臺美共同剖析矽光子架構、CPO 與 1.6TE 測試關鍵 — 翔宇科技 x Viavi Solutions 技術研討會落幕

翔宇科技
8月18日
讀畢需時 3 分鐘

本週 8 月 12 日（二），由翔宇科技 EAGLETEK 攜手美國網路通訊測試領導廠商 Viavi Solutions 共同舉辦的技術研討會《迎接 Ultra Ethernet 與 AI Scale-Out 架構：Silicon Photonics、CPO、1.6TE 的關鍵測試對策》，在臺北萬豪酒店圓滿落幕。

此次研討會吸引超過 110 位來自光通訊、半導體與資料中心產業的工程師、技術決策者到場參與，現場高朋滿座，充分展現臺灣與美國光通訊及 IC 產業界對未來超高速光傳輸趨勢與矽光子技術的高度關注。

國際專家齊聚台北分享前沿技術洞察

本次研討會，翔宇科技特別邀請到與我們長期合作，來自 Viavi Solutions 美國總部的三位技術權威： 產品總監 Geraint Jones、光傳輸技術負責人 Paul Brooks、以及商務開發負責人 Ramnik Johar 親臨分享。

當天分享內容包含兩場專題講座：〈矽光子與共同封裝光學元件的光學測試方法〉、〈224G SerDes 與 1.6TE 測試新趨勢解析〉，並搭配現場多項光通訊與高速匯流排測試儀器展示，由 Ramnik Johar 實際帶領賓客操作使用；其中包含目前全球最高速的 1.6TE 乙太網路測試解決方案，劍指 Ultra Ethernet 與巨量 AI 資料中心的超高速傳輸效能；讓本次參與研討會的來賓搶先一窺 224G SerDes 與 1.6TE 技術的驗證優勢，深入了解在「高頻寬、低延遲、靈活組合」需求下，通訊市場如何持續迭代升級。

講座揭示矽光子、CPO、224G 與 1.6TE 技術挑戰

上半場，由產品總監 Geraint Jones 剖析美國的矽光子、CPO 最新技術發展與實際應用案例、以及未來全球市場的策略趨勢。此外，Jones 展示 Viavi〈MAP-300 光學測試平台〉在 IL、RL、耦合效率與極化控制等高精度量測的實務應用，說明如何以「自動化測試」、「多通道架構」提升研發與量產效能。

接著下半場，由 Viavi-Lab 光傳輸技術負責人 Paul Brooks 開講，深入探討〈IEEE 802.3dj 標準〉所帶來的 224G SerDes 與 1.6 TE 技術變革，並結合 Viavi Solutions 與國際客戶的合作經驗，展示全球光通訊領導廠商如何導入這些革新技術。內容涵蓋 PAM4 調變下的訊號完整性、誤碼率、抖動與通道建模等核心挑戰。最後，介紹全球首款完整支援 1.6TE 測試的〈Viavi ONE LabPro ONE-1600〉，其模組化與高密度架構、即時錯誤分析、通道損耗模擬等功能，能大幅簡化驗證流程，從研發實驗室到量產測試與系統除錯全方位應用。

現場除了專業技術剖析，兩位講師也分享多個國際領先廠商的實際部署案例，讓與會者更直觀地理解如何將新一代測試策略落地實施。會後的 Q&A 時段，現場參與者皆是來自臺灣光通訊、IC 及半導體產業業者，針對測試流程最佳化、產線驗證與自動化整合等議題踴躍發問，與講師進行深入交流。

隨著 AI 與資料中心 Scale-Out 架構的興起，224G SerDes、1.6TE、SiPh 與 CPO 技術的重要性與日俱增。本次研討會不僅提供前瞻性的技術觀點，也讓臺灣工程團隊直接獲取國際最新測試方法與趨勢，助力業界提前布局未來市場。

翔宇科技密切關注 AI 時代的產業需求，創下活動佳績

EAGLETEK 翔宇科技在本次研討會中，榮幸攜手 Viavi Solutions，首次同場邀請三位來自美國總部的海外講師（含主持與技術專家），並創下歷來參與人數最多、技術互動最熱烈的活動紀錄。這不僅展現臺灣產業對 AI 與高速光通訊技術的高度關注，也再次印證國際頂尖測試方案在研發與量產上的關鍵價值。

展望未來，翔宇科技將持續與 VIAVI 等各家全球領導品牌深化合作，把世界最先進的測試技術與設備儀器引入臺灣，協助產業提前布局 Ultra Ethernet、AI 資料中心與超高速通訊市場，攜手客戶共同迎向新世代的競爭與機遇。