產業新訊

Rohde & Schwarz（R&S）針對碳化矽（SiC）與氮化鎵（GaN）等寬能隙半導體，推出了專為提高能源效率與量測可靠性的創新技術。亮點包含 MXO 系列示波器的全新三相功率分析（R&S MXO-K333）功能，以及能精確評估電動動力效能的 LMG671 功率分析儀。