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  • Spectrum Control | Weinschel 數位步階衰減器

    Spectrum Control Weinschel 數位步階衰減器 (Weinschel Digital Step Attenuator) - 寬廣的頻率範圍及衰減值 - 高精準度及良好的可靠度 - 500萬次使用壽命 Weinschel Digital Step Attenuator Weinschel 數位步階衰減器 Weinschel Digital Step Attenuator Weinschel 數位步階衰減器 1/1 Spectrum Control Weinschel Digital Step Attenuator Weinschel 數位步階衰減器 一般量測儀器 寬廣的頻率範圍及衰減值 - 高精準度及良好的可靠度 - 500萬次使用壽命 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

  • VIAVI Solutions | MAP mTLS-C2 連續可調雷射源

    VIAVI Solutions MAP mTLS-C2 連續可調雷射源 (mTLS-C2 Continuously Tunable Laser Source - MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser) - 新一代〈MAP系列可調雷射源模組:mTLS-C2 〉是一款連續可調諧的高功率雷射光源,提供長期穩定可靠、低雜訊輸出的雷射效能,並支援 C/L 波段或 O 波段的寬廣調諧範圍。適用於 DWDM、光放大器和矽光子測試等一般應用。 mTLS-C2 Continuously Tunable Laser Source - MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser MAP mTLS-C2 連續可調雷射源 mTLS-C2 Continuously Tunable Laser Source - MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser MAP mTLS-C2 連續可調雷射源 1/1 VIAVI Solutions mTLS-C2 Continuously Tunable Laser Source - MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser MAP mTLS-C2 連續可調雷射源 網路與光通訊傳輸測試 新一代〈MAP系列可調雷射源模組:mTLS-C2 〉是一款連續可調諧的高功率雷射光源,提供長期穩定可靠、低雜訊輸出的雷射效能,並支援 C/L 波段或 O 波段的寬廣調諧範圍。適用於 DWDM、光放大器和矽光子測試等一般應用。 三槽模組的設計,性能卓越、穩定性強;符合研發、新品 NPI 階段 和大規模量產階段的各種應用中,並與 MAP 系列目前提供的 15 多種模組兼容。 重點應用 光放大器測試(增益和雜訊指數) 通道監測校正 DWDM 元件測試 電路板(Circuit Pack)路徑損耗校正 矽光子波導損耗量測 特點 提供 C/L 波段與 O 波段版本的連續可調雷射光源模組 免於不連續的跳躍或突變(Mod-hop free) PM 光纖耦合輸出 1 MHz 光譜線寬 相容於 MAP-300 機箱的三插槽模組設計 高達 11.5 dBm 的高輸出功率,且具備低 ASE 雜訊基底 可進行掃描和設定操作 符合 LXI 標準,具備 IVI 驅動程式 mTLS-C2 為三插槽可調式雷射模組,可安裝於 〈MAP-330 / 380 多應用光學測試平台 〉 中。搭配 MAP-330可在極小體積內提供高效能表現;搭配 MAP-380 則可擴充多達 5 個應用模組插槽,靈活整合光學交換器、功率計與光譜分析等測試設備。 支援 O 波段、C/L波段分析能力:具備 PM 光纖耦合和高輸出功率的連續可調雷射源 mTLS-C2 雷射支援 1255–1350 nm(O 波段) 、與 1480–1635 nm(C/L 波段) 的連續可調輸出,波長解析度精確至 皮米 (picometer)等級。內建可變光衰減器( VOA) 精準功率控制;確保全波段與全功率範圍內的高穩定度、低 ASE 雜訊表現。高輸出功率搭配 PM 光纖耦合,使其在進行波導特性量測時,無需額外配置偏振控制器。非常適合用於矽光子與光波導特性量測,無需額外偏振控制器。 mTLS-C2 符合 LXI 標準,可快速整合至自動化測試系統,並可與高密度 mTLG-C2 格點式可調雷射搭配使用,提供連續調諧能力,滿足研發與量產測試需求。 高效自動化測試: mTLS-C2 的 LXI 標準機箱與SCPI界面 本模組搭載於符合 LXI 標準的 MAP 系列機箱中,可快速且高效率地完成測試自動化。其定位為高密度 mTLG-C2 格點式可調雷射的互補模組,並以可在整個波長範圍內進行連續調諧的能力作為主要差異化特色。 使用設計上,採用 GUI 介面,使用者可在系統層級的工具畫面 / 模組操作介面之間快速切換。系統亦支援完整 SCPI 指令介面,並提供符合 IVI 標準的驅動程式,可輕鬆整合自動化測試系統。 Specifications Sheet 高度模組化光學測試平台 VIAVI MAP-300 多應用光學測試平台 系列,共有 MAP 300、MAP 330、MAP 380 多種款式。是一個模組化、可架設於機架、或桌面的光學測試和量測平台,機箱可容納 2、3 或 8 個應用模組;LightDirect 基礎光學測試模組系列 的模組以其簡單的控制和單一功能特性著稱,無論是單獨使用還是一起使用,它們都可以成為各種光學測試應用的基礎,並可透過網路啟用簡單直觀的多使用者界面。 符合 LXI 標準,並具備完整的 SCPI 的自動化驅動程式和PC端管理工具,VIAVI MAP 平台在實驗室和製造環境中均經過優化;mTLS 是 LightDirect 模組家族的一部分。其他模組還包括:光衰減器、擾偏控制器、光功率計和寬頻光譜分析儀,MAP 系列是理想的模組化平台,適用於光子系統和模組測試。 mTLS 與所有現有的 MAP-300 系列平台相容。 延伸閱讀 瀏覽 VIAVI Solutions 所有技術文章 > 光通訊網路測試解決方案總覽 > 檔案下載 Continuously Tunable Laser Source (mTLS-C2) Data Sheet 2026 (EN) PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • VIAVI Solutions | Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0

