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VIAVI 致力於為 AI 資料中心時代的測試挑戰提供領先的解決方案，因此在其 〈MAP-300 多應用光學測試平台〉 中的 PCT（被動元件/連接器測試） 上新增了多項關鍵改進與功能。本文討論 VIAVI 的「Enhanced-TDR」功能，這是一項新增於 PCT 基礎架構的軟體功能，可簡化和加速光纖測試。 PCT (Passive Component/Connector Test) 被動元件/連接器測試 。可測試光連接產品的插入損耗、回波損耗、物理長度以及極性。 什麼是 Enhanced-TDR？新式的 TDR 測試流程 Enhanced-TDR 旨在 測量 DUT 的 插入損耗（IL） 與 回波損耗（RL） ，且不再需要使用 Power Meter 。 這將大幅提升測試效率，有效消除傳統測試流程中的瓶頸，顯著提高了測試吞吐量 。雖然傳統插入損耗測量精準，但往往耗時且昂貴，而 Enhanced-TDR 則提供更精簡的替代方案，無需連接 Power Meter，簡化並加速測試流程，特別適合高效能環境中的需求。 「Enhanced-TDR」量測技術的工作原理是透過測量「被測連接器前後光纖系統的背向散射強度」，計算插入損耗和回波損耗。 另外需要注意的是，在 DUT 前後皆需連接一段光纖跳線 ，以便進行後向散射分析。必須遵循以下規格： DUT 的最小長度需為 5 公尺，最遠可測試長達 10 km 。 光纖跳線亦需至少 5 公尺，若條件允許，建議可延長至 50 公尺。 Enhanced-TDR 技術的優勢與折衷 至於何時該使用「PCT」、或「Enhanced-TDR」，主要取決於使用者單次工作的所需的 「測試速度」 與 「動態範圍」 。 在速度方面，測試工程師可依精度規格要求去調整 TDR 的速度。若要達到與傳統插入損耗量測相同的精度表現，平均單次測試需要 5 秒。相比之下，傳統 PCT 功率計方式的平均時間為 2 秒，因此在單次測試時間上，Enhanced-TDR 約為傳統 TDR 方式的兩倍。 *雖然 Enhanced-TDR 在執行單次測試時需要更多時間，但因為少了連接Power Meter 的步驟，能大幅節省材料成本與總體製程的時間，從而提升整體測試產能。 在動態範圍方面，Enhanced-TDR 受制於量測原理。由於它是透過完整的 OTDR 引擎進行量測，因此有效範圍較小，但仍適用於被動元件（如纜線或跳線） 的測試。傳統測試方式的有效範圍甚至可達 70 dB， PCT 的動態範圍為 40 dB，而 Enhanced-TDR 的範圍約為 10 dB，在此範圍後線性誤差開始影響量測。目前 Enhanced-TDR 仍在研發進化中的技術，但未來在大規模的量測上，預計可節省大量耗能（如前述）。 值得一提的是，Enhanced-TDR 完全支援流程化設計與自動控制。所有功能都能透過 SCPI 命令進行遠端控制，便於整合至自動化工作流程、 ERP 或 OMS 系統。使用者還可在 GUI 上應用資料遮罩 ( Data masks ) 等流程控制工具，查詢測試結果更為方便。 未來進展：VIAVI 將 Enhanced-TDR 納入 MAP 300 光學測試應用 VIAVI MAP-Operationalized Enhanced TDR VIAVI 計畫將 Enhanced-TDR 作為故障排除工具納入儀器模式。使用者可以針對傳統 IL/RL 測試失敗的通道，啟用 Enhanced- TDR 量測，從而幫助識別和解決故障原因。此外 Enhanced-TDR 將包含在 PCT 的板載測試腳本模式中，允許操作者執行測試、並自動記錄結果。 PCT System now available on MAP-300 隨著全球光纖通道的數量快速成長，市場需要更快速且多元的測試技術；VIAVI 在光學測試與量測領域行之有年，將持續推動業界邁向高產能、高效能的光學製造新時代。在PCT的基礎架構上開發 Enhanced-TDR 技術、免除連接 Power Meter 過程，就是其中一種革新。 Enhanced-TDR 降低了測試材料成本與操作步驟、提升整體測試產能，同時操作人員也不需要進行繁瑣的訓練，即可透過 MAP-300 系統的遠端指令與測試腳本，實現測試流程的自動化，並自由設計屬於自己的工作流程。若您對 Enhanced-TDR、 〈MAP-300 多應用光學測試平台〉 、或其他光學光纖測試技術有興趣，歡迎諮詢 VIAVI 在臺灣的代理商 《EAGLETEK 翔宇科技》 。 參考資料 Enhanced TDR - Revolutionizing Fiber Optic Testing - VIAVI Perspectives Novel Insertion Loss Measurements VIAVI PCT Enhanced TDR – Whitepaper New Passive Component/Connector Test (PCT) for the MAP-300 | VIAVI Solutions Inc. 時域反射儀(TDR)

