differential Probes ADP2025-B 高壓差動探棒 1/1 Acute 皇晶科技 ADP2025-B - High Voltage Differential Probes ADP2025-B 高壓差動探棒 一般量測儀器 ADP2025-B 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過電池供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和無法使用 USB 介面的保密性測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±1400 V 的差動電壓。 當您的測量超出探棒的線性範圍時，ADP2025-B 提供視覺和聽覺警告指示器，確保您能夠及時察覺到測量超出範圍，防止可能的損壞或危險，有助於保護設備和測試工作的安全性。 規格概覽 Battery (電池供電) 頻寬：25MHz 衰減比：20X / 200X 最大差動電壓範圍 : 1400V 輸入阻抗：10Mohm, 1pF 過載警報指示燈 過載警報蜂鳴器 頻寬限制：5MHz / Full 可使用於有 BNC 介面的任何示波器 雙層絕緣電子線，多一層保護，安全性更佳 安規等級： EN 61010-031:2002 +A1:2008 CAT II 1000V, CAT III 600V 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

Acute 皇晶科技 ADP1100-U 高壓差動探棒 (ADP1100-U - High Voltage Differential Probes) - ADP1100-U 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過 USB 供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±700 V 的差動電壓。 ADP1100-U - High Voltage Differential Probes ADP1100-U 高壓差動探棒 ADP1100-U - High Voltage Differential Probes ADP1100-U 高壓差動探棒 1/1 Acute 皇晶科技 ADP1100-U - High Voltage Differential Probes ADP1100-U 高壓差動探棒 一般量測儀器 ADP1100-U 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過 USB 供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±700 V 的差動電壓。 當您的測量超出探棒的線性範圍時，ADP1100-U 提供視覺和聽覺警告指示器，確保您能夠及時察覺到測量超出範圍，防止可能的損壞或危險，有助於保護設備和測試工作的安全性。 規格概覽 Battery (電池供電) 頻寬：100MHz 衰減比：10X / 100X 最大差動電壓範圍 : 700V 輸入阻抗：10Mohm, 1pF 過載警報指示燈 過載警報蜂鳴器 頻寬限制：5MHz / Full 可使用於有 BNC 介面的任何示波器 雙層絕緣電子線，多一層保護，安全性更佳 安規等級： EN 61010-031:2002 +A1:2008 CAT II 600V, CAT III 300V 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

Fluke Networks FI-7000 FiberInspector Pro 光纖顯微攝像機 (FI-7000 FiberInspector Pro Fiber Optic Inspection Scope) - 光纖連接器端面污染是光纖故障的主要原因。 灰塵和污染物可以引起插入損耗和反射，抑制光傳輸並引起收發器損壞。FI-7000 FiberInspector Pro 是一款光纖檢查範圍工具，通過此工具您可在 1 秒內對光纖連接器端面檢查，自動進行通過/失敗認證。 FI-7000 FiberInspector Pro Fiber Optic Inspection Scope FI-7000 FiberInspector Pro 光纖顯微攝像機 FI-7000 FiberInspector Pro Fiber Optic Inspection Scope FI-7000 FiberInspector Pro 光纖顯微攝像機 1/1 Fluke Networks FI-7000 FiberInspector Pro Fiber Optic Inspection Scope FI-7000 FiberInspector Pro 光纖顯微攝像機 網路與光通訊傳輸測試 光纖連接器端面污染是光纖故障的主要原因，灰塵和污染物可以引起插入損耗和反射，抑制光傳輸並引起收發器損壞。