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VIAVI Solutions 為了應對市場上 AI Data Center、CPO、超高速網路的光通訊測試挑戰；持續升級光通訊實驗的測試解決方案，包括〈MAP-300 多應用光學測試平台〉、〈可變光衰減器 mVOA-C2B 光模組〉、〈MAP mOSX 矩陣式光開關模組〉、〈高密度 InGaAs 光功率計 mOPM-C2B〉等設備。在新一代光通訊研發佈建中，追求更高傳輸速率、光通道數量，以及相對產生更高速率的量產測試需求；在高速光通訊測試環境中，如何同時大量測試多通道且降低測試時間，是驗證 CPO 設備的重要關鍵。 VIAVI mVOA-C2B 以 0.001 dB 精準度打造自動化光功率控制 VIAVI Solutions 針對 MAP 系列光學測試，推出市場上最高密度的可變光衰減器（High Density Variable Optical Attenuator, mVOA-C2B）模組，專為新世代光通訊測試需求設計，透過高密度、多通道與模組化架構，提供精準且自動化的光功率控制能力。其控制的光解析度達 0.001 dB，透過極精密控制光訊號衰減程度，幫助使用者隨時調整輸入至 DUT 的光功率。 mVOA-C2B 支援單模光纖連接器，衰減穩定時間（Settling Time）小於 500 μs；衰減速度可達 0.1～1000 dB/s。採用高密度 LC 連接器介面，並提供 APC 與 PC 兩種研磨型式。 在安裝適配上，mVOA-C2B 為單槽（Single-slot）式模組，因此可在單一 MAP-300 主機中安裝最多 8 個模組（包含 3 槽式的 MAP-330 與 8 槽式的 MAP-380）；每個模組可提供 4、8 或 12 個光衰減器配置。另外，mVOA-C2B 支援熱插拔（Hot-pluggable）功能，並可搭配所有 MAP-300 系列主機使用。 VIAVI MAP 300 光學平台、與 可變光衰減器 mVOA-C2B模組 VIAVI 光學測試組合，穩定、自動化的光路管理及量測 傳統光的衰減器通道數較少，人工切換 DUT 的時間長、且容易產生人工失誤（例如光纖刮傷），因此難以支援大量光路同步測試。透過 MAP 平台的模組化優勢，可將〈可變光衰減器 mVOA-C2B 光模組〉、〈MAP mOSX 矩陣式光開關模組〉、〈高密度 InGaAs 光功率計 mOPM-C2B〉完美整合，建構完整的自動化光學測試環境。透過 UI 介面與程控自動切換，提供高速、精準、多通道光功率控制與量測能力。適合研發測試廠商應用於 800G / 1.6T 光模組、Coherent Module、Optical Engine、CPO Receiver 等場景。 ▲ MAP mOSX、 mOPM-C2B 在 ASIC/CPO 測試架構的搭配示意圖 ▲ mVOA-C2B 在 ASIC/CPO 測試架構的搭配示意圖 mVOA-C2B 在光模組測試中的應用 在光通訊測試中，可變光衰減器（Variable Optical Attenuator, VOA）並不只是用來「降低光功率」，而是模擬真實光纖鏈路（Optical Link）的傳輸環境。透過精準控制光訊號衰減量，工程師可以在實驗室重現不同距離、不同損耗條件下的網路情境，驗證光模組是否能在各種環境中維持穩定傳輸。 尤其在 1.6T 光收發模組及 CPO 等高速光通訊應用中，接收端的容許功率範圍愈來愈窄，任何微小的光功率變化都可能影響誤碼率（BER）與傳輸穩定性。mVOA-C2B 的 Power Mode 解析度達 0.001 dB、衰減穩定時間（Settling Time）小於 500 μs；衰減速度可達 0.1～1000 dB/s。其精密的控制規格，成為光模組研發與量產測試不可或缺的重要設備。 ▲ mVOA-C2B 在光模組 mVOA-C2B 適用應用場景 光收發模組（Transceiver）測試： 可程式化光衰減（VOA）、TX Optical Power Margin、RX Sensitivity（接收靈敏度）驗證、Receiver Overload 測試。 