    VIAVI Solutions Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 (Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0) - 〈Xgig 4-lane CEM-slot Interposer〉在 PCIe 5.0 32GT/s 的資料率下、以 4 條雙向傳輸通道(bi-directional, 4 lanes) 運作;可在 VIAVI PCIe 5.0 Analyzer/Exerciser/Jammer 平台與待測系統(System Under Test)之間建立連接。此 Interposer 可安裝於許多伺服器、工作站及桌上型電腦常見的 4-lane PCIe CEM 插槽中,並提供主機與端點裝置之間通訊的資料訊號分接(tap),供分析儀擷取。 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 1/1 VIAVI Solutions Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express®5.0 高速匯流排測試 〈Xgig 4-lane CEM-slot Interposer〉 為〈VIAVI Xgig® 5P16〉配件之一;可在 VIAVI PCIe 5.0 與待測系統(System Under Test)之間建立連接。此 Interposer 可安裝於多種伺服器、行動工作站及桌上型電腦常見的 4-lane PCIe CEM 插槽中,並提供主機與端點裝置之間通訊的資料訊號分接(tap),供分析儀擷取。 〈VIAVI Xgig® 5P16〉 、 〈VIAVI Xgig® 5P8〉 協定分析/驗證平台 可同時擔任 Analyzer / Jammer / Exerciser,支援 PCIe Gen5、32GT/s、最多達 16 通道;並能串接多台 Xgig 裝置,執行更複雜的 A-J-A 測試,以及與 Ethernet / SAS / FC 等協定整合以因應多協定情境。軟體與韌體完全支援最新 PCIe、NVMe、CXL 規範,並提供 Expert 系統快速定位各層錯誤及 LTSSM 狀態解析。以及其他功能,例如:訊號自動調校、PCIe/NVMe/CXL 裝置與地址檢視、層級效能量測、封包壓縮,以及 Sideband 訊號觸發(PERST#, PEDET#, PEWAKE#, CLKREQ#)。 本產品為 VIAVI Xgig® 5P16、5P8 配件之一: Xgig 4-lane CEM-slot Interposer 〈Xgig 4-lane CEM-slot Interposer〉在 PCIe 5.0 32GT/s 的資料率下、以 4 條雙向傳輸通道(bi-directional, 4 lanes) 運作;可在 VIAVI PCIe 5.0 Analyzer/Exerciser/Jammer 平台與待測系統(System Under Test)之間建立連接。此 Interposer 可安裝於許多伺服器、工作站及桌上型電腦常見的 4-lane PCIe CEM 插槽中,並提供主機與端點裝置之間通訊的資料訊號分接(tap),供分析儀擷取。 〈Xgig 4-lane CEM-slot Interposer〉採用 high-speed linear redrivers ,用以在 PCIe 插槽與 PCB finger 之間緩衝系統資料訊號,確保能將乾淨且完整的訊號傳送至分析儀與受測裝置(DUT),以進行可靠的協定擷取與分析。 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express® 5.0 特點 支援最多 4-lane 的 PCIe 連結寬度 支援最高 32GT/s 的 PCIe 5.0 資料速率,並向下相容 PCIe 2.5、5.0、8.0、16GT/s 頂部 16-lane CEM 插槽連接器可安裝各類 DUT 轉接卡、底部 4-lane PCB finger 連接器可插入主機測試系統的 4/8/16-lane PCIe 插槽 附高效能客製化纜線,用於連接 VIAVI Analyzer 系統 資料路徑採用 高速線性重驅動器(redrivers),確保在極少調校需求下即可取得良好訊號 透過客製線纜進行 side-band 訊號觸發與擷取 Interposer 電力不依賴於主機系統,附有 120/220V AC 輸入、12V/3A DC 輸出電源轉換器 客製化、可更換的固定支架,確保設備與端點卡穩固安裝、LED 指示燈可快速顯示 電源與運作狀態,設計符合 PCIe Card Electro-Mechanical(CEM)規範 尺寸:深度 180.4 mm × 高度 105.1 mm × 厚度 18.28 mm 可搭配 VIAVI Xgig 5P16 或 5P8 分析平台運作 提供一致且可重複的 Link Training、Equalization Negotiation 與其他協定資料擷取 支援錯誤注入(Error Injection) 以進行深度系統分析 支援 Xgig 工具,包括:Trace Control、Expert™、Serialytics™ 使用示意圖 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express® 5.0 使用示意圖 在 Analyzer 模式下,Interposer 會從上行與下行資料通道擷取(tap)DUT 的資料訊號,傳輸至分析儀。 在 Analyzer/Jammer 模式下,Interposer 會切換資料通道,使資料能進入並從 Xgig 分析系統回傳。 除了這款〈Xgig 4-lane CEM-slot Interposer〉之外,VIAVI 提供多種介面卡以支援不同 PCIe 系統需求,包括 4、8、16-lane CEM、M.2、U.2、EDSFF、Slimline、Flying-lead 等多種規格。 搭配設備: Xgig 5P16 PCI Express 5.0/NVMe/CXL 協定分析/驗證平台 Xgig 5P16 PCI Express 5.0/NVMe/ CXL Analyzer/Exerciser/Jammer Platform for PCI Express 5.0 產品資訊 Xgig 5P8 PCI Express 5.0/NVMe/CXL 協定分析/驗證平台 Xgig 5P8 PCI Express 5.0/NVMe/ CXL Analyzer/Exerciser/Jammer Platform for PCI Express 5.0 產品諮訊 檔案下載 Xgig 4-lane CEM-slot Interposer for PCI Express® 5.0 - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • VIAVI Solutions | MAP mPCX-C1 偏振控制器

