MAP mTLS-C1 連續可調雷射源
MAP mTLS-C1 連續可調雷射源
mTLS-C1 Continuously Tunable Laser Source ¬- MAP Series C- and L-band Continuously Tunable Laser
MAP mTLS-C1 連續可調雷射源
MAP系列可調雷射源（mTLS-C1）三插槽機箱在 C+L 波段內提供了長期可靠、低雜訊的輸出，並具有寬廣的可調範圍。 mTLS-C1是一款連續可調高功率雷射源，適用於DWDM、光放大器和矽光子測試等廣泛應用。作為MAP系列的一部分，這款可調雷射源非常適合用於研發、新產品導入（NPI）、和量產中使用，並且可以輕鬆與MAP系列目前提供的15多款模組一同整合到多種應用中。
重點應用
光放大器測試（增益和雜訊指數）
通道監測校準
DWDM 元件測試
電路板路徑損耗校準
矽光子波導損耗量測
特點
C+L 頻段連續可調光源機箱
免於不連續的跳躍或突變 (Mod-hop free)
PM 光纖輸出
500 kHz光譜線寬
3插槽機箱，與MAP-300機箱相容
高輸出功率達10 dBm，低ASE雜訊水平
可進行掃描和設定操作
符合LXI標準，具備IVI驅動程式
賦予波導分析能力： 具備PM光纖耦合和高輸出功率的連續可調雷射源
mTLS-C1 三插槽模組，可以放置在MAP-330或MAP-380機箱中，在單機應用中，MAP-330是理想的選擇，精巧的設計使其具備了市場上最小的機箱空間，同時提供卓越性能；而在MAP-380中，還有額外的5個應用插槽，可用於光開關、功率計、光譜分析儀、以及多種訊號調節模組。
這款雷射能夠以皮米 (picometer) 的解析度，在1520 nm到1635 nm的完整波長範圍內進行調整，與使用電流調整輸出功率的模型不同，我們使用嵌入的可變光衰減器（VOA）實現了精確的功率控制，以確保最大穩定性（Figure 1），並確保在所有功率和波長範圍內實現低ASE（Figure 2）的性能；10 dBm的輸出功率搭配PM光纖耦合，使其不需要額外搭配偏振控制器，非常適合波導的特性分析。
高效自動化測試： mTLS-C1的LXI標準機箱與SCPI界面
將mTLS-C1置入符合LXI標準的MAP系列機箱中，即可實現快速高效地自動化測試，它是高密度mTLG-C1網格可調雷射的補充模組，其與眾不同之處在於其能夠在波長範圍內連續調整。
mTLS-C1 提供了直覺式操作的優化使用者界面（GUI），適用於實驗室或製造環境，有效地在摘要工具（圖3）之間轉換，讓使用者可以在系統級別上操作，或者使用模組的全部功能（圖4）。
A full SCPI command line interface is available along with IVI compliant drivers if required.
如果需要，可以提供符合完整的SCPI指令行界面，以及符合IVI標準的驅動程式。
高度模組化光學測試平台
VIAVI MAP-300 多應用光學測試平台 是一個模組化、可架設於機架、或桌面的光學測試和量測平台，機箱可容納 2、3 或 8 個應用模組；LightDirect 基礎光學測試模組系列 的模組以其簡單的控制和單一功能特性著稱，無論是單獨使用還是一起使用，它們都可以成為各種光學測試應用的基礎，並可透過網路啟用簡單直觀的多使用者界面。
符合LXI標準，並具備完整的SCPI的自動化驅動程式和PC端管理工具，VIAVI MAP平台在實驗室和製造環境中均經過優化；mTLS是LightDirect模組家族的一部分。其他模組還包括：光衰減器、擾偏控制器、光功率計和寬頻光譜分析儀，MAP系列是理想的模組化平台，適用於光子系統和模組測試。
mTLS與所有現有的MAP-300機箱相容。