Client Optics 與 Coherent 光模組驗證： 適用於 Client Optics 與次世代 Coherent Optical Interface 的研發、驗證與量測。 AI / Data Center CPO光連線測試： 模擬光鏈路衰減（Optical Link Loss）、Power Budget 驗證及高速光模組測試。 長距離光通訊（Long Haul）網路壓力測試： 建立不同衰減條件，驗證系統在各種鏈路損耗下的傳輸效能。 矽光子（Silicon Photonics）研發： 適用於 PIC（Photonic Integrated Circuit）與矽光子元件開發及光學特性量測。 自動化光學測試（ATE）： 支援 SCPI 遠端控制，可整合至實驗室及生產線自動化測試系統。 Link Budget（光鏈路預算）驗證： 可精確設定不同衰減值，建立各種光鏈路情境模擬，大幅提高測試效率。

VIAVI Solutions 針對 PCIe6.0 協定分析方案， 既 EDSFF 規格後，新推出 PCIe6.0 M.2 Interposer 因應即將到來的高速傳輸技術下放至消費性等級產品。 美光、三星、AMD 等國際半導體巨擘開啟 PCIe6.0 技術最新進程，搶佔 AI 與 HPC 市場 2026 年 7 月美光宣告，全球第一款 PCIe6.0 企業級 SSD 〈Micron 9650 NVMe SSD〉已進入量產出貨階段；緊追其後的是三星發表的 PCIe6.0 企業級 SSD〈PM1763〉。鎧俠也於發表最新一代的〈CM10 系列〉PCIe6.0 企業級 SSD。 在此之前，AMD 更早已部屬，於 2025 年就推出支援 PCIe6.0的 AMD EPYC™處理器 Venice；在今年 6 月，AMD 技術文件首度揭露代號為〈Mustang Peak〉的下一代 Ryzen Threadripper Pro。該平台預計採用 Zen 6 架構與台積電 2 奈米級製程核心，並支援 DDR5 記憶體與 PCIe Gen6，顯示 PCIe6.0 的應用版圖正從 AI 伺服器與企業級儲存，進一步延伸至專業工作站市場。也代表著各個開發商的腳步都預示 PCIe6.0 將從 AI 伺服器，迅速擴展至未來主流消費級家用市場。 為解決 PCIe6.0 高達 64 GT/s 傳輸速率與 PAM4 調變技術帶來的測試挑戰，全球測試與量測領導廠商 VIAVI Solutions 推出專為 PCIe6.0 SSD 設計的 M.2 4-Lane 與 EDSFF 規格 Interposers，打造業界最嚴謹的 Protocol Analyzer 訊號擷取與量測架構。 美光 PCIe6.0 企業級 SSD 〈Micron 9650 NVMe SSD〉 PCIe6.0 測試新挑戰：PAM4 訊號與高密度封裝量測需求 PCIe6.0 規格將單通道傳輸速率提升至 64 GT/s，並首度導入 PAM4 技術取代傳統的 NRZ 調變。PAM4 雖然在相同頻寬下實現雙倍資料傳輸，但訊號雜訊比（SNR）大幅下降、眼圖空間變小，加上對衰減更為敏感，使得硬體工程師在開發與除錯過程中遭遇極高挑戰。 特別是在 SSD 物理外觀規格（Form Factors）方面，不論是消費性主流的 M.2、AI Server主流採用的 EDSFF（E1/ E2/ E3 等），在 M.2 或 E1.S/E3.S 的小型化介面，較短的走線雖然降低 PCB 損耗，然而其有限的 PCB 板面積大幅壓縮了元件擺放、BGA fan-out、差分走線、過孔與參考平面的最佳化空間。如何能在「不干擾原始高頻訊號」前提下，精準擷取高頻匯流排封包，是 PCIe6.0 SSD 能否順利上市的成功關鍵。 VIAVI Solutions 這類測試設備研發商，為服務 PCIe6.0 的 SSD 除錯，亦緊接推出相對應的測試介面，針對不同 Form Factors 開發出完整的 Interposers 系列。