VIAVI 推出全球最高密度 12-Port 可變光衰減器 mVOA-C2B，打造 AI 資料中心與 CPO 光學測試新標準

VIAVI Solutions 為了應對市場上 AI Data Center、CPO、超高速網路的光通訊測試挑戰；持續升級光通訊實驗的測試解決方案，包括〈MAP-300 多應用光學測試平台〉、〈可變光衰減器 mVOA-C2B 光模組〉、〈MAP mOSX 矩陣式光開關模組〉、〈高密度 InGaAs 光功率計 mOPM-C2B〉等設備。在新一代光通訊研發佈建中，追求更高傳輸速率、光通道數量，以及相對產生更高速率的量產測試需求；在高速光通訊測試環境中，如何同時大量測試多通道且降低測試時間，是驗證 CPO 設備的重要關鍵。

VIAVI mVOA-C2B 以 0.001 dB 精準度打造自動化光功率控制

VIAVI Solutions 針對 MAP 系列光學測試，推出市場上最高密度的可變光衰減器（High Density Variable Optical Attenuator, mVOA-C2B）模組，專為新世代光通訊測試需求設計，透過高密度、多通道與模組化架構，提供精準且自動化的光功率控制能力。其控制的光解析度達 0.001 dB，透過極精密控制光訊號衰減程度，幫助使用者隨時調整輸入至 DUT 的光功率。

mVOA-C2B 支援單模光纖連接器，衰減穩定時間（Settling Time）小於 500 μs；衰減速度可達 0.1～1000 dB/s。採用高密度 LC 連接器介面，並提供 APC 與 PC 兩種研磨型式。

在安裝適配上，mVOA-C2B 為單槽（Single-slot）式模組，因此可在單一 MAP-300 主機中安裝最多 8 個模組（包含 3 槽式的 MAP-330 與 8 槽式的 MAP-380）；每個模組可提供 4、8 或 12 個光衰減器配置。另外，mVOA-C2B 支援熱插拔（Hot-pluggable）功能，並可搭配所有 MAP-300 系列主機使用。

VIAVI MAP 300 光學平台、與 可變光衰減器 mVOA-C2B模組

VIAVI 光學測試組合，穩定、自動化的光路管理及量測

傳統光的衰減器通道數較少，人工切換 DUT 的時間長、且容易產生人工失誤（例如光纖刮傷），因此難以支援大量光路同步測試。透過 MAP 平台的模組化優勢，可將〈可變光衰減器 mVOA-C2B 光模組〉、〈MAP mOSX 矩陣式光開關模組〉、〈高密度 InGaAs 光功率計 mOPM-C2B〉完美整合，建構完整的自動化光學測試環境。透過 UI 介面與程控自動切換，提供高速、精準、多通道光功率控制與量測能力。適合研發測試廠商應用於 800G / 1.6T 光模組、Coherent Module、Optical Engine、CPO Receiver 等場景。

▲  MAP mOSX、 mOPM-C2B 在 ASIC/CPO 測試架構的搭配示意圖

▲  mVOA-C2B 在 ASIC/CPO 測試架構的搭配示意圖

mVOA-C2B 在光模組測試中的應用

在光通訊測試中，可變光衰減器（Variable Optical Attenuator, VOA）並不只是用來「降低光功率」，而是模擬真實光纖鏈路（Optical Link）的傳輸環境。透過精準控制光訊號衰減量，工程師可以在實驗室重現不同距離、不同損耗條件下的網路情境，驗證光模組是否能在各種環境中維持穩定傳輸。

尤其在 1.6T 光收發模組及 CPO 等高速光通訊應用中，接收端的容許功率範圍愈來愈窄，任何微小的光功率變化都可能影響誤碼率（BER）與傳輸穩定性。mVOA-C2B 的 Power Mode 解析度達 0.001 dB、衰減穩定時間（Settling Time）小於 500 μs；衰減速度可達 0.1～1000 dB/s。其精密的控制規格，成為光模組研發與量產測試不可或缺的重要設備。

▲ mVOA-C2B 在光模組

mVOA-C2B 適用應用場景

• 光收發模組（Transceiver）測試：

可程式化光衰減（VOA）、TX Optical Power Margin、RX Sensitivity（接收靈敏度）驗證、Receiver Overload 測試。

• Client Optics 與 Coherent 光模組驗證：

適用於 Client Optics 與次世代 Coherent Optical Interface 的研發、驗證與量測。

• AI / Data Center CPO光連線測試：

模擬光鏈路衰減（Optical Link Loss）、Power Budget 驗證及高速光模組測試。

• 長距離光通訊（Long Haul）網路壓力測試：

建立不同衰減條件，驗證系統在各種鏈路損耗下的傳輸效能。

• 矽光子（Silicon Photonics）研發：

適用於 PIC（Photonic Integrated Circuit）與矽光子元件開發及光學特性量測。

• 自動化光學測試（ATE）：

支援 SCPI 遠端控制，可整合至實驗室及生產線自動化測試系統。

• Link Budget（光鏈路預算）驗證：

可精確設定不同衰減值，建立各種光鏈路情境模擬，大幅提高測試效率。