FI-7000 FiberInspector Pro 光纖連接器是一款光纖檢查範圍工具，通過此工具您可在 1 秒內對光纖連接器端面檢查，自動進行通過/失敗認證。 光纖端面檢查 重點應用 自動的通過/失敗光纖連接器端面認證 由於污染、糙面、裂紋和劃痕造成的問題區域的圖形指示 符合工業標準 - IEC 61300-3-35 消除光纖連接器端面測量的人為主觀因素 認證流程中保存光纖連接器端面檢視 特點 光纖檢測認證 問題區域圖形指示 保存端面圖像 基於 Versiv 平臺 Versiv 的 ProjX™專案管理系統 Taptive™ 用戶介面 通過/失敗光纖端面分級 光纖端面檢測 在光纖認證測試的前期、中期和後期，灰塵會由一個光纖連接器端面轉移至另一個端面，這會造成問題，所以任何連接部分的兩個端面都必須保持乾淨並時刻對其進行檢查。 光纖端面清晰呈現 通過/失敗光纖端面分級 全部的 Versiv 產品擁有者可對 FI-7000 的通過/失敗光纖端面進行分級。 包含於 Versiv 韌件 v3.0 和更高版本之中。 只需下載最新的 Versiv 固件並以 FiberInspector 作為測試內容創建一個新專案就可享受對此光纖端面檢測功能的免費分級。 自動通過/未通過光纖連接器端面認證 瀏覽所有 Fluke Networks 技術文章 > 檔案下載 FI-7000 FiberInspector Pro 光纖顯微攝像機 - Data Sheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

VIAVI Solutions ONT-800 模組 – 800G FLEX V2 (ONT 800G FLEX Module - 400G QSFP-DD multi-rate Test Module for the ONT Platform) - VIAVI 800G FLEX V2 模組針對基於 PAM-4 的產品加快開發速度，支持速率 400G 以及向下相容 200G、100G、50G；此儀表提供從 PHY 層、PCS 層一直到 MAC 層的完整統合性測試。與 ONT-800 主機搭配使用，可提供製造商設計和發佈網路產品所需的多種關鍵測試和測量功能。憑藉其先進的測試應用和全面的光傳輸技術覆蓋範圍(包括 400GE PAM-4、PHY、PCS、和乙太網層) 以及高達 800G 的靈活服務。 ONT 800G FLEX Module - 400G QSFP-DD multi-rate Test Module for the ONT Platform ONT-800 模組 – 800G FLEX V2 ONT 800G FLEX Module - 400G QSFP-DD multi-rate Test Module for the ONT Platform ONT-800 模組 – 800G FLEX V2 1/1 VIAVI Solutions ONT 800G FLEX Module - 400G QSFP-DD multi-rate Test Module for the ONT Platform ONT-800 模組 – 800G FLEX V2 網路與光通訊傳輸測試 VIAVI 800G FLEX 模組針對基於 PAM-4 的產品加快開發速度，支持速率 400G 以及向下相容 200G、100G、50G，此儀表提供從 PHY 層、PCS 層一直到 MAC 層的完整統合性測試。 VIAVI 800G FLEX 模組與 ONT-800 主機搭配使用，可提供製造商設計和發佈網路產品所需的多種關鍵測試和測量功能。憑藉其先進的測試應用和全面的光傳輸技術覆蓋範圍 (包括 400GE PAM-4、PHY、PCS、和乙太網層)以及高達 800G 的靈活服務，VIAVI 800G FLEX 模組讓製造商和服務提供商在實現新興技術時能得到優勢，加快生產驗證速度。 