適配於 VIAVI MAP，市場上密度最高的測試與量測等級光衰減器
〈mVOA-C2B 可變光衰減器模組〉是一款採用精密 MEMS（微機電系統）技術的光衰減器，可提供計量等級（Metrology-grade）的可程式化光衰減性能。mVOA-C2B 衰減器具備市場領先的超高密度與高速表現，同時整合於穩固可靠、廣受市場信賴的 MAP-300 系列平台。
mVOA-C2B 支援單模光纖（Singlemode Fiber）連接器，採用高密度 LC 連接器介面，並提供 APC 與 PC 兩種研磨型式。mVOA-C2B 為單槽（Single-slot）模組，可在單一 MAP-300 主機中安裝最多 8 個模組。在 3U 規格的 MAP-300 主機中，最多可支援 96 個可獨立控制的光衰減通道，每個模組可提供 4、8 或 12 個光衰減器配置。模組支援熱插拔（Hot-pluggable）功能，並可搭配所有 MAP-300 系列主機使用。
三種操作功能說明
搭配 MAP-300 主機平台中，mVOA-C2B 提供三種主要操作模式：
1. 光衰減器模式（Attenuator Mode）
此控制模式適用於無監測（No-Monitor）與輸入／輸出監測（In/Out Monitor）兩種版本，可直接控制輸出光衰減量。使用者可透過操作介面（UI）或遠端 SCPI 指令輸入所需的衰減值，mVOA 即會自動設定至對應的光衰減量。
2. 恆定光功率模式（Constant Power Mode）
配備輸入／輸出監測功能（In/Out Monitor）的版本支援恆定光功率模式。在此模式下，內建監測器會持續監控並主動調整光衰減器，即使輸入光功率發生變化，也能維持使用者設定的輸出光功率。
3. 插入損耗模式（IL Mode）
配備輸入／輸出監測功能（In/Out Monitor）的版本內建由 VIAVI 校準的插入損耗（Insertion Loss, IL）功能，可讓使用者透過操作介面（UI）或遠端 SCPI 指令，直接設定輸入端與輸出端之間的插入損耗。相較於傳統可變光衰減器（VOA）在 0 dB 基準損耗不易確認的情況，此功能讓使用者能夠更精確地設定與控制實際的插入損耗，大幅提升量測的便利性與準確性。
重點應用
光收發模組（Transceiver）測試：可程式化光衰減（VOA）、TX Optical Power Margin、RX Sensitivity（接收靈敏度）驗證、Receiver Overload 測試。
Client Optics 與 Coherent 光模組驗證：適用於 Client Optics 與次世代 Coherent Optical Interface 的研發、驗證與量測。
AI / Data Center 光連線測試：模擬光鏈路衰減（Optical Link Loss）、Power Budget 驗證及高速光模組測試。
長距離光通訊（Long Haul）網路壓力測試：建立不同衰減條件，驗證系統在各種鏈路損耗下的傳輸效能。
矽光子（Silicon Photonics）研發：適用於 PIC（Photonic Integrated Circuit）與矽光子元件開發及光學特性量測。
自動化光學測試（ATE）：支援 SCPI 遠端控制，可整合至實驗室及生產線自動化測試系統。
特點
超高密度架構：單一模組提供 4、8 或 12 個獨立可控制 VOA 通道；單台 3U MAP-300（8 插槽）最多可支援 96 個獨立光衰減器。
寬波長範圍：1260～1640 nm。
光衰減範圍：大於 40 dB。
高解析度設定：Power Mode 解析度達 0.001 dB。
高速響應：衰減穩定時間（Settling Time）小於 500 μs；衰減速度可達 0.1～1000 dB/s。
MEMS 精密光衰減技術：採用高精度 MEMS 可變光衰減器，提供量測等級（Metrology-grade）的可程式化光衰減性能。
LC 高密度介面：支援單模光纖 LC/PC 與 LC/APC 連接器。
熱插拔設計：支援 Hot-plug，可於不停機狀態下更換模組。
完整 MAP-300 相容性：可搭配所有 MAP-300 系列主機使用，適合建構高密度自動化光測試平台。