透過 Linear Redriver 的設計，以及完全獨立於 Host 主機的電源供應系統，VIAVI Interposers 能在極低插入損失與極高訊號完整性的前提下，將 64 GT/s 的 PAM4 雙向高頻訊號無損導出至 Xgig PCIe6.0 協定分析儀。這讓 SSD 研發團隊不僅能精準擷取實體層與邏輯層封包，更能針對 LTSSM、Link Equalization 及 Sideband 側帶信號進行即時觸發與深度除錯，為新世代 AI 與消費級高速 SSD 的研發驗證提供最強大的技術後盾。 ▲ Xgig PCIe6.0 協定分析儀、M.2 4-Lane Interposer、EDSFF Analyzer Interposer VIAVI PCIe6.0 Interposers 關鍵技術突破 專利線性重驅動（Linear Redriver）技術： 採用高階線性訊號緩衝技術，無需繁瑣調校即可提供乾淨的訊號路徑，維持 PAM4 高頻衰減最小化與最佳眼圖品質。 高忠實度訊號擷取： 實現全雙向最高 64 GT/s 速率與全通道 (x4/x8/x16) 的無損封包擷取，支援完整 Protocol/LTSSM 狀態解碼與 Sideband 信號觸發。 完整規格覆蓋： 提供專用 M.2 4-Lane Interposer 與 EDSFF Analyzer Interposer，完全符合 PCIe6.0、NVMe 規範。 無縫整合分析平台： 完美適配 VIAVI PCIe6.0 協定分析儀（Protocol Analyzer），支援除錯、LTSSM 狀態分析與匯流排效能監控。 完全獨立電源與模組化架構： Interposer 電源獨立於 Host 系統運作，確保測試穩定度；多樣化的前段/後段模組支援靈活連接，滿足多變測試情境。 ▲ Xgig 分析儀的 PCIe6 資料封包追蹤捕捉 ▲ VIAVI PCIe6.0 協定分析儀搭配 M.2 Interposer 應用示意圖 ▲ VIAVI PCIe6.0 協定分析儀搭配 EDSFF Interposer 應用示意圖 M.2 4-Lane 與 EDSFF Interposers 規格差異： 測試方案名稱 支援介面與規格 核心應用與量測優勢 VIAVI M.2 4-Lane Interposer M.2 Key-M / PCIe Gen6x4 / NVMe 專為精巧型 M.2 SSD 設計，真實還原 Host 與 Device 間的高速 PAM4 封包傳輸，適合研發驗證消費性 SSD 檢測分析。 VIAVI EDSFF Analyzer Interposer EDSFF (E1.S, E3.S/OCP 3.0 ) / PCIe Gen6x16 / NVMe 全面支援 EDSFF 及 OCP 3.0 NIC 規格，符合高密度伺服器插拔測試需求，支援即時分析與深度邏輯除錯。 EagleTek 翔宇科技為 VIAVI 全球前三代理，提供在地化技術支援與驗證服務 PCIe Gen6 技術初期以數據中心與企業級應用為主陣地，但隨著產能成熟與供應鏈革新，PCIe Gen6 SSD 預計將於不久的將來大量生產，並進一步推動至高階工作站與家用消費級市場，開啟全領域的高速儲存革命。 隨著美光、三星、鎧俠以及其配合之記憶體控制 IC 大廠等業者持續推進 PCIe6.0 供應鏈，台灣作為全球伺服器與儲存設備的製造重鎮，在地研發團隊對 PCIe6.0/NVMe 測試工具的需求大增。EagleTek 翔宇科技 提供全方位的 VIAVI PCIe6.0 測試設備、銷售與技術顧問服務，協助工程團隊即時導入 M.2 與 EDSFF Interposers，克服 PAM4 訊號量測瓶頸，爭取新世代 AI 儲存市場先機。