特色 800G FLEX 模組包含的測試接口： 2 個 400G QSFP-DD 6 個 200G QSFP-56 8 個 100G QSFP-28 400G QSFP-DD 和 400ZR 相干測試 乙太網 QSFP-DD 400ZR 乙太網 100GE、200GE、400GE、PAM-4 和 NRZ 乙太網 2 x 200GE、4 x 100GE、4 x 50GE 和 8 x 50GE FlexE 100GBASE-R、200GBASE-R、和 400GBASE-R FlexO FOIC 1.4、1.2、2.4、4.8 - OTUCn 4 x OTLC.2/4、OTUC1 ... OTUC8 硬體驗證 動態偏斜 (Dynamic Skew) 注入和高級錯誤分析 FEC壓力測試 支援多用戶和測試自動化 應答器測試 - QSFP-DD/QSFP-56 FEC 符合性測試 IC 開發與驗證測試 系統驗證測試 (SVT) 生產測試 延伸閱讀 瀏覽 VIAVI Solutions 所有技術文章 > 光通訊網路測試解決方案總覽 > 檔案下載 ONT 800模組 - 800G FLEX V2 - Data Sheet (English) PDF 下載 ONT 800模組 - 800G FLEX V2 - Data Sheet (中文) PDF 下載 4x100GE DR4 Breakout Testing PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Saleae Logic Pro 8 / 16 Analyzer 系列邏輯分析儀 (Logic Pro (8ch / 16 ch) Logic Analyzers) - Saleae 邏輯分析儀系列，助您輕鬆解析 I2C、SPI、MDIO、SMBus甚至是最新的I3C等協定，提供穩定易於使用的除錯工具，Saleae 邏輯分析儀為業界唯一支援Real-Time即時錄製顯示，以及多通道應用。 Logic Pro (8ch / 16 ch) Logic Analyzers Logic Pro 8 / 16 Analyzer 系列邏輯分析儀 Logic Pro (8ch / 16 ch) Logic Analyzers Logic Pro 8 / 16 Analyzer 系列邏輯分析儀 1/1 Saleae Logic Pro (8ch / 16 ch) Logic Analyzers Logic Pro 8 / 16 Analyzer 系列邏輯分析儀 高速匯流排測試 〈Saleae Logic Pro 8 / 16 Analyzer〉邏輯分析儀，是一款專為工程師與開發者打造的高效能訊號分析與除錯工具。 共有兩種規格，整合 8 組或 16 組數位／類比輸入，提供最高 500 MS/s 數位取樣率與 50 MS/s 類比取樣率，可分別量測最高 100 MHz 方波及 5 MHz 類比訊號。產品具備 12 位元類比解析度與 ±10 V 類比輸入範圍，能精準擷取數位與類比訊號，滿足嵌入式系統、電子設計及韌體開發等多元應用需求。 Logic Pro 支援豐富的通訊協定解碼，包括 I²C、I3C、SPI、MDIO、SMBus、UART、CAN、USB、SWD、Modbus、MIDI、Manchester、BiSS-C、Atmel SWI、UNI/O 等，搭配 Saleae 獨家的圖形化軟體介面，可進行即時（Real-Time）錄製與波形顯示、多通道同步分析及自訂量測，大幅提升訊號分析與除錯效率。軟體操作直覺、完整支援 Windows、macOS 與 Linux，是跨平台開發環境中的理想工具。 機身採用手掌大小的輕巧設計，方便攜帶至實驗室、辦公室或現場測試。隨附測試線、測試夾、USB 連接線與便攜收納盒，開箱即可使用。無論是應用程式除錯、訊號擷取、協定分析或系統驗證，Logic Pro Analyzer 都能提供穩定、高效且易於使用的量測體驗，是數位電路設計與嵌入式開發不可或缺的專業邏輯分析儀。 應用範圍 韌體除錯 FPGA 除錯 功能驗證 性能分析 逆向工程 協定解碼 數據記錄 產品優勢 500 MS/s 數位取樣率 / 超過 10 Billion 數位樣本 50 MS/s 模擬取樣率 / 超過 500 Billion 模擬樣本 24 個內建協定分析功能 API 自動化 API 和自定義協定解碼器外掛 API 邊緣和脈衝寬度觸發 協定結果篩選和搜索 量測、書籤和定時標記 四種資料導出格式：CSV、二進制、VCD 和 MATLAB 跨平台支持：Windows、Linux 和 OSX 每秒 5 billion DSP 擷取、8 層 PCB、雙用途輸入、6061 T6 鋁板與金屬飾面 一應俱全 - 主單元、線束、測試夾和攜帶包都包含在內 內建超過 20 種協定解碼功能： ‧ I2C ‧ Async Serial ‧ SPI ‧ I3C Transactions ‧ USB PD ‧ Addressable LEDs ‧ Atmel SWI ‧ BiSS C ‧ CAN ‧ DMX-512 ‧ HD44780 ‧ HDLC ‧ HDMI CEC ‧ I2S / PCM ‧ JTAG ‧ LIN ‧ Manchester ‧ Intel MCS-04 bus ‧ MDIO ‧ Midi ‧ Modbus ‧ 1-Wire ‧ PS/2 Keyboard / Mouse ‧ Simple Parallel ‧ SMBus ‧ SWD ‧ USB LS and FS ....... 