    VIAVI Solutions MAP mPCX-C1 偏振控制器 (Polarization Controller (mPCX-C1) - MAP Series high speed polarization scrambler, controller and stabilizer) - 多功能平台 (MAP 系列) 偏振控制模組 (mPCX-C1) 是一個單插槽高速偏振擾偏器、控制器和穩定器,隨著相干調變格式和偏振多路複用 (multiplex) 系統的興起,對於理解這些訊號的偏振狀態與單模光纖的互動方式產生了新的需求;mPCX-C1 模組實現了這些測試,不僅適用於實驗室,還可以應用於將這些測試引入製程中。 Polarization Controller (mPCX-C1) - MAP Series high speed polarization scrambler, controller and stabilizer MAP mPCX-C1 偏振控制器 Polarization Controller (mPCX-C1) - MAP Series high speed polarization scrambler, controller and stabilizer MAP mPCX-C1 偏振控制器 1/1 VIAVI Solutions Polarization Controller (mPCX-C1) - MAP Series high speed polarization scrambler, controller and stabilizer MAP mPCX-C1 偏振控制器 網路與光通訊傳輸測試 多功能平台 (MAP 系列) 偏振控制模組 (mPCX-C1) 是一個單插槽高速偏振擾偏器、控制器和穩定器,隨著相干調變格式和偏振多路複用 (multiplex) 系統的興起,對於理解這些訊號的偏振狀態與單模光纖的互動方式產生了新的需求;mPCX-C1 模組實現了這些測試,不僅適用於實驗室,還可以應用於將這些測試引入製程中。 mPCX-C1 的核心組件是8個1/4波片 (wave-plates) 串聯而成,這些波片採用鈮酸鋰(Lithium-Niobate) 材料製作而成,可應對最苛刻偏振管理應用所需的響應時間,這些波片可高速旋轉且無需復位(無限旋轉),以控制偏振狀態(SOP)。 mPCX-C1 模組提供了簡單的、預先定義、速率可程式化、和偏振擾偏模式,可實現高達3M rad/s的速率;另外,使用者還可上傳自定義擾偏模式表格,以實現客製化的擾偏模式;透過專有的 SOP(偏振狀態)反饋選項,還可以解鎖兩個功能,首先,該功能會監測環境中可能引起偏振狀態變化的因素 (例如溫度變化、震動、光照強度變動等),並自動調整以保持所設定的偏振狀態穩定;其次,使用者可以通過簡單的設定,自動產生獨特的擾偏模式。 mPCX模組為LightDirect系列模組的一部分,專注於高速偏振擾偏、控制和穩定化,它的功能包括多種預設模式、速率可程式化的偏振擾偏,以及支援自定義的擾偏模式;除了mPCX以外,LightDirect系列還包括眾多其他模組,例如光源、可調衰減器、功率計和頻譜分析儀等。 重點應用 光子通訊測試自動化 支援100G+相干介面測試 用於測量損耗、增益和偏振相依損耗 (PDL) 的時域去偏器 穩定並追踪目標偏振狀態(SOP) 特點 高速偏振擾偏器,速率可編程從1.00 rad/s 到 3.00 Mrad/s 支援C/L、O和All-band,在插入損耗小於3dB的情況下工作 透過設計實現均勻擾偏,與不會受到輸入偏振狀態的影響,確保測試的穩定性和一致性 提供6種高級擾偏模式,包括瑞利 (Rayleigh)、隨機和環形模式 使用專有的SOP反饋選項,實現偏振穩定和恢復至特定狀態 透過典型的波片實現手動偏振控制 設計精巧,僅需單插槽模組 mPCX-C1:直接波片控制和擾偏的高速偏振調節模組 mPCX-C1 有兩種基本的操作模式: 直接波片 (Wave-plate) 控制 在波片模式下,可以直接控制每個波片的角度,可以設定靜態角度或旋轉速度,使用者可以在兩種控制模式之間進行選擇:兩個四分之一波片(Q-Q配置)、或兩個四分之一波片與半波片相結合(Q-H-Q配置),提供對每個元件的完全控制,並且使用者設定可以保存並作為預設值召回。 MAP-300 手動偏振控制介面 擾偏 提供六種預定義的擾偏模式,以及一種使用者自定義模式;擾偏模式根據三個特徵進行區分:SOP 變化的速率、以邦加球 (Poincare sphere) 顯示的角度變化分布,以及邦加球的覆蓋範圍。 MAP-300擾偏偏振控制介面 優化的直覺化圖形使用者介面,適用於實驗室或製造環境,摘要視圖和詳細視圖之間的高效切換,使用者可以在系統層面操作、或者利用模組的全部功能。 mPCX MAP-300摘要視圖介面 mPCX MAP-300詳細視圖介面 SOP反饋功能:自動環形對齊與狀態追蹤功能 SOP 反饋是實現輸出偏振狀態監測的選項,雖然不是完整的偏振計,但這個選項以非常具有成本效益的方式啟用了幾個關鍵功能。 自動環形對齊 通過赤道的大圓線 (球體表面上的最短曲線距離) 是一種獨特且強大的擾偏模式,然而,它需要非常特定的輸入偏振狀態;啟用 SOP 反饋功能後,mPCX-C1 會自動進行調整,以確保在無需手動干預或外部反饋的情況下實現此模式。 自動環形對齊 狀態追蹤與返回 保持或返回到特定的偏振狀態也是以被實現的,在測試案例要求在特定偏振狀態和擾偏之間交替,或者需要進行長期測試且不希望SOP漂移時,這將非常有用。 在啟用穩定模式的情況下,標記的偏振狀態可以被保持。 擾偏的動態特性 - 六種預設模式與使用者自定義選項 mPCX-C1 提供六種預定義的擾偏模式,以及一種使用者自定義模式,這些模式允許使用者根據需要調整擾偏的複雜程度,擾偏的複雜程度取決於速率分佈和球面覆蓋範圍。 隨機擾偏模式 隨機擾偏的特點是均勻覆蓋邦加球,SOP 的連續變化可以產生高達 3 Mrad/s 和低至 1 rad/s 的變化率,對於需要快速去偏振的應用,此模式在小於 10μs 內可以產生小於 5% 的 DOP(度偏率)。 隨機擾偏模式 瑞利分佈模式 此模式偏振狀態的變化將涵蓋邦加球(Poincaré sphere)的所有可能位置,即時的變化率遵循瑞利分佈,偏向於較低的變化率,但偶爾也會出現非常高的變化率;可以透過改變分佈的平均值來修改此模式,此模式通常用於光纖擬真。 瑞利分佈模式 環形模式(最好配合 SOP 反饋使用) 理想的環形模式在邦加球上形成大圓軌跡,並沿著這個大圓線不斷環繞整個邦加球,它產生單一恆定的 ΔSOP 頻率,對於具有 SOP 反饋的模組,環形軌跡可以自動對齊,以建立大圓模式;在開環運行中,環的方向是根據輸入的偏振狀態進行變化,此模式非常適合產生帶有恆定 ΔSOP 特徵的去偏振訊號。 環形模式(最好配合SOP反饋使用) 極性環形模式(最好配合 SOP 反饋使用) 當在自動對齊的環形模式的基礎上添加額外的旋轉成分時,就形成 "極性環形模式"(Polar Ring Pattern),在極性環形模式中,除了恆定的 ΔSOP 特徵外,其優點是隨著大圓(great circles)的旋轉,可以完全覆蓋所有偏振狀態。 極性環形模式(最好配合SOP反饋使用) 振蕩環形模式(最好配合 SOP 反饋使用) 振蕩環形模式將一個速率成分添加到環形模式,使得偏振狀態(SOP)呈現從北極到南極的過渡過程;此模式也具有完整的球面覆蓋,且會隨著環形運動的直徑變化而改變,增加了額外的複雜性,使 ΔSOP 變化率隨之變化。 振蕩環形模式(最好配合SOP反饋使用) 隨機環形模式 隨機環形模式是極性環形模式和振蕩環形模式的結合,它與完全隨機模式非常相似;這個模式非常適合用於需要逐步增加偏振狀態(SOP)變化速率複雜性的測試案例。 隨機環形模式 離散模式(使用者自定義散射) 這個模式可以讓使用者建立高達1000個的自定義表格,並且可以逐步選擇這些狀態進行操作。這些選定的狀態允許使用者創建並根據需要自由組合和設置不同的偏振狀態,以達到特定測試目的。 延伸閱讀 瀏覽 VIAVI Solutions 所有技術文章 > 光通訊網路測試解決方案總覽 > 檔案下載 Polarization Controller (mPCX-C1) Datasheet PDF 下載 MAP-Series Selection Guide PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • Rohde & Schwarz | LCX 系列 LCR 錶

