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在傳統單模光纖中，OTDR 主要依賴瑞利反向散射建立整條光纖的衰減曲線，因此工程師可以很清楚地從 OTDR Trace 中辨識熔接點、接頭損耗、彎折與異常反射。然而，空芯光纖的物理結構與傳統 SMF 完全不同，導致 OTDR 的量測邏輯也必須重新設計。