並可透過軟體擴充更多解析功能： Saleae Logic Pro 能輕鬆解讀各種協定，如I2C、SPI、MDIO、SMBus、I3C等，也可使用 Saleae 社群下載其他使用者建立的協定分析 (Decode SDK) ，或可自行編輯各種協定分析腳本。 歡迎進入 翔宇 Youtube，查看 Saleae Logic Pro 邏輯分析儀 - 使用教學系列影片： https://www.youtube.com/watch?v=wYZbiNrO0Ko 產品功能 穩定、輕鬆進行除錯，支援完全跨平台 (Windows、Linux 和 OSX)，Logic 2 讓捕捉、視覺化和訊號搜尋變得非常簡單。 觸發與搜尋功能 使用協定上的即時觸發和協定搜尋，可透過互動式地探索各種元件和模組在電路板上相互通訊；與示波器不同，所有流量都在記錄中 — 您隨時可以停止並分析發生了什麼以及為什麼。 量測畫面 使用 Logic Pro (8ch / 16 ch) 邏輯分析儀時，您可以立即使用鼠標指向您感興趣的位置，進行量測操作；讓您能夠輕鬆地確認不同訊號的行為特徵。同時，您還可以根據需要建立自己的量測標準，或者使用其他社群成員提供的已有量測標準。 軟體開發套件 (SDK)、擴充和社群 提供了開發者所需的工具和資源，使其能夠創建自己的低階協定分析儀、高階協定分析儀，或者擴展其他功能；您亦可以利用 SDK 建立各種擴充，包括自定義的協定分析套件或量測工具，迎接任何通訊挑戰；如果您擁有自己開發的擴充套件，您也可以輕鬆地與 Saleae 社群其他夥伴一同分享。 Logic Pro 8 / 16 邏輯分析儀比較 檔案下載 Saleae Users Guide PDF 下載 Logic Pro 8 Datasheet PDF 下載 Logic Pro 8 Fact Sheet PDF 下載 Logic Pro 16 Datasheet PDF 下載 Logic Pro 16 Fact Sheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Acute 皇晶科技 ADP2100-B 高壓差動探棒 (ADP2100-B - High Voltage Differential Probes) - ADP2100-B 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過電池供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和無法使用 USB 介面的保密性測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±1400 V 的差動電壓。 ADP2100-B - High Voltage Differential Probes ADP2100-B 高壓差動探棒 ADP2100-B - High Voltage Differential Probes ADP2100-B 高壓差動探棒 1/1 Acute 皇晶科技 ADP2100-B - High Voltage Differential Probes ADP2100-B 高壓差動探棒 一般量測儀器 ADP2100-B 是一款高性能的差動電壓測量探棒，具有 BNC 介面，可輕鬆連接到任何具有相應介面的示波器，通過電池供電，無需額外的電源供應，適用於各種電子測試和無法使用 USB 介面的保密性測量環境，可讓使用者安全地測量高達 ±1400 V 的差動電壓。 當您的測量超出探棒的線性範圍時，ADP2100-B 提供視覺和聽覺警告指示器，確保您能夠及時察覺到測量超出範圍，防止可能的損壞或危險，有助於保護設備和測試工作的安全性。 規格概覽 Battery (電池供電) 頻寬：100MHz 衰減比：20X / 200X 最大差動電壓範圍 : 1400V 輸入阻抗：10Mohm, 1pF 過載警報指示燈 過載警報蜂鳴器 頻寬限制：5MHz / Full 可使用於有 BNC 介面的任何示波器 雙層絕緣電子線，多一層保護，安全性更佳 安規等級： EN 61010-031:2002 +A1:2008 CAT II 1000V, CAT III 600V 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