    Rohde & Schwarz LCX 系列 LCR 錶 (LCX LCR meter) - R&S LCX LCR 錶功能多樣,能夠非常準確快速地執行量測。提供兩種儀器型號和多種選配,測試訊號頻率高達10 MHz,可用於廣泛的應用。內部和外部偏壓功能、豐富全面的分析選配和多功能測試治具進一步擴展了儀器適用的應用範圍。 LCX LCR meter LCX 系列 LCR 錶 LCX LCR meter LCX 系列 LCR 錶 1/1 Rohde & Schwarz LCX LCR meter LCX 系列 LCR 錶 一般量測儀器 R&S LCX LCR 錶功能多樣,能夠非常準確快速地執行量測。提供兩種儀器型號和多種選配,測試訊號頻率高達 10 MHz,可用於廣泛的應用。內部和外部偏壓功能、豐富全面的分析選配和多功能測試治具進一步擴展了儀器適用的應用範圍。 螢幕上可同時顯示最多四個量測參數及其設定值 重點應用 電路板研發設計 研究型實驗室 品質驗證管理 生產應用 特點 快速、精確、功能多樣 高解析度觸控螢幕 可選頻率範圍 測試訊號滿足所有要求 直流偏置 量測功能 資料記錄功能 以圖形方式顯示量 儲存和載入儀器設定 進階儀器設計:體積小巧,靜音操作 量測功能 R&S LCX LCR 錶除了提供兩種型號,多種不同的阻抗量測功能之外,還可以透過直流電壓量測變壓器和電阻。螢幕至多可同時顯示四個量測參數,並且可以根據選單成對選擇多個量測參數。 成對選擇多個量測功能 擴展偏壓功能 (R&S LCX-K108) R&S LCX100 和 R&S LCX200 標配為可以生成最高 10 V 的內部直流偏置電壓。R&S LCX-K108 選配進一步擴大了應用範圍。透過 LCR 錶後儀錶板上的外部偏壓輸入埠,可以提供更大的電壓範圍。此外,可在電流調節模式下運作,且可調電流高達 200 mA。 後儀錶板上的外部偏置電壓輸入埠 圖形方式顯示量測 R&S LCX LCR 錶的大螢幕還可用於顯示圖形。使用者至多可以選擇四種量測功能並繪製時間圖,還可以標記最小值和最大值。 高解析度螢幕還可用於顯示圖形。示例圖顯示電容器阻抗量測的曲線。 影音介紹 檔案下載 LCX 系列 LCR 錶 - Brochure PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • NetAlly | Link-Live™ AirMapper™ 無線網路勘察數據分析、協作平臺

