光學測試創新技術：VIAVI Enhanced-TDR，簡化 IL/RL 測試流程
- 翔宇科技
- 9月17日
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VIAVI 致力於為 AI 資料中心時代的測試挑戰提供領先的解決方案，因此在其〈MAP-300 多應用光學測試平台〉中的 PCT（被動元件/連接器測試）上新增了多項關鍵改進與功能。本文討論 VIAVI 的「Enhanced-TDR」功能，這是一項新增於 PCT 基礎架構的軟體功能，可簡化和加速光纖測試。
什麼是 Enhanced-TDR？新式的 TDR 測試流程
這將大幅提升測試效率，有效消除傳統測試流程中的瓶頸，顯著提高了測試吞吐量 。雖然傳統插入損耗測量精準，但往往耗時且昂貴，而 Enhanced-TDR 則提供更精簡的替代方案，無需連接 Power Meter，簡化並加速測試流程，特別適合高效能環境中的需求。
「Enhanced-TDR」量測技術的工作原理是透過測量「被測連接器前後光纖系統的背向散射強度」，計算插入損耗和回波損耗。
另外需要注意的是，在 DUT 前後皆需連接一段光纖跳線，以便進行後向散射分析。必須遵循以下規格：
DUT 的最小長度需為 5 公尺，最遠可測試長達 10 km 。
光纖跳線亦需至少 5 公尺，若條件允許，建議可延長至 50 公尺。
Enhanced-TDR 技術的優勢與折衷
至於何時該使用「PCT」、或「Enhanced-TDR」，主要取決於使用者單次工作的所需的「測試速度」與「動態範圍」。
在速度方面，測試工程師可依精度規格要求去調整 TDR 的速度。若要達到與傳統插入損耗量測相同的精度表現，平均單次測試需要 5 秒。相比之下，傳統 PCT 功率計方式的平均時間為 2 秒，因此在單次測試時間上，Enhanced-TDR 約為傳統 TDR 方式的兩倍。
*雖然 Enhanced-TDR 在執行單次測試時需要更多時間，但因為少了連接Power Meter 的步驟，能大幅節省材料成本與總體製程的時間，從而提升整體測試產能。
在動態範圍方面，Enhanced-TDR 受制於量測原理。由於它是透過完整的 OTDR 引擎進行量測，因此有效範圍較小，但仍適用於被動元件（如纜線或跳線） 的測試。傳統測試方式的有效範圍甚至可達 70 dB， PCT 的動態範圍為 40 dB，而 Enhanced-TDR 的範圍約為 10 dB，在此範圍後線性誤差開始影響量測。目前 Enhanced-TDR 仍在研發進化中的技術，但未來在大規模的量測上，預計可節省大量耗能（如前述）。
值得一提的是，Enhanced-TDR 完全支援流程化設計與自動控制。所有功能都能透過 SCPI 命令進行遠端控制，便於整合至自動化工作流程、 ERP 或 OMS 系統。使用者還可在 GUI 上應用資料遮罩 ( Data masks ) 等流程控制工具，查詢測試結果更為方便。
未來進展：VIAVI 將 Enhanced-TDR 納入 MAP 300 光學測試應用
VIAVI 計畫將 Enhanced-TDR 作為故障排除工具納入儀器模式。使用者可以針對傳統 IL/RL 測試失敗的通道，啟用 Enhanced- TDR 量測，從而幫助識別和解決故障原因。此外 Enhanced-TDR 將包含在 PCT 的板載測試腳本模式中，允許操作者執行測試、並自動記錄結果。
隨著全球光纖通道的數量快速成長，市場需要更快速且多元的測試技術；VIAVI 在光學測試與量測領域行之有年，將持續推動業界邁向高產能、高效能的光學製造新時代。在PCT的基礎架構上開發 Enhanced-TDR 技術、免除連接 Power Meter 過程，就是其中一種革新。
Enhanced-TDR 降低了測試材料成本與操作步驟、提升整體測試產能，同時操作人員也不需要進行繁瑣的訓練，即可透過 MAP-300 系統的遠端指令與測試腳本，實現測試流程的自動化，並自由設計屬於自己的工作流程。若您對 Enhanced-TDR、〈MAP-300 多應用光學測試平台〉、或其他光學光纖測試技術有興趣，歡迎諮詢 VIAVI 在臺灣的代理商《EAGLETEK 翔宇科技》。