Total Phase Cheetah SPI 封包產生器 (Cheetah SPI Host Adapter - designed to communicate with high-speed, SPI-based flash memory) - Total Phase Cheetah SPI 封包產生器是一種高速的 SPI 封包產生器，可透過 SPI 以高達 40+ MHz 的頻率進行通訊。Total Phase Cheetah 封包產生器適用於以 SPI 為基礎的高速快閃記憶體進行通訊，它是SPI 系統開發、除錯和程式編寫的理想工具。 Cheetah SPI Host Adapter - designed to communicate with high-speed, SPI-based flash memory Cheetah SPI 封包產生器 Cheetah SPI Host Adapter - designed to communicate with high-speed, SPI-based flash memory Cheetah SPI 封包產生器 1/1 Total Phase Cheetah SPI Host Adapter - designed to communicate with high-speed, SPI-based flash memory Cheetah SPI 封包產生器 高速匯流排測試 隨著 SPI 設備的速度不斷提升，研發人員面臨緊迫的程式編寫的開發時程，此時，您需要充分利用嵌入式系統介面工具 — Total Phase Cheetah SPI 封包產生器 (Host Adapter) 快速提升產品開發的時效性，Total Phase Cheetah SPI 封包產生器是一種高速的 SPI 封包產生器，可透過 SPI 以高達 40+ MHz 的頻率進行通訊。Cheetah 封包產生器適用於以 SPI 為基礎的高速快閃記憶體進行通訊，它是SPI 系統開發、除錯和程式編寫的理想工具。 此圖為 SPI 的架構，以及 CPOL 和 CPHA的四種可能狀態、以及在 SPI 中的相應模式。 重點應用 透過 Cheetah 封包產生器和 Flash Center 軟體快速對 SPI 閃存進行程式編寫，許多應用程序將其 BIOS 儲存在快閃記憶體中的快速啟動區；由於 Flash Center 的可擴展性、及以 XML 為基礎的零件函式庫 (parts library)，Cheetah 封包產生器使工程師可加速對 BIOS 進行更新，例如：更新版本、和記憶體修復； 使用 Flash Center 中以 XML 為基礎的零件函式庫，對 SPI 記憶體進行程式編寫，並以高達 40+ MHz 的速度對 SPI 快閃晶片和 EEPROM 進行寫入； 可模擬主機 (master) 快速建立高速 SPI 嵌入式系統原型，輕鬆地評估記憶體晶片、感測器等周邊裝置； 透過 Cheetah 封包產生器，輕鬆地建立 SPI 原型 (prototypes)；作為主機 (master) 時，可模擬 MCU 主動對SPI 感測器進行輪詢 (poll)，從內建快閃記憶體的 BIOS 中寫入和讀取，並主動控制匯流排。 讓終端客戶可輕鬆存取您的 SPI 裝置。 特點 USB 轉 SPI 介面： 40+ MHz SPI 主機模式 (master) Flash / EEPROM 程式編寫 支援 3 個從機 (Slave) 模式 實現產線快速切換站別、加速生產排程 精確的時序和使用者自定義的延誤 可獨立或在系統上進行程式編寫 Flash Center 軟體： 可擴展的 XML 零件函式庫，內建對許多 SPI 快閃記憶體和 EEPROM 的開發資源 使用多個 Cheetah 封包產生器進行集體編程 (Gang-programming) 控制中心序列軟體： 簡化 SPI 訊息傳輸 自動執行 XML 批次腳本 (script) Cheetah GUI 功能 Cheetah API： 建立使用者定義的軟體應用程式，內建範例檔案 Windows、Linux、Mac OS X跨平台支援 USB 匯流排供電： 便於攜帶、無須額外電源供應，讓您快速部署測試環境 配件 SPI Development Kit I2C Development Kit I2C/SPI Level Shifter Board High-Speed SPI Flash Demo Board 10-Pin Split Cable 延伸閱讀 Total Phase I2C/SPI主機轉接器和協定分析儀的詳細比較 > 瀏覽 Total Phase 所有技術文章 > 匯流排協定測試解決方案總覽 > 檔案下載 Cheetah SPI 封包產生器 - Datasheet PDF 下載 I2C/SPI 量測儀器選購指南 PDF 下載 Cheetah SPI 封包產生器 - Manual PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