    NetAlly Link-Live™ AirMapper™ 無線網路勘察數據分析、協作平臺 (Link-Live™ AirMapper™ Wireless Network Site Survey, Data Analysis, Collaboration Platform) - 本平台不僅只是簡單地驗證射頻覆蓋,還能以視覺化形式呈現連線速度、SNR、雜訊比、同頻干擾、鄰頻干擾實際的網路情形,亦可實現整個團隊之間的協作,與他人自由共用勘查數據。 Link-Live™ AirMapper™ Wireless Network Site Survey, Data Analysis, Collaboration Platform Link-Live™ AirMapper™ 無線網路勘察數據分析、協作平臺 Link-Live™ AirMapper™ Wireless Network Site Survey, Data Analysis, Collaboration Platform Link-Live™ AirMapper™ 無線網路勘察數據分析、協作平臺 1/1 NetAlly Link-Live™ AirMapper™ Wireless Network Site Survey, Data Analysis, Collaboration Platform Link-Live™ AirMapper™ 無線網路勘察數據分析、協作平臺 網路與光通訊傳輸測試 無線網路勘查的數據龐大且複雜,需要一個專業且強大的分析平台,針對數據進行進一步的分析和驗證 802.11 無線網路以實現最佳性能並確保網路安全和合規性,以實現成功的無線網路部署。 本平台不僅只是簡單地驗證射頻覆蓋,還能以視覺化形式呈現連線速度、SNR、雜訊比、同頻干擾、鄰頻干擾實際的網路情形,亦可實現整個團隊之間的協作,與他人自由共用勘查數據。 生成訊號、SNR、AP、相鄰通道和同通道干擾、Tx/Rx 速率、Client、藍牙等覆蓋範圍。 使用 InSites™ 智能自動識別常見的 Wi-Fi 網路問題 整合收集到的Channel/AP/SSID/BSSID/Client/藍牙設備等相關資訊。 通過數據的分析,定位出AP的位置 主要特點 生成 Wi-Fi 訊號覆蓋熱圖 Link-Live AirMapper具有一套完整的預配置 視覺化功能可幫助您確保覆蓋範圍、連線性和性能。調整閾值可顯示測量指標不符合網路要求的區域。Link-Live 的 "自動縮放 "功能可提供更多的功能提供了更多的細微性和關鍵 Wi-Fi 指標變化的即時可見性;預配置熱圖: 訊號(dBm) 雜訊(dBm) 訊雜比(dB) 同頻干擾 鄰頻干擾 接入點覆蓋範圍 最小基本速率(Mbps) 信標開銷 最大發送、最大接收速率 最大、最小 MCS InSites 無需成為專家來分析WiFi熱圖並識別無線網路問題。現在使任何人都可以使用 Link-Live AirMapper上的新 InSites 智慧輕鬆快速地識別 WiFi 網路問題。InSites通過自動將現場收集的勘測數據與一組預定義的閾值進行比較,在熱圖上提供可視化的通過或失敗指示,從而簡化了WiFi網路故障排除的過程。 整合設備資訊 Link Live AirMapper會將收集到的設備資訊,以分類的形式呈現,可以讓資訊人員透由分類有效的找到需要的資料,分類的種類有Channel、BSSID、AP、SSID、Client、藍牙,並且將相關的資訊以超連結的方式表達,如此一來資訊人員能透由超連結查看,這對於資訊人員是個好消息,因為資訊人員不用再花大量的時間將相關的資訊整合起來,例如下圖的第一個AP有1個SSID,2個 BSSID,這兩項資訊都有超連結,可以點擊看到更詳細的資料。 AP 定位 無線AP不像有線的網路設備會集中在機房或特定的場所,無線AP一旦開始佈建,動輒數十顆甚至上百顆,為了達到良好的訊號覆蓋,無線AP都是分散在各個地點,隨著時間的久遠或是人員的交替,無線AP當初佈建位置的資料已經遺失,亦或者資訊公司維護的無線網路並非自己架設,這時候如何能快速將所有AP定位是十分重要的事,畢竟除了維護設備尚有資產保管的問題。 Link Live AirMapper分析完數據後,可以根據每個AP的訊號強弱判斷出AP的所在位置,並且定位在熱圖上。 數據安全 所有的身份驗證調用都通過256位AES擴展驗證SSL加密 進行 使用 SHA-512 和 HMAC 哈希演算法的高熵密碼安全性 使用第三方服務對Link-Live雲服務進行定期的漏洞掃描 延伸閱讀 NetAlly 滲透測試及網路測試總覽 > NetAlly 產品規格比較表 > 瀏覽 NetAlly 所有技術文章 > 翔宇科技是 NetAlly 在台灣地區的總代理 我們擁有專業的技術團隊,為您提供全方位的支援和服務。作為您可靠的合作夥伴,我們致力於為客戶提供優質的產品和解決方案,以滿足您的網路測試和分析需求,並 協助您充分利用 NetAlly 的產品和技術優勢、輔以各種實際應用案例與情境分享 ;我們期待與您建立長期合作夥伴關係,共同實現成功和創造價值。 檔案下載 LinkLive & AirMapper Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • NetAlly | AirCheck G2 掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀

    NetAlly AirCheck G2 掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀 (AirCheck G2 Wi-Fi Tester (DISCONTINUED)) - 通過NetAlly AirCheck G2 無線網路測試儀 (Wireless Analyzer) 的直觀使用者介面可收集網路資訊並按結果做出相應改善、簡單地進行無線網路的認證和故障排除。 AirCheck G2 Wi-Fi Tester (DISCONTINUED) AirCheck G2 掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀 AirCheck G2 Wi-Fi Tester (DISCONTINUED) AirCheck G2 掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀 1/1 NetAlly AirCheck G2 Wi-Fi Tester (DISCONTINUED) AirCheck G2 掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀 網路與光通訊傳輸測試 透過 NetAlly AirCheck G2 無線網路測試儀的直觀使用者介面可收集網路資訊並按結果做出相應改善、簡單地進行無線網路的認證和故障排除。提供完整和準確的網路資訊讓不同技術等級的網管人員都可以快速地修復網路連通及性能等問題。 立即得知AP、SSID、Channel、Client的情況 重點應用 NetAlly AirChek G2 無線網路測試儀提供“一鍵自動測試”,能快速測試Wi-Fi 環境並識別常見問題,測試結果以“合格/不合格”方式顯示 結合 NetAlly AirMapper™ 現場勘測 APP,可以更快、更輕鬆地進行Wi-Fi網路現場勘測 測試最普遍通用的 Wi-Fi 標準(包括 802.11ax);本設備是一台堅固的手持無線網路專業測試工具 所在地點的網路和設備開啟後馬上被偵測到 查看測試結果,其中包括可用的網路、連通性、使用率、傳輸量、安全設定、非法終端的搜尋以及干擾源偵測 特點 自動測試 AirMapper 現場勘測APP 無線接入點發現 網路發現 頻道使用率及干擾 網路連通測試 乙太網路測試(含PoE) 自動測試結果管理 自動測試 802.11使用率/非802.11使用率/同頻干擾/鄰頻干擾/網路品質/非法AP 一鍵自動完成 AirMapper 現場勘測 APP 結合 AirMapper 現場勘測 APP,AirCheck G2 用戶現在可以快速、輕鬆地收集基於位置的 Wi-Fi 測量資料,並在 Link-Live 雲端服務或 AirMagnet Survey PRO 中創建關鍵性能指標的視覺化熱圖。 透由Link-Live產出訊號熱圖 網路連通測試 一旦連接上網路後,可進行漫遊測試以確保網路漫遊功能,使用者也可以進行 iPerf 性能測試以認證網路的傳輸量。 各種性能測試 影音介紹 快速連結 NetAlly 滲透測試及網路測試總覽 > NetAlly 產品規格比較表 > 瀏覽 NetAlly 所有技術文章 > 檔案下載 AirCheck G2掌上型 Wi-Fi 無線網路測試儀 - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • Granite River Labs | USB Type-C® Power Delivery EPR 測試分析儀 C2-EPR