在現今 AI 與大數據驅動的時代，量測「插入損耗 (Insertion Loss, IL)」 與「回波損耗 (Return Loss, RL)」的工程已不僅僅是針對光纖電纜，更延伸到了矽光子（SiPh）與共封裝光學（CPO）等高階半導體製程中。IL/RL 會直接影響光纖鏈路的性能、網際網路連接的穩定性，甚至影響網路工程師設計和測試通訊系統的方式；在高速光網路中，微小的 IL/RL 量測誤差都可能演變成位元錯誤率 (BER) 惡化，進而縮短系統壽命，而大量生產/除錯品檢的環境中，如何快速、精準地量測 IL/RL，是研發商和系統廠正在面對的問題。 量測核心：IL 與 RL 的定義與重要性 光纖之間使用連接器固定與串接，連接器的形狀、品質、清潔程度會影響兩條光纖的對接準精度、IL 與 RL，進而影響整體光纖網路的傳輸效能。其中，不論是傳統光纖或是矽光子晶片，IL/RL 都是衡量光鏈路傳輸品質的兩大核心指標。 插入損耗 IL： 兩個光纖端面連接時，兩端介面處不可能完美對接，訊號在通過光學元件時必然產生小部分功率衰減。其數值越低，代表訊號傳輸越順暢。理想中 IL 數值應盡量趨近於 0，品質良好的連接器插入損耗可能在 0.2–0.5 dB 左右；光纖熔接（將光纖熔合在一起）的插入損耗可能低至 0.05 dB。(單位：dB 分貝） 插入損耗的計算公式為： IL (dB) = 10 × log₁₀ (P_in / P_out) 其中 P_in 是輸入到組件中的功率，P_out 是另一端接收到的功率。 回波損耗 RL： 回波損耗是兩段光纖串接、當光訊號進入或離開光元件時，光纖內的訊號在連接點被反射回來，形成功率損失。RL 代表原始訊號相對於光在界面處反射回光源的比例。數值越高（正值越大），代表反射越小，系統越穩定。單模光纖通常要求 ≥40 dB，而 APC（斜面）連接器則可達 ≥60 dB。 傳統 RL 測試涉及反射量測且程序複雜，常需使用 OTDR 技術；VIAVI 結合數十年的 OTDR 經驗，其 mORL 解決方案具備 80 dB 的動態範圍，能應對最嚴苛的量測需求。 回波損耗的計算公式為： RL (dB) = -10 × log₁₀ (P_reflected / P_in) 兩段光纖的 插入損耗 (Insertion Loss, IL) 與 回波損耗 (Return Loss, RL) 理想上，使用單根光纖連接介面最少，損耗極低，也就是說，A 端和 B 端之間的直接連接光​​纖不會受到端點連接的干擾，但是以實際製造成本及應用來說太難。長距離光纖網路需要多個連接器來實現模組化和跳接管理。優質的連接器應達到「低 IL」和「高 RL」特性，確保訊號能清晰穩定地傳輸。此外，在矽光子領域，這類量測更加精密。除了 IL/RL 之外，還需考量偏振相關損耗（PDL）、光譜傳輸響應以及相位偏移等指標。 兼具便利與精準度 IL/RL 量測：VIAVI mORL 損耗測試模組 插入損耗最常用的測試方法是損耗測試。將穩定的光源連接到鏈路的一端，並在另一端使用光功率計測量輸出功率。透過比較輸入功率和輸出功率，計算出整個連結的插入損耗。 回波損耗的測試較為複雜，因為它涉及反射的量測。需使用光回波損耗計或光時域反射儀（OTDR）等設備。 OTDR 不僅可以測量總回波損耗，還能顯示光纖中反射的精確位置。如果連接器髒污或熔接點未對準，OTDR 曲線會顯示峰值，從而簡化故障排除過程。 MAP PCT 插入損耗 (IL) 和回波損耗 (RL) 測試模組 (mORL) 針對上述複雜的 IL/RL 測試及 OTDR 技術需求，VIAVI 推出了基於〈MAP-300 多應用光學測試平台〉的被動元件測試（PCT）模組：mORL - IL/RL 損耗測試解決方案。 mORL-A1 模組的 RL 量測核心是基於 「時域技術（Time-domain technology）」 開發而成，這項技術承襲了 VIAVI 數十年來在 OTDR 領域的深厚專業經驗，mORL 解決方案在量測性能與操作便利性上，開發出「無需纏繞 (Mandrel-free)」 測試方式， 解決傳統量測時，操作員通常需要手動纏繞光纖、或進行末端端接的難題；mORL 藉由 OTDR 技術的原理，能夠精確地區分不同位置的反射訊號。 VIAVI mORL 模組有以下領先業界優勢，避免任何干擾造成的量測誤差： 光源穩定性： 雷射功率會隨溫度漂移。mORL 模組內建功率計監控光源，實現即時功率補償。 偏振態變化： 這是最常被忽視的誤差來源。VIAVI 專有的內部去偏振技術能排除偏振對 IL 量測的影響。 開關重複性： 自動化測試依賴光開關，VIAVI 自研的 mOSW 系列開關確保在高通道數擴展時，依然維持極高的量測重現性。 ▲ Map300 與 mORL 的測試畫面 除了簡化流程，mORL 亦具備強大的量測規格與功能。利用 OTDR 技術的精準性，mORL-A1 能夠提供高達 80 dB 的 RL 動態範圍，並且能在 6 秒內完成雙波長的量測，甚至能量測長度僅 70 公分的短跳線。 同時，由於採用了類似 OTDR 的運算方式，該模組在量測損耗的同時也能自動量測元件的物理長度，為品質檢驗過程省去了額外的檢測步驟。 ▲ mORL-A1 模塊 搭配 MAP-300：SEIL 功能，進階看見光纖內部 在進階故障診斷方面，mORL IL/RL 損耗測試模組採用了 MAP 平台配備的 SEIL（單端插入損耗）與 FastIL 兩項關鍵功能。SEIL 是一款專門用於 MAP-300 平台的除錯工具，利用時域分析能力，讓使用者能夠「看見」光纖組件內部，並以視覺化方式呈現損耗分佈區域，能讓工程師在超過 10 公尺組件內部的損耗區域，快速找出異常損耗點，特別適用於具有複雜分叉區域的精密待測光纖。而 FastIL 則在維持精度的前提下，提供超高速量測，適合用於高效率的預篩選流程。簡單來說，mORL 模組是將 OTDR 的精準定位與分析能力，轉化為適合生產線與研發實驗室的 IL/RL 測試設備。 SEIL（單端插入損耗 Single Ended Insertion Loss） SEIL 是 MAP-300 支援的除錯工具，可讓操作人員檢視光纖組件（Assembly）內部的插入損耗（IL）分布，藉此找出插入損耗異常偏高的區域。SEIL 適用於量測完成後的分析，特別適用於長度大於 10 公尺的光纖組件測試、或是具備分光或分支結構的複雜待測物。需要注意的是，SEIL 僅供分析與除錯用途，不能作為產品是否合格（Pass/Fail）的判定依據。 ▲ SEIL 測試畫面 FASTIL（快速插入損耗模式 Fast Insertion Loss Mode） FASTIL 是一種僅量測插入損耗（Insertion Loss，IL）的測試模式，可以快速精準、穩定地測試出 IL 數值，特別適用於僅需進行插入損耗（IL）測試的應用，或作為正式量測前的預先篩選，以確認受測物具有良好的測試條件，再進一步執行更完整、詳細的量測。FASTIL 為 MAP-200 與 MAP-300 平台所支援，可透過圖形化操作介面或 SCPI 指令使用。 ▲ FASTIL 測試畫面 ▲ 利用 MAP-300 和 mORL 進行 CPO內部的 IL 量測 VIAVI 獨家的 IL/RL損耗測試，大幅提升光纖的量產能力 VIAVI 的〈mORL 損耗測試解決方案〉憑藉其高度的靈活性與專業性，已成為從 R&D 研發實驗室、產品驗證到高產量生產線的理想選擇。該系統不僅能精準量測單模與多模光纖組件、結構化佈線及光分路器的 IL/RL，更具備強大的自動化擴充能力。透過結合〈MAP-300 多應用光學測試平台〉和〈mOSW-C1 光開關模組〉，測試系統可從單纖輸出擴展至 64 通道，甚至能串接外部開關，實現高達 176 芯纖維的自動化測試，大幅加速工作流程並減少人為操作誤差。 針對蓬勃發展的 40/100 G 數據中心市場、超級運算中心、航太與軍事應用等高頻寬需求領域，mORL 提供了最關鍵的傳輸品質把關。此外，透過 MAP 平台內建〈PCT Max 軟體 - 腳本模式與自動資料庫〉功能，系統能確保產線嚴格執行測試程序，並利用條碼識別與 SQL-light 資料庫管理系統，實現數據的高效儲存、過濾與分析。從 15 秒內快速完成 MPO 極性驗證的埠對應（Port Mapping ）功能，到支援多樣化連接器介面的自定義能力，VIAVI 這套「LightTest」模組家族協助製造商在追求高效能的同時，顯著降低測試成本並縮短產品上市時間。 Eagletek 翔宇科技代理 VIAVI 全系列光學測試設備，是全球前三大 VIAVI Solutions 代理商，幫助臺灣企業導入適用於 AI 資料中心、矽光子（SiPh）、CPO、高速光通訊、MPO 光纖組件等應用的光學測試方案。從設備選型、測試流程規劃到自動化整合，皆歡迎洽詢翔宇科技。 ▲ VIAVI Solutions LightTest 光模組系列 參考資料 How to Test Fiber Cable Inertion Loss and Return Loss? : Fiber-Mart.com Insertion loss vs return loss optical fiber connector VIAVI Insertion Loss/Return Loss Testing Solution (mORL)