WhaleTeq PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 (PPG-2TF-660) - 搭配 AECG100 主機或 SECG 5.0 AIO 多生理訊號模擬器使用，第一台專為製造商 R&D 設計的穿透式血氧性能測試儀。 PPG-2TF-660 PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 PPG-2TF-660 PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 1/1 WhaleTeq PPG-2TF-660 PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 醫療器材精密測試儀器 PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 搭配 AECG100 主機或 SECG 5.0 AIO 多生理訊號模擬器使用，第一台專為製造商 R&D 設計的穿透式血氧性能測試儀。 此測試儀的雙通道光學模組可輸出紅光及紅外光類比訊號，測試心率和血氧飽和度（SpO2）功能，並提供模擬 5 種手指顏色亮暗與粗細類別的穿透率、量測新生兒的嬰兒腳測試模式，和模擬室內、室外等 14 種環境光訊號。適合指夾式血氧機、患者血氧監護儀性能等穿透式 PPG 產品開發使用。 重點應用 Educational Lab 醫材精密實驗室 Manufacturing Test 醫材設計 & 品管檢驗 學校課程既實驗室研究 醫院 & 消防機關檢測 國家生醫研究開發 檔案下載 PPG-2TF-660 穿透式血氧性能測試模組 - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Acute 皇晶科技 TL4134B 邏輯分析儀 (TravelLogic - TL4134B) - TL4134B 支援 MIPI RFFE (射頻前端介面) 和 MIPI SPMI (系統電源管理介面)；MIPI RFFE 用於射頻晶片和射頻前端器件之間的資料傳輸及管理射頻前端設備的通訊。 TravelLogic - TL4134B TL4134B 邏輯分析儀 TravelLogic - TL4134B TL4134B 邏輯分析儀 1/1 Acute 皇晶科技 TravelLogic - TL4134B TL4134B 邏輯分析儀 一般量測儀器 TL4134B 支援 MIPI RFFE（射頻前端介面）和 MIPI SPMI（系統電源管理介面）；MIPI RFFE 用於射頻晶片和射頻前端器件之間的資料傳輸及管理射頻前端設備的通訊。而 MIPI SPMI 用於主控晶片、功率管理集成電路（PMIC）之間的通訊，可有效管理系統電源。 規格概覽 PC-based USB3.0 介面 / 電源 34 通道 2GHz 時序 / 250MHz 狀態分析 4Gb 總記憶體 可與皇晶或其他品牌 DSO 堆疊成 MSO 在 SVID 或 SVI3上需同時做電壓量測，可參考 MSO(混合訊號邏輯分析儀) 協定分析： BiSS－C, CAN2.0B／CAN FD, DALI, HID over I2C, I2C, I2S, LIN2.2, MDIO, MIPI I3C 1.1.1, MIPI RFFE 3, Modbus, PMBus, Profibus, PWM, SMBus, SPI, UART, USB PD 3.1, USB1.1 匯流排觸發(數位) ： BiSS－C, CAN2.0B／CAN FD, DALI, DP_Aux, HID over I2C, I2C, I2S, LIN2.2, LPC, MDIO, Min／Micro LED, MIPI I3C 1.1.1, MIPI RFFE 3, MIPI SPMI 2, Modbus, PMBus, Profibus, SENT, SMBus, SPI, SVI2, UART, USB PD 3.1, USB1.1 軟體畫面 MIPI RFFE (LA Mode) MIPI SPMI (LA Mode) 邏輯分析儀模式 擷取數位波形訊號，搭配多樣觸發條件做訊號定位，輔以匯流排解碼。可堆疊示波器同時比對數位與類比訊號，適用於訊號品質分析。提供多種儲存模式，根據不同應用需求可選擇長時間記錄或維持高採樣頻率。 長時間紀錄：轉態儲存 VS 壓縮儲存 在訊號擷取與分析通常都會需要分析儀能長時間紀錄訊號，但是若使用壓縮的方式做資料儲存，容易在資料回傳電腦後，解壓縮時因資料量被放大，造成電腦記憶體不足。 因此為了同時滿足軟體操作順暢又能長時間做紀錄且不漏掉任何資料，Acute 分析儀採用的儲存方式為轉態儲存並非壓縮，回傳 PC 軟體端後不需要解壓縮即可分析跟顯示解碼結果。 流程圖式觸發設定 堆疊他牌高階示波器 協定分析儀模式 硬體解碼，不帶波形，可以長時間保存協定資料，亦可同時附帶真實波形。適用時機：通訊協定除錯初期分析。 