    Granite River Labs USB Type-C® Power Delivery EPR 測試分析儀 C2-EPR (GRL USB Type-C® Power Delivery Tester and Analyzer – EPR (GRL-USB-PD-C2-EPR)) - GRL-USB-PD-C2-EPR (C2-EPR)支援自動化測試,可一鍵執行高達240W的USB Power Delivery一致性測試。全面的API組合讓使用者能夠運行腳本範例,亦可使用C#和Python對其進行程式設計。Power Suite Pro應用程式更讓使用者體驗不同以往的一致性測試。 GRL USB Type-C® Power Delivery Tester and Analyzer – EPR (GRL-USB-PD-C2-EPR) USB Type-C® Power Delivery EPR 測試分析儀 C2-EPR GRL USB Type-C® Power Delivery Tester and Analyzer – EPR (GRL-USB-PD-C2-EPR) USB Type-C® Power Delivery EPR 測試分析儀 C2-EPR 1/1 Granite River Labs GRL USB Type-C® Power Delivery Tester and Analyzer – EPR (GRL-USB-PD-C2-EPR) USB Type-C® Power Delivery EPR 測試分析儀 C2-EPR 一般量測儀器 高速匯流排測試 完美整合USB Power Delivery認證測試的分析儀 隨著快充充電率的提高和連通性變得更複雜,充電技術的測試和驗證也變得越來越昂貴與耗時。 GRL-USB-PD-C2-EPR (C2-EPR)支援自動化測試,可一鍵執行高達240W的USB Power Delivery一致性測試。全面的API組合讓使用者能夠運行腳本範例,亦可使用C#和Python對其進行程式設計。Power Suite Pro應用程式更讓使用者體驗不同以往的一致性測試。 主要功能 支援高達至240W的Power Delivery 3.1規範 C2-EPR 支援最新的USB Power Delivery 3.1、3.2 規範,無論是Sink還是Source設備皆可以使用其進行完整的測試和驗證。該裝置亦完全向下相容傳統的100W Power Delivery測試規範。 使用Power Suite Pro、API和腳本範例對Sink和Source產品進行模擬 使用Power Suite Pro應用程式輕鬆模擬兩個端口中的Sink與Source。免費提供大量API和腳本範例,更可以使用C#和Python設計自己的腳本。 輕鬆讀取產品資訊 獨特的產品資訊讀取能力可以幫助使用者輕鬆且快速地瞭解PD產品的功能與特性,使VIF (Vendor Info File)的建立與確認更加便利。 全自動認證測試模式 簡單直觀的軟體介面有助於輕鬆操作軟體,只需一鍵即可執行完整的認證測試項目。 DP Alt Mode和Quick Charge™測試 支援DisplayPort ™和Thunderbolt Alt Mode測試,包括Vconn和Vbus同時負載,並整合Qualcomm® Quick Charge™ 5和Legacy測試。 支援 IEC 62368-1/IEC 61784-3 功能安全測試 遵照 IEC 62368-1/IEC 61784-3 規範自動化執行功能安全測試,用於驗證其端口支援100W功率以上的供電設備 (PSE)、線纜與接收端設備 (PD)。 簡易使用 憑藉其高度直觀的使用者介面,只需點擊幾下即可在C2-EPR上自動化運行一致性測試。不需要額外的硬體,如電源、電子負載與示波器等。 軟體與配件 GRL-USB-PD-C2-EPR -包含C2-EPR測試儀、USB PD認證測試軟體與API支援 GRL-USB-PD-C2-QC4F - QC4和QC4相容性認證測試軟體 GRL-USB-PD-C2-TBT - 包含Thunderbolt Power測試治具(GRL-USB-PD-FCB)與軟體金鑰 GRL-USB-PD-C2-FC - 包含GRL USB Type-C®功能認證測試治具(GRL-USB-PD-FCB)與軟體金鑰 檔案下載 GRL-USB-PD-C2-EPR_IEC Safety Testing User Guide (EN).pdf PDF 下載 GRL-C2_C2-EPR_Browser App User Guide (EN).pdf PDF 下載 GRL-USB-PD-C2-EPR Datasheet (繁中).pdf PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • Rohde & Schwarz | RTO2000 系列示波器 (600MHz - 6GHz)