Total Phase 10-Pin Split Cable (10-Pin Split Cable) - 每條導線都採用顏色編碼，並附有小標籤，清楚標示該導線對應的針腳位置。以下表格顯示各導線的腳位對應配置（Pin-out） 10-Pin Split Cable 10-Pin Split Cable 10-Pin Split Cable 10-Pin Split Cable 1/1 Total Phase 10-Pin Split Cable 10-Pin Split Cable 高速匯流排測試 〈10-Pin Split Cable〉共有 10 個不同功能針腳的線纜，可連接至 Cheetah SPI Host Adapter 、 Aardvark I2C/SPI Host Adapter 、 Promira Serial Platform 、 Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer 的匯流排接口。提供每個針腳的獨立導線，方便靈活連接。此外，它還可支援與 Total Phase 主機介面或協定分析不同的針腳排列位置，增加系統整合的彈性與便利性。 每條導線都採用顏色編碼，並附有小標籤，清楚標示該導線對應的針腳位置。以下表格顯示各導線的腳位對應配置（Pin-out）： I2C/SPI eSPI # # I2C/SPI eSPI SCL/GPIO00 Alert0 1 2 GND GND SDA/GPIO01 Alert1 3 4 VTGT VTGT MISO/IO1 IO1 5 6 VTGT VTGT SCLK SCK 7 8 MOSI/IO0 IO0 SS0/GPIO02 CS0 9 10 GND GND 傳輸速率 Bit Rate I2C Master: 1 kHz - 800 kHz SPI Master: 125 kHz - 8 MHz SPI Slave: 0.1 MHz - 4 MHz 規格 附 10-pin 方型排針（Box Header），可連接至帶狀電纜（Ribbon Cable） 接頭規格：標準 2.54 mm，間距 IDC Keyed Box Connector 兼容性：可連接任何標準 2.54 mm，間距 10-pin 鍵控 IDC 型接頭 線長：5 英吋（12.7 cm），設計可降低訊號衰減 每條導線皆以單一針端壓接（Single Pin Crimp Connector） 結束，間距同為 2.54 mm 導線顏色各異並標示針腳名稱，方便快速辨識與接線 搭配設備： Aardvark I2C/SPI 封包產生器 Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer - for developing an I2C, SPI, or MDIO based product 產品資訊 Cheetah SPI 封包產生器 Cheetah SPI Host Adapter - communicate with high-speed, SPI-based flash memory 產品資訊 Beagle I2C/SPI 協定分析儀 Beagle I2C/SPI Protocol Analyzer - for developing an I2C, SPI, or MDIO based product 產品資訊 延伸閱讀 Total Phase I2C/SPI主機轉接器和協定分析儀的詳細比較 > 瀏覽 Total Phase 所有技術文章 > 匯流排協定測試解決方案總覽 > 檔案下載 1 2 3 4 5 1 ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 ... 100 TOP