檔案下載 Acute 邏輯分析儀 Travel Logic 系列 使用手冊 PDF 下載 Acute 邏輯分析儀 Travel Logic 系列 規格書 PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Rohde & Schwarz CMW270 無線設備測試儀 (R&S®CMW270 wireless connectivity tester - for non-cellular technologies (WLAN / Bluetooth / GNSS / Broadcast technologies)) - R&S CMW270 為筆記型電腦、遊戲主機、數據卡 (Data Card)、無線耳機、以及物聯網市場中的整合式無線通訊產品的理想解決方案；R&S CMW270 為 WLAN 和 Bluetooth 提供網路模擬 (訊令模式, Signaling mode)，並為 WLAN、Bluetooth、GNSS 和廣播技術等標準提供訊號產生與分析的功能。 R&S®CMW270 wireless connectivity tester - for non-cellular technologies (WLAN / Bluetooth / GNSS / Broadcast technologies) CMW270 無線設備測試儀 R&S®CMW270 wireless connectivity tester - for non-cellular technologies (WLAN / Bluetooth / GNSS / Broadcast technologies) CMW270 無線設備測試儀 1/1 Rohde & Schwarz R&S®CMW270 wireless connectivity tester - for non-cellular technologies (WLAN / Bluetooth / GNSS / Broadcast technologies) CMW270 無線設備測試儀 一般量測儀器 R&S CMW270 為筆記型電腦、遊戲主機、數據卡 (Data Card)、無線耳機、以及物聯網市場中的整合式無線通訊產品的理想解決方案；R&S CMW270 為 WLAN 和 Bluetooth 提供網路模擬 (訊令模式, Signaling mode)，並為 WLAN、Bluetooth、GNSS 和廣播技術等標準提供訊號產生與分析的功能。 許多 Bluetooth®LE 元件製造商發現在測試符合標準的模組和傳感器具有很大的挑戰性；藍牙®LE標準規定的直接測試模式 (DTM) 測試需要額外的連接線、及對應的連接的介面，而這些設備通常沒有預留控制線的連接介面；R&S CMW270 無線設備測試儀現在可用空中介面技術 (OTA) 進行低功耗藍牙 (BLE) 設備測試，同樣亦可用來測試 Bluetooth Classic 設備。 R&S CMW270無線設備測試儀為產品研發、量產、與售後服務的經濟型高效能機種 重點應用 Bluetooth-SIG 認證的低功耗 (BLE)、基本速率 (Basic Rate)、和增強型資料率 (EDR) 的藍芽射頻測試儀。 WLAN 11 a / b / g / n / ac / ax SISO 及 MIMO 訊號測試 雙測試儀概念，針對具有 WLAN SISO/MIMO 和藍牙的多標準射頻量測 WLAN 測試應用和可自定義的 R&S CMWrun 測試程序的伺服器 用於藍牙、WLAN、GNSS 和各種廣播技術的通用 ARB 訊號產生器 特點 針對 BLE 的快速 OTA 訊令測試： R&S CMW270 無線設備測試儀以 OTA技術來驗證在操作模式下的 BLE 設備的射頻特性和性能，透過這種方式可確定待測物的訊號電位、調變和接收器靈敏度。 全面性的藍牙 RF 測試，包括 Bluetooth Classic、BLE，以及最新的標準—藍牙5： 使用者可在直接測試模式下進行信令測試，以及在藍牙基本速率 / 增強數據速率 (BR/EDR) 鏈路下的眾多音頻測試 單機即可進行複雜的藍牙、Wi-Fi 和 ZigBee 測試： 採參數測試概念，允許建立特定應用的測試序列，其頻寬已擴展到 160 MHz，這也使 WLAN 射頻測試可涵蓋 IEEE 802.11a/b/g/n/ac 和 802.11ax 標準；此外，R&S CMW270 也可用於常出現在智能家居的 ZigBee 元件的射頻測試 一台測試儀適用於產品生命週期的所有層級與階段 從 RF 到協定層，再到 IP 應用 – 所有層級都包含在一台儀器中，模組化的 R&S CMW 平台涵蓋了從開發到認證和網路優化，直至生產和售後服務的所有測試需求。 