    Rohde & Schwarz RTO2000 系列示波器 (600MHz - 6GHz) (RTO2000 oscilloscope (600 MHz to 6 GHz)) - R&S®RTO系列為高階示波器,頻寬分別為600MHz、1GHz、2GHz、3GHz、4GHz和6GHz,具有2或4通道選擇。提供高達20GS/s的取樣率和2Gsample儲存深度。 RTO2000 oscilloscope (600 MHz to 6 GHz) RTO2000 系列示波器 (600MHz - 6GHz) RTO2000 oscilloscope (600 MHz to 6 GHz) RTO2000 系列示波器 (600MHz - 6GHz) 1/1 Rohde & Schwarz RTO2000 oscilloscope (600 MHz to 6 GHz) RTO2000 系列示波器 (600MHz - 6GHz) 一般量測儀器 R&S RTO系列為高階示波器,頻寬分別為 600MHz、1GHz、2GHz、3GHz、4GHz 和 6GHz,具有 2 或 4 通道選擇。提供高達 20GS/s 的取樣率和 2 Gsample儲存深度。 RTO 2000系列示波器提供600 MHz至6 GHz的頻寬,在時域和頻域測試需求方面均表現出色。憑藉出色的訊號保真度,1M波形/秒的響應能力和高達16位元的垂直解析度,可以放心地快速進行測量。帶有SmartGrid的電容式觸控螢幕可以輕鬆直觀地使用。 最高達20GS/s的取樣率,2Gpts儲存深度 最低1mv/div的高垂直靈敏度 最高16位元垂直電壓解析度 100萬 waveforms/s 的實時取樣率 MSO : 16路數字通道可升級與快速安裝 具有手勢支持的12.1"高分辨率電容式觸控螢幕 專為應對多領域挑戰而設計 頻譜分析 EMI調試 集成任意波形產生器 串型協議 : 輕鬆觸發和解碼 自動化一致性測試 具有高級抖動分析的訊號完整性測量 產品規格 檔案下載 RTO2000 示波器系列 - Brochure PDF 下載 RTO2000 示波器系列 - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • VIAVI Solutions | CleanBlastPRO 自動光纖端面清潔系統

    VIAVI Solutions CleanBlastPRO 自動光纖端面清潔系統 (CleanBlastPRO Auto Fiber End-face Cleaning System) - CleanBlastPRO Auto Fiber End-face Cleaning System CleanBlastPRO 自動光纖端面清潔系統 CleanBlastPRO Auto Fiber End-face Cleaning System CleanBlastPRO 自動光纖端面清潔系統 1/1 VIAVI Solutions CleanBlastPRO Auto Fiber End-face Cleaning System CleanBlastPRO 自動光纖端面清潔系統 網路與光通訊傳輸測試 CleanBlastPRO™ 是 VIAVI Solutions 專為光纖大量製造與高一致性品質需求所設計的自動化光纖端面清潔系統,特別適用於光纖元件製造商、連接器與模組廠、系統整合商及資料中心相關設備產線。 光纖在實際生產與組裝流程中,光纖的端面極易因粉塵、殘留物或人為操作而受到污染,進而影響光學效能與良率;CleanBlastPRO 可直接部署於產線、測試站或實驗室,做為標準化清潔流程的一環,確保每一次連接前的光纖端面都維持在最佳狀態。 CleanBlastPRO 內建溶劑儲存槽與空氣過濾系統,搭配清潔手持裝置與 6 英尺連接管線,可靈活應用於各種工作環境。系統透過自動化清潔機制,減少人工操作差異,提升清潔一致性,同時降低耗材浪費與人為失誤風險。自備直覺化的 LCD 螢幕操作介面,讓現場人員無需複雜設定即可快速上手,適用於高產量、快節奏的製造現場。 只要連接至既有氣源,CleanBlastPRO 即可清潔多種不同規格與類型的光纖端面,滿足從元件製造、模組組裝到系統整合等多元應用場景。是兼顧效率、穩定性與產線整合彈性的關鍵清潔解決方案。 產品功能與優勢 採用精準的非接觸式「空氣-溶劑-空氣」清潔流程,高效噴除污染顆粒與雜質,而非擴散或嵌入端面 提供完整的精密清潔噴頭選項,適用於多數光纖連接器類型 採用 3M™ Novec™ 72DA,業界最受信賴且高效的光纖端面清潔溶劑 一鍵自動化完成連接器清潔,並具備循環功能,簡化生產環境中的清潔流程 高效能空氣過濾系統 簡便、無負擔的溶劑管理機制 支援第二組氣源、腳踏啟動開關與背板式手持裝置 降低清潔耗材(清潔布、清潔筆、棉棒等)消耗 應用場景 光學元件生產環境 線纜組裝代工製造 光學系統組裝 檔案下載 CleanBlastPRO - Data Sheets - en PDF 下載 CleanBlastPRO - User Guide Manuals - User Guides - en PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

  • Total Phase | SPI Development Kit

    Total Phase SPI Development Kit (SPI Development Kit - for developing and debugging an SPI bus on an embedded system) - 〈SPI Development Kit〉整合了 Total Phase 業界領先的 SPI 開發工具和常用配件。無論是初學者、專業開發人員,都能輕鬆使用於嵌入式系統的 SPI 匯流排開發和驗證。〈SPI Development Kit〉可用於測試目標 SPI 設備、模擬 SPI 主設備或從設備、對基於 SPI 的 Flash 設備進行編程和驗證,並以低至 20 ns 即時被動監控 SPI 匯流排。 SPI Development Kit - for developing and debugging an SPI bus on an embedded system SPI Development Kit SPI Development Kit - for developing and debugging an SPI bus on an embedded system SPI Development Kit 1/1 Total Phase SPI Development Kit - for developing and debugging an SPI bus on an embedded system SPI Development Kit 高速匯流排測試 〈SPI Development Kit〉整合了 Total Phase 業界領先的 SPI 開發工具和常用配件。無論是初學者、專業開發人員,都能輕鬆使用於嵌入式系統的 SPI 匯流排開發和驗證。 〈SPI Development Kit〉可用於測試目標 SPI 設備、模擬 SPI 主設備或從設備、對基於 SPI 的 Flash 設備進行編程和驗證,並以低至 20 ns 即時被動監控 SPI 匯流排。 〈SPI Development Kit〉包含: Cheetah SPI Host Adapter Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer High-Speed SPI Flash Demo Board 6ft USB-A to USB-B Cables 10-Pin Split Cables 重點應用 將 I2C 匯流排上的目標設備用作主設備 (master) 模擬 I2C 主設備 (master) 或從設備 (slave) I2C 儲存設備的編寫與驗證 實時被動監控 I2C 匯流排,位元級 (bit-level) 時序可達 20 ns 特點 Cheetah SPI 封包產生器 SPI 主控端頻率高達 40+ MHz 利用訊息佇列以實現最大吞吐量 流水線式架構,讓訊號無縫切換 精確計時和使用者可插入的延遲 支援最多 3 個 slave 快閃記憶體/EEPROM編程:系統內編程或獨立編程 Beagle I2C/SPI 協定分析儀 以非侵入式方式監控高達 4 MHz 的 I2C 匯流排 以非侵入式方式監測高達 24 MHz 的 SPI 訊號 以非侵入式方式監測高達 2.5 MHz 的 MDIO 位元級定時精度可達 20 ns 分辨率 即時資料擷取和顯示 - 即時觀察匯流排上的 I2C 和 SPI 資料包 查看 I2C 和 SPI 協定級解碼封包以及 I2C 和 SPI 特定的錯誤代碼值 幾乎無限的採集-擷取的資料透過高速 USB 直接傳輸到電腦 完全相容於 Windows、Linux 和 Mac OSX 系統 搭配設備: Aardvark I2C/SPI 封包產生器 Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer - for developing an I2C, SPI, or MDIO based product 產品資訊 Cheetah SPI 封包產生器 Cheetah SPI Host Adapter - communicate with high-speed, SPI-based flash memory 產品資訊 Beagle I2C/SPI 協定分析儀 Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer - for developing an I2C, SPI, or MDIO based product 產品資訊 延伸閱讀 Total Phase I2C/SPI主機轉接器和協定分析儀的詳細比較 > 瀏覽 Total Phase 所有技術文章 > 匯流排協定測試解決方案總覽 > 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

