產業新訊

此篇文章重點涵蓋：1. 銅線的物理極限、邁入光速傳輸的必然趨勢 2. CPO 用於晶片與伺服器，讓傳輸更貼近計算核心 3. CPO 產業的結構問題，與技術轉折點 4. CPO 倚賴整體傳輸架構協作、與封裝前量測測試

Enhanced-TDR 旨在測量 DUT 的插入損耗（IL）與回波損耗（RL），且不再需要使用 Power Meter 。這將大幅提升測試效率，有效消除傳統測試流程中的瓶頸，顯著提高了測試吞吐量 。雖然傳統插入損耗測量精準，但往往耗時且昂貴，而 Enhanced-TDR 則提供更精簡的替代方案，無需連接 Power Meter，簡化並加速測試流程，特別適合高效能環境中的需求。

自從光通訊邁入10G以來，隨著插入式相干光學模組的使用，客戶端和線路端的考慮因素開始結合，最明顯的例子是光訊號對雜訊比（OSNR）及相關量測；對於任何有可能在放大系統中使用的模組，OSNR成為了評估訊號品質和性能損失的基本指標...