Granite River Labs USB Type-C® Power Delivery 電流電壓測試分析解碼器 A1-EPR (USB Type-C® Power Delivery Performance Analyzer (GRL-USB-PD-A1-EPR)) - 輕鬆監控訊號狀態並識別協定溝通，讓使用者全面性地分析供電端、接收端之間的供電協定訊息，進行驗證與除錯，例如 VBUS 電壓和電流、CC/VCONN 電壓和電流以及 Rd 等指標。 USB Type-C® Power Delivery Performance Analyzer (GRL-USB-PD-A1-EPR) USB Type-C® Power Delivery 電流電壓測試分析解碼器 A1-EPR USB Type-C® Power Delivery Performance Analyzer (GRL-USB-PD-A1-EPR) USB Type-C® Power Delivery 電流電壓測試分析解碼器 A1-EPR 1/1 Granite River Labs USB Type-C® Power Delivery Performance Analyzer (GRL-USB-PD-A1-EPR) USB Type-C® Power Delivery 電流電壓測試分析解碼器 A1-EPR 一般量測儀器 高速匯流排測試 輕鬆監控訊號狀態並識別協定溝通，讓使用者全面性地分析供電端、接收端之間的供電協定訊息，進行驗證與除錯，例如 VBUS 電壓和電流、CC/VCONN 電壓和電流以及 Rd 等指標。 GRL-A1-EPR 分析解碼器 隨著 USB Power Delivery 充電速率的提升，設計複雜性也跟著增加，分析與測試變得更繁瑣。GRL-A1-EPR 設計旨在簡化分析工作，能夠分析、監控高達 240W 的 USB PD 溝通，並支援 USB Type-C 連接器相關的所有其他充電技術。 GRL-A1-EPR 是多功能的 USB Power Delivery 分析解碼器，可以輕鬆監控訊號狀態並識別協定溝通，讓使用者輕鬆監控訊號狀態並識別協定溝通，讓使用者全面性地分析供電端、接收端之間的供電協定訊息，進行驗證與除錯，例如 VBUS 電壓和電流、CC/VCONN 電壓和電流以及 Rd 等指標。 重點應用： 支援 240W PD 規範 除了支援最新 USB PD 規範的高達 240W 的電源、協議通訊和性能分析外，GRL-A1-EPR 亦向下相容傳統的 100W 供電規範。 訊號與協議即時監控 輕鬆監控 USB 供電協議以及 VBUS、CC、VCONN 和 Rd 終端的電壓與電流。 輕鬆搜尋欲分析數據並支援離線分析 智慧封包篩選功能讓您更有效率地分析龐大數據，並支援原始數據資料儲存以進行離線分析模式。 Overcurrent 檢查 & 保護機制 GRL-A1-EPR 能夠分析比 USB PD 規範上限高出 20% 的電流規格。 支援最大電流至 6A，可為大功率產品提供精確驗證結果，並即時監控電源供應端的 overcurrent 與保護機制。 支援 Alt-Mode 分析 亦可輕鬆檢查 DisplayPort 和 Thunderbolt Alt-Mode 的電源協議過程。 支援廣泛的充電技術分析 支援 Qualcomm Quick Charge、Huawei Super Charge、Samsung Adaptive Fast Charge、Mediatek Pump Express™、OnePlus Dash Charge 等不同規格的充電分析。 可用於所有 USB PD 產品，例如線纜、E-Markers、充電器、手機、PC、顯示器等。 直觀的使用者介面 藉由高度直觀的使用者界面，用戶只需透過點擊即可進行測試並擷取數據分析。專家們也可以利用較複雜的參數以取得更詳細的線路分析。 檔案下載 GRL-USB-PD-A1 Data Sheet (EN).pdf PDF 下載 GRL-USB-PD-A1 Data Sheet (繁中).pdf PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP

Fluke Networks DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案 (DSX CableAnalyzer Series Copper Cable Certifiers) - DSX CableAnalyzer 系列是 Versiv 佈線認證產品系列中的銅纜認證解決方案。DSX 系列包括 DSX-8000 和 DSX-5000，前者可認證高達 Cat 8 / 2GHz 的佈線，後者可認證高達 Cat 6A / Class FA / 1GHz 的佈線。 DSX CableAnalyzer Series Copper Cable Certifiers DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案 DSX CableAnalyzer Series Copper Cable Certifiers DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案 1/1 Fluke Networks DSX CableAnalyzer Series Copper Cable Certifiers DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案 網路與光通訊傳輸測試 DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案是 Versiv 佈線認證產品系列中的銅纜認證解決方案。DSX 系列包括 DSX-8000 和 DSX-5000，前者可認證高達 Cat 8 / 2GHz 的佈線，後者可認證高達 Cat 6A / Class FA / 1GHz 的佈線。 測試參數及測試結果 重點應用 Versiv通過一個線纜測試儀加速測試過程中的每個步驟，可使使用者完成比以往更多的工作 8秒鐘的 Cat 6A / 16秒鐘的Cat 8測試時間使其擁有超快的認證速度 符合 ANSI/TIA-1152-A Level 2G 和提議標準 IEC 61935-1 Ed. 5 Level VI 達 2000 MHz 的現場測試儀精度要求 支援乙太網供電 (PoE) 所需的全套電阻不平衡標準 – IEEE 802.3bt、ANSI/TIA/EIA-568、ISO/IEC 11801 電容觸控式螢幕可使您通過選擇線纜類型、標準和測試參數更快地設置測試儀 特色 Versiv 平臺已為當今和未來的作業做好準備 ProjX 管理系統讓您輕鬆管理複雜的作業專案 Taptive 使用者介面可簡化設置內容、消除錯誤並加速故障排除 超快速度執行 MPTL 認證 LinkWare Live雲端服務 LinkWare PC 管理軟體 Versiv 平臺已為當今和未來的作業做好準備 DSX 支援包括橫向變換損耗 (TCL) 和等水準橫向變換傳輸損耗 (ELTCTL) 在內平衡測量的現場測試儀。TCL 和 ELTCTL 是佈線標準中的重要測量資料。這些參數決定滿足平衡的最低性能，是判定抗擾度的關鍵參數。 TCL/ELTETL測試結果 ProjX 管理系統讓您輕鬆管理複雜的作業專案 管理有多個團隊參與、使用多個測試儀和具有多種要求的多項工作不但費時，而且容易出錯。越來越龐大的作業規模使得專案組織比以往更加重要。 ProjX 專業管理功能 像專家一樣解決故障問題 使用專用的診斷功能，一鍵式執行全部測試並保存全部結果，DSX 大大縮短了修復佈線故障所需的時間。通過螢幕呈現圖形化結果，使用者可沿電纜查看鏈路上任意距離所有的串擾、回波損耗或遮罩故障的準確位置。 故障排除工具 影音介紹 瀏覽所有 Fluke Networks 技術文章 > 檔案下載 DSX CableAnalyzer 系列銅纜認證解決方案 - Datasheet PDF 下載 1 1 ... 1 ... 1 TOP