MAP mTLS-C2 連續可調雷射源
MAP mTLS-C2 連續可調雷射源
mTLS-C2 Continuously Tunable Laser Source - MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser
MAP mTLS-C2 連續可調雷射源
新一代〈MAP系列可調雷射源模組：mTLS-C2 〉是一款連續可調諧的高功率雷射光源，提供長期穩定可靠、低雜訊輸出的雷射效能，並支援 C/L 波段或 O 波段的寬廣調諧範圍。適用於 DWDM、光放大器和矽光子測試等一般應用。 三槽模組的設計，性能卓越、穩定性強；符合研發、新品 NPI 階段 和大規模量產階段的各種應用中，並與 MAP 系列目前提供的 15 多種模組兼容。
重點應用
光放大器測試（增益和雜訊指數）
通道監測校正
DWDM 元件測試
電路板（Circuit Pack）路徑損耗校正
矽光子波導損耗量測
特點
提供 C/L 波段與 O 波段版本的連續可調雷射光源模組
免於不連續的跳躍或突變（Mod-hop free）
PM 光纖耦合輸出
1 MHz 光譜線寬
相容於 MAP-300 機箱的三插槽模組設計
高達 11.5 dBm 的高輸出功率，且具備低 ASE 雜訊基底
可進行掃描和設定操作
符合 LXI 標準，具備 IVI 驅動程式
mTLS-C2 為三插槽可調式雷射模組，可安裝於〈MAP-330 / 380 多應用光學測試平台 〉中。搭配 MAP-330可在極小體積內提供高效能表現；搭配 MAP-380 則可擴充多達 5 個應用模組插槽，靈活整合光學交換器、功率計與光譜分析等測試設備。
支援 O 波段、C/L波段分析能力：具備 PM 光纖耦合和高輸出功率的連續可調雷射源
mTLS-C2 雷射支援 1255–1350 nm（O 波段）、與 1480–1635 nm（C/L 波段）的連續可調輸出，波長解析度精確至皮米（picometer）等級。內建可變光衰減器（VOA） 精準功率控制；確保全波段與全功率範圍內的高穩定度、低 ASE 雜訊表現。高輸出功率搭配 PM 光纖耦合，使其在進行波導特性量測時，無需額外配置偏振控制器。非常適合用於矽光子與光波導特性量測，無需額外偏振控制器。
mTLS-C2 符合 LXI 標準，可快速整合至自動化測試系統，並可與高密度 mTLG-C2 格點式可調雷射搭配使用，提供連續調諧能力，滿足研發與量產測試需求。
高效自動化測試： mTLS-C2 的 LXI 標準機箱與SCPI界面
本模組搭載於符合 LXI 標準的 MAP 系列機箱中，可快速且高效率地完成測試自動化。其定位為高密度 mTLG-C2 格點式可調雷射的互補模組，並以可在整個波長範圍內進行連續調諧的能力作為主要差異化特色。
使用設計上，採用 GUI 介面，使用者可在系統層級的工具畫面 / 模組操作介面之間快速切換。系統亦支援完整 SCPI 指令介面，並提供符合 IVI 標準的驅動程式，可輕鬆整合自動化測試系統。
高度模組化光學測試平台
VIAVI MAP-300 多應用光學測試平台 系列，共有 MAP 300、MAP 330、MAP 380 多種款式。是一個模組化、可架設於機架、或桌面的光學測試和量測平台，機箱可容納 2、3 或 8 個應用模組；LightDirect 基礎光學測試模組系列 的模組以其簡單的控制和單一功能特性著稱，無論是單獨使用還是一起使用，它們都可以成為各種光學測試應用的基礎，並可透過網路啟用簡單直觀的多使用者界面。
符合 LXI 標準，並具備完整的 SCPI 的自動化驅動程式和PC端管理工具，VIAVI MAP 平台在實驗室和製造環境中均經過優化；mTLS 是 LightDirect 模組家族的一部分。其他模組還包括：光衰減器、擾偏控制器、光功率計和寬頻光譜分析儀，MAP 系列是理想的模組化平台，適用於光子系統和模組測試。
