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【Tech Tip】禪與模組驗證的藝術:模組開發、除錯和驗證的關鍵領域

在模組開發和驗證中,不同領域的相互影響需要被意識到並進行整合,禪意的思維方式可能有助於將這些不同領域的需求和影響納入到一個整體的視野中,從而促進更有效的除錯和驗證;當模組的位元速率從100Gbps增加時,模組的複雜性也隨之增加,從以數位訊號處理 (DSP) 為基礎的訊號調節和時脈恢復,到可插拔的相干光學、PAM-4 和 CMIS 等技術的應用,面對這種新的複雜性,我們必須針對模組與可插拔光學的開發、除錯和驗證採取一種截然不同的方法;具體而言,需要處理模組開發、除錯和驗證的三個關鍵領域:

  • 高速電氣介面 - 高速SERDES

  • 光學介面 – 雷射、光電二極管

  • 模組管理 - 透過I^2C介面進行控制

模組開發、除錯和驗證

從歷史上看,這些領域中的每個領域都會以某種程度的孤立方式進行除錯和驗證,訊號完整性(SI)和硬體團隊將處理高速電氣主機介面,光子工程師將處理光學問題,而軟體團隊將進行模組微控制器的開發和除錯,這種方法在100G的情況下運作得很好;但是,隨著DSP和可插拔相干光學和400G PAM-4等複雜性的引入,所有這些領域都必須以緊密協調的方式進行開發、除錯和驗證。


核心問題在於以DSP為基礎的訊號調節和韌體,會影響光子學和主機介面的行為,從模組如何對光訊號損失做出回應,到主機電氣介面如何進行等化(equalized),所有這些都與DSP緊密結合;因此,需要一個完整的方法來成功對400G級別的可插拔模組進行除錯,獨立的I^2C除錯器和臺式BERT測試儀並不適用於400G世界。


電氣介面需要與模組管理CMIS這類的工具緊密結合,並且應該支援帶有框架(framed)和無框架(unframed)資料的智慧型 BERT,並提供相應的錯誤率測試和分析功能;反過來,這些工具需要統籌光子領域的事件和影響,例如:光訊噪比 (OSNR) 和偏振干擾。


VIAVI在可插拔光學測試和量測領域已經處於領先地位超過十年,我們的 ONT 800GMAP產品系列 提供了高度整合的、多領域的模組測試和量測工具,適用於400G及以上的應用;我們的TraCol應用程式提供毫秒級的模組管理和控制解析度,並具備完整的主機電氣介面和應用程式統籌功能,它還能夠支援光學損害的密切耦合,以在所有領域提供全面的控制和可視性。


結論:不要試圖使用上一代基本工具來對複雜的以DSP為基礎的模組進行除錯,在超過100G的情況下,計算位元錯誤是無濟於事的;採用ONT的整合測試方法,搭配深入的洞察力和明智的應用,與你的模組合而為一,這是通往禪意的真正道路!要開始走向涅槃之路,使用VIAVI高度整合的測試工具和智慧應用來達到模組調試和驗證的頂峰,請立即與我們聯繫 - 翔宇科技為 VIAVI SolutionsElite Partner – 最高等級的代理商,我們可以幫助您輕鬆應對這些模組的所有複雜性,並協助您順利推進產品的發展。


延伸閱讀


關於作者

Dr. Paul Brooks

Paul Brooks是VIAVI實驗室和生產業務部門中光傳輸領域的技術負責人,他曾在英國皇家海軍擔任武器官員,在通訊測試和量測產業任多種職務,特別關注高速乙太網路生態系統的推動;他擁有南安普敦大學的光電子學博士學位,目前居住在德國南部。


關於 VIAVI Solution

VIAVI Solutions 位於亞利桑那州,原為 JDS Uniphase (JDSU) 於 2015 年更名;VIAVI Solutions 不僅是通信測試和測量及光學技術的全球領航者,目前也致力於 PCI Express (PCIe) 等高速傳輸介面與協會合作提供解決方案。

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