  • Bird | BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀

    Bird BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀 (BN1000 6.5/8.5 GHz Modular Vector Network Analyzer ) - Bird 的 BNA1000 向量網路分析儀,透過 Bird 創新的 PC 控制設計,將儀器內常見的複雜資料處理需求轉移到複雜的軟體平台。 BN1000 6.5/8.5 GHz Modular Vector Network Analyzer BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀 BN1000 6.5/8.5 GHz Modular Vector Network Analyzer BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀 1/1 Bird BN1000 6.5/8.5 GHz Modular Vector Network Analyzer BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀 一般量測儀器 VNA 測試的準確性與敏捷性 Bird 的 BNA1000 向量網路分析儀,透過 Bird 創新的 PC 控制設計,將儀器內常見的複雜資料處理需求轉移到複雜的軟體平台。 Bird 提供了適合各種測試環境的高效且多元 VNA 解決方案。BNA1000 具備高吞吐量,可取代昂貴且笨重的生產測試系統;BNA1000 配備 Bird 直觀的使用者介面軟體,包括 BNA1000 應用程式介面(API),並支援標準化 SCPI 命令集,有助於跨各種程式環境,輕鬆實現 VNA 校準、測量 、軌跡 線顯示和資料匯出的自動化。 重點應用 教育實驗室 製造測試 被動/主動元件評估 RF 射頻和微波產品設計 濾波器設計與測試 故障排除定位 天線調整 品管與進貨檢驗 特點 BNA1000 是使用者友善的圖形介面 VNA 測量和校準軟體。透過外部 PC 透過 USB 控制 BNA1000,搭配軟體透過簡單的導航、高效的資料分析工具,簡化了使用者的測試流程,從而提高工作效率。 擁有將測量和繪圖格式視覺化的功能、並支援各種射頻測試場景,並為精確的數據分析提供實用且簡化的體驗。 測量速度提升: BNA 1000 具備快速掃描、快速資料處理,符合大量生產過程的高吞吐量需求,縮短整體測試時間,並提高了生產效率 。 準確性和重複性 : 具備可靠且一致的測量精準度, 提供多個測試和裝置上重複使用。 易於校正 : 簡化校正過程,同時維持精準度,不需要大量人力操作干預 。 自動化測試能力 : BNA 1000 可以與自動化測試系統整合,以及透過軟體進行控制,自動確定通過/失敗,簡化製造流程 。 更強的耐用性和穩定性: BNA 1000 堅固可靠,並且維護停機時間更低,能被更廣泛使用。 多種連接選項: 具備 LAN、GPIB 或 USB 連接等功能,利於整合 VNA 工作與其他製造測試工作。 使用者友善的介面: 新的設計使用直覺的介面",有助於減少培訓時間和錯誤,更利於人機互動。 新尺寸: 精密的便攜式設計,機動性更強,更利於使用者在各種測試環境中使用。 多埠功能: 具有多個測試連接埠,可簡化 VNA 測試流程與時間。 規格 2 或 4 連接埠、300 kHz 至 6.5/8.5 GHz S 參數測量 > 125 分貝動態範圍 -50 至 +10 dBm 輸出功率 0.002 dB RMS 軌跡線 噪音 42 us/點 快速測量速度 使用門控進行時域分析 包含使用者介面軟體 使用需求 主機系統需求:Windows 7 以上版本 電腦硬體:CPU 頻率為 1.5 GHz,最低 1 GB RAM 介面:USB 2.0 或更高版本 使用情境: 時域分析 BNA 100 可以提供對各種電子元件和系統隨時間變化的行為的詳細見解。此分析將頻域資料轉換為時域訊息,為被測設備(DUT)提供不同且往往更具洞察力的視角。 使用情境:極限與紋波極限測試 這兩種測試都是評估被測設備(DUT)在指定頻率範圍內的均勻性和穩定性的重要工具。極限測試提供了對各種參數的廣泛評估,而紋波極限測試則深入研究通帶性能的細節。 BNA1000 透過為每個顯示圖定義六個限制線段,來簡化這些測試 。 使用情境: 被動元件評估與測試 對於先進的通訊系統,濾波器、組合器、開關和傳輸線等被動元件的性能至關重要。這些元件在其通帶內表現出低紋波和最小插入損耗,同時在其阻帶中表現出高抑制比。 檔案下載 BNA1000 6.5/8.5 GHz 模組化向量網路分析儀 PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

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