top of page

SEEG 100

SEEG 100 腦電性能測試儀

SEEG 100 腦電性能測試儀


專為法規標準設計的 EEG 腦電性能測試儀,符合國際標準:IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。適用於研發、法規符合性及產線測試。


  • 依據最新的 EEG 國際法規標準 IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021 所設計

  • 精密電路設計,可輸出 1µV 微小訊號

  • 9 通道自動切換開關可作個別通道的性能測試

  • 內建 620kΩ / 4.7nF 輸出阻抗測試的 EEG 標準測試電路

  • 可做為 EEG 訊號播放器,可播放 PhysioNet EDF、text、binary 格式的波形訊號

  • IEC 60601-2-26、GB 9706.226 小幫手可簡化法規標準測試所需花費的人力與時間

  • 提供軟體開發套件(Software Development Kit,SDK),使用者可自行開發客製或全自動化測試軟體


重點應用


  • Educational Lab 醫材精密實驗室

  • Manufacturing Test 醫材設計 & 品管檢驗

  • 學校課程既實驗室研究

  • 醫院 & 消防機關檢測

  • 國家生醫研究開發



規格

參數
規格

主輸出電壓精確度

±1%(在 50µVpp 或更高的振幅)

主輸出電壓解析度 (DAC 解析度)

0.5μV

頻率 / 脈衝重複率精確度

±0.1%

脈衝間期 / 時間精確度

±0.2ms

電阻容忍度

±0.5%

電容容忍度

±5%

精密 1000:1 分壓器

±0.05%

取樣率

5kHz ± 0.05% (50ppm)

直流偏移

(內部超級電容提供的固定電壓,無雜訊偏移)

300mV ±0.1%

直流偏移

(細調,最多可包含 50μVpp 雜訊)

設定 ±1% 或 ±3mV

電源供應

通常 <0.25A

若所有繼電器都打開,最高可耗 0.45A

環境

室內用

5 ~ 40°C

50 ~ 80% RH

海拔高度 < 2000M(最高)

安全性

訊號處理

內建 USB IC 的保護機制,免受高電壓電流影響;以及特殊的濾波器,以減少來自微處理器(8MHz)和 DC/DC 轉換器(200kHz)的雜訊。




檔案下載

SEEG 100 腦電性能測試儀 - Datasheet

PDF

bottom of page