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MAP-300 Full Modular Gen 3 Optical Test & Measurement Platform

MAP-300 多應用光學測試平台

從 2001 年作為 VIAVI 一部分發佈的初代應用平台 (MAP) 系统,到全新的第三代 MAP-300 系列,MAP 系统一直是 VIAVI 光學測試解决方案的核心,用於實驗室和製造應用。我們的解决方案能夠滿足用戶當前和未來的需求,為整個產品組合提供了基礎,為製造光網路元件、模組和組件實現了可擴展性和效率。

新的 MAP-300 建立在 MAP 系統已被證明的優勢上,同時在對客戶最重要的領域增加了創新功能。對已安裝的自動化基礎向後兼容及支持,再加上基於 HTML 的 GUI可適用於多用戶環境的若干新特性,幫助客戶實現他們的目標。


  • 提供機櫃安裝型、反向機櫃安裝型以及桌上型主機配置

  • 八插槽(MAP-380)和三插槽(MAP-330)配置

  • 基於HTML的圖形用戶介面(MAP-300 GUI)支持多用戶訪問

  • 支持USB 3.0端口、乙太網以及15.6英吋外接觸控螢幕

  • 可選的GPIB、乙太網端口以及附加USB和觸發器模組

  • 用於自動化編程的SCPI邏輯接口,並可通過乙太網TCP/IP(LXI)、GPIB和直接套接字來支持遠程編程

  • 業界最全面的可熱插拔模組,用於實驗室和生產環境中進行光通訊測試和測量

  • 一般用途光纖實驗室使用

  • 製造測試自動化

  • DWDM/WSS (Wavelength Selective Switches) 測試

  • 連通性IL/RL

  • 偏振加擾和OSNR


 

LightDirect 基礎光學測試模組解決方案


LightDirect 系列包括廣泛的基礎光學測試模組,這些模組用於簡單的桌上型測試應用,也可組合在更大、更多模組構成的客戶驅動自動化測試系統中。它們是易於控制的單功能模組。
MAP 系統具有各式各樣的盒式模組,使我們的客戶能根據他們的具體需求來配置光學測試解決方案
MAP 系統具有各式各樣的盒式模組,使我們的客戶能根據他們的具體需求來配置光學測試解決方案

 

光源和放大器 - 可跨多個波長頻段實現峰值性能的解決方案

  • mTLS - 連續可調雷射光源(C+L波段)

  • mTLG - 可調式DBR雷射(C或L波段)

  • mBBS - 寬帶光源(C或L波段)

  • mEDFA - 摻鉺光纖放大器(C或L波段)

  • mSRC - 通用光源( 850 / 1300 / 1310 / 1490 / 1550 / 1625nm)


光學訊號調節 – 從模擬系統到下一代高速網路,提供全面且成熟的衰減器、控制器和模組系列

  • mVBR – 可調背向反射器

  • mVOA – 可變光衰減器

  • mTFX – 多端口可調濾波器

  • mPCX – 擾偏控制器


光訊號交換和路由 – 管理您的光學設備、交換機和應用程序

  • mOSW/mISW – 光開關解決方案

  • mOSX – 光矩陣開關( M x N )

  • mUTL – 無源通用模組(耦合/分路/合波/分波)

  • Polatis光矩陣開關


光源和頻譜量測

  • mOPM – 光功率計

  • mOSA - 寬帶光譜分析儀

  • mHROSA – 高解析度OSA


其它解決方案

  • mORL - 插入損耗/回波損耗 (OTDR)

  • mOLM - 插入損耗/回波損耗 (OCWR)

  • mSWS - 波長掃描系統

  • OCETS光學元件環境測試系統


 

延伸閱讀


檔案下載

MAP-300多應用光學測試平台 - Datasheet

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MAP系列選型指南

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mTLS - 連續可調雷射光源(C+L波段) - Datasheet

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mTLG - 可調式DBR雷射(C或L波段) - Datasheet

PDF

mBBS - 寬帶光源(C或L波段) - Datasheet

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