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光學測試創新技術:VIAVI Enhanced-TDR,簡化 IL/RL 測試流程
Enhanced-TDR 旨在測量 DUT 的插入損耗(IL)與回波損耗(RL),且不再需要使用 Power Meter 。這將大幅提升測試效率,有效消除傳統測試流程中的瓶頸,顯著提高了測試吞吐量 。雖然傳統插入損耗測量精準,但往往耗時且昂貴,而 Enhanced-TDR 則提供更精簡的替代方案,無需連接 Power Meter,簡化並加速測試流程,特別適合高效能環境中的需求。
9月17日


【技術文章】透過模擬線路終端對開放式海底纜線進行 OSNR 測試
利用新穎的測試儀器 - VIAVI Solutions (3) 的 MAP-300,以簡化在沒有海纜線路終端設備(SLTE)的情況下,對海底放大線路系統進行故障排除和特性評估,可能的量測包括基本系統連續性、光訊噪比(OSNR)、增益傾斜、和增益異常。
2023年11月7日


【Tech Tip】400G QSFP-DD光學模組生產效率關鍵因素探討
在400G QSFP-DD的開發初期,400G光學模組已經帶來了巨大的研發挑戰,PAM-4(Pulse Amplitude Modulation-4)的高速訊號傳輸技術,在光學和電氣領域中,需要調試模組韌體、和數位訊號處理 (DSP)韌體之間的交互作用。
2020年5月13日
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