無線設備通用測試平台 網路模擬 – 模擬真實條件下的射頻測試儀 在無線設備開發時，必須在真實網路條件下測試通訊介面，R&S CMW270 能夠模擬空中和傳導 (中央/外圍) 以及 WLAN 存取點和站點 (客戶端) 的藍芽連接。 透過遠端控制的自動化測試程序 簡單直覺化操作的藍芽射頻預先合規測試 (prequalification testing) R&S CMW270 支援藍芽低功耗 (BLE)、基本速率 (BR)、和增強型資料率 (EDR) 於預先認證的所有射頻測試案例。 同時支援藍牙和 WLAN 訊號測試 WLAN 訊令測試 - 全面的網路模擬 R&S CMW270 支援在高達 160 MHz 頻寬的 SISO 和 MIMO 操作中進行 WLAN IEEE 802.11 a/b/g/n/ac/ax 訊號測試。 在真實運作條件下進行測試 IP 應用測試和流量分析 – 在完全受控的網路條件下進行測試 得益於深度資料封包檢測 (DPI)，來自於應用軟體的 IP 流量能夠得到可靠的合規性和安全性分析；亦可針對行動裝置以及應用程序的 IP 流量、OTT 行為、和電池壽命進行優化；R&S CMW270 提供高效的環境測試，特別適用於各種技術執行條件複雜的 IP 應用測試。 IP 應用測試和流量分析 影音介紹 WLAN 802.11ax AP and station testing under realistic operation conditions Rohde & Schwarz presents an IEEE 802.11ax test solution for WLAN access points and stations in multi-user operation (OFDMA). The tried and tested R&S®CMW270 Wireless Connectivity Tester can be used to test the RF characteristics of receivers and transmitters, and to determine the data throughput in the transmit and receive directions. The R&S®CMW270 is the reference system for testing IEEE 802.11ax devices under realistic operation conditions. How to measure Bluetooth Low Energy (LE) devices with the R&S®CMW test platform The video demonstrates Bluetooth Low Energy RF measurements with Direct Test Mode (DTM) using the R&S®CMW wireless communications platform and the Nordic nRF52 development kit as an example. Learn how to set up the DTM interface to the device under test and how to set up and perform TX and RX measurements using the multi evaluation mode. How to perform Bluetooth 5 testing with the R&S®CMW test platform The video demonstrates Bluetooth 5 measurements using the R&S CMW270 wireless connectivity tester. Learn how the physical layer has changed with Bluetooth 5 and how to perform transmitter and receiver measurements using the R&S CMW platform. The R&S CMW platform covers all test cases defined by Bluetooth SIG. 檔案下載 IEEE 802.11 Wireless LAN Testing with the R&S®CMW Wideband Radio Communication Tester PDF 下載 Bluetooth® Testing with the R&S®CMW Wideband Radio Communication Tester PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP