VIAVI Solutions | Xgig Flying-Lead Probe for PCI Express® 5.0

Xgig Flying-Lead Probe for PCI Express® 5.0

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Xgig Flying-Lead Probe for PCI Express® 5.0

〈Xgig Flying-Lead Probe 探針〉提供 DUT 與 VIAVI 測試分析平台之間的資料訊號連接。最多可同時使用 4 支 Flying-Lead 探針、支援最高 16 lane 寬度。與 VIAVI Analyzer 搭配使用時，Flying-Lead Probe 探針可用於除錯與驗證新硬體 IC、新系統硬體實作、韌體、系統 BIOS 與軟體驗證，同時支援製造測試（manufacturing test）。

〈VIAVI Xgig® 5P16〉、〈VIAVI Xgig® 5P8〉協定分析/驗證平台，可同時擔任 Analyzer / Jammer / Exerciser，支援 PCIe Gen5、32GT/s、最多達 16 通道；並能串接多台 Xgig 裝置，執行更複雜的 A-J-A 測試，以及與 Ethernet / SAS / FC 等協定整合以因應多協定情境。軟體與韌體完全支援最新 PCIe、NVMe、CXL 規範，並提供 Expert 系統快速定位各層錯誤及 LTSSM 狀態解析。以及其他功能，例如：訊號自動調校、PCIe/NVMe/CXL 裝置與地址檢視、層級效能量測、封包壓縮，以及 Sideband 訊號觸發（PERST#, PEDET#, PEWAKE#, CLKREQ#）。

本產品為 VIAVI Xgig® 5P16、5P8 配件之一：Xgig Flying-Lead Probe 探針

〈Xgig Flying-Lead Probe 探針〉提供 DUT 與〈VIAVI PCIe 系列協定分析/驗證平台〉之間的資料訊號連接，特別適用於無法使用實體連接埠的應用場景。最多可同時使用 4 支 Flying-Lead 探針，Analyzer 可支援最高 16 lane 的資料通道寬度。每支探針配備焊接式探針尖端，可直接連接至 DUT，並支援擷取 1 至 4 lane 的雙向資料，資料速率高達 32GT/s。

探針採用高品質、低損耗電纜，連接至「可更換探針尖端」；纖細、靈活的尖端易於在狹小空間操作，可錯開排列而不產生干擾，且可重複使用，提升測試靈活性。

此外，〈Xgig Flying-Lead Probe 探針〉使用選用時脈探針（Clock Probe）可進一步優化訊號擷取，特別適合擴增時脈（SSC）測試配置，可更有效鎖定輸入訊號，確保資料捕獲的準確性。