針對 I2C/I3C 內的 DDR5 DIMM 溫度管理技術，I3C 匯流排測試設備研發商 《Binho》 創辦人 Jonathan Georgino發表其看法。MIPI 聯盟認為，I3C 技術相比類似的匯流排介面，具有顯著優勢（可參考翔宇文章： 比較I3C、I2C、SPI 協定：特性、操作方式及適用場景 ），這篇將討論I3C在DDR5溫控與SSD的應用角色。 I3C 在 DDR5 記憶體溫度管理中的關鍵角色 DDR5 DIMM 高頻寬記憶體首先對 I3C 的應用是在於溫度管理。過往 DDR4 的資料傳輸速度 2133-3200 MT/s、頻寬 25.6GB/s；而 DDR5 約為其兩倍，達到傳輸速度 4800-6400 MT/s、頻寬 51.2GB/s 。 過去使用 I2C 進行溫度管理，會因為 I2C 傳送溫度資料較慢，使得晶片在效能管理方面需要更為保守，等待更新溫度資料的時間，為避免過熱風險，晶片無法發揮最大的速度。而 I3C 可以提供更高頻率的溫度資料更新 ，讓控制器即時地掌握記憶體模組的熱度。這代表 DDR5 可以在確保安全的前提下， 持續維持接近峰值的運算效能 ，而會因為監控延遲而降速。此外，I3C 對帶內中斷的支援（In-Band Interrupt, IBI），可以讓溫度感測器能主動發送訊號給控制器，進一步提升了系統的反應速度；除此之外，I3C 提供更低的運作電壓（1V），符合 DDR5 於先進矽製程在電壓方面的需求。 JEDEC 採用 I3C Basic，加速業界標準化與普及 隨著市場趨勢的發展， I3C Basic 已被 《JEDEC》 採納，並納入 Sideband Bus 與 DDR5 標準。 JEDEC 協會是由約 300 家成員企業組成的國際標準化組織，專注於固態及半導體產業。自 JEDEC 正式採用後，全球各大企業也迅速將 I3C 技術整合至溫度感測器中，加速推動 I3C–DDR5 的大規模應用，以因應資料中心的高速成長需求。 I3C 的多元應用：從 SSD 到 AR/VR I3C 的應用範圍已從溫度感測進一步擴展至記憶體管理。各家公司不僅將其導入固態硬碟 SSD 的 Sideband管理，也應用於 MIPI 相機控制介面（Camera Control Interface,CCI）場景。當研發團隊發現 I3C 已內建於產品 IP 模組、周邊元件，或是已存在於所採用的微控制器中時，便開始在更多新應用與行業中導入。值得一提的是，MIPI I3C Basic 已被 PCI-SIG 與 NVM Express 採用，作為 MCTP 協定傳輸中，取代傳統系統管理匯流排 SMBus 的現代化方案。 在影像功能上，I3C 已被證明能夠在極低的功耗預算內有效傳輸低解析度 sub- VGA 灰階影像，可用於例如使用電池供電、對功號有較高要求的監視攝影機等，可透過灰階影像達成基本辨識人臉或事件偵測的要求，並在需要時啟動更高的效能與解析傳輸，I3C 在其中就可以扮演理想的傳輸角色。 另外，I3C 介面也逐漸進入 AR/VR 領域，例如智慧眼鏡與 AI 可穿戴設備。憑藉針腳較少、較簡單、高能效與內建功能（如時間戳記與多感測器同步資料擷取的感測器融合），I3C 都能成為這類應用的理想選擇。 I3C 驅動高速與低功耗應用的新時代 I3C 已逐步從記憶體溫度管理的關鍵技術，發展成為涵蓋資料中心、高速儲存、影像處理以及穿戴式裝置的多功能介面。隨著 JEDEC 、 PCI-SIG 與 NVM Express 等國際標準組織的採納，I3C 正在取代傳統匯流排成為系統設計的基礎設置。未來，隨著 AR/VR、AI 與低功耗物聯網裝置需求持續增加，I3C 的優勢將更加凸顯，推動產業在效能、能效與可靠性上持續突破，並為新世代應用帶來更廣闊的發展空間。 延伸閱讀 Using Binho I3C tools for I3C Target Development and Verification Introduce I3C Working Group | MIPI 【媒體合作】比較I3C、I2C、SPI 協定：特性、操作方式及適用場景 【White Paper】MIPI I3C 和 I3C Basic 介紹 參考資料 Opportunities Abound: A Look at the Growing I3C Ecosystem 使用 I3C 達到快速、靈活的IC 對 IC 通訊 | DigiKey DDR5 伺服器平台解決方案內的I3C 訊號完整性挑戰

美國光通訊研發原廠 《VIAVI Solutions》 將參加今年於丹麥哥本哈根舉行的 2025 歐洲光纖通訊展覽會 （ECOC 2025） ，展位號碼 C3113。 ECOC 是全球最具影響力的光通訊會議之一，聚集來自世界各地的科學家、研究人員，以及頂尖大學與具規模的國際企業，共同展示從材料、元件到系統與網路的最新突破，並分享對未來產業的遠見。 本屆 ECOC 將於 2025 年 9 月 29 日至 10 月 1 日 在 Bella Center, Copenhagen 舉行，以 「Scale with Confidence: Infrastructure Test for the AI Revolution」 為主題。VIAVI 將在會中展示最新一代的光通訊測試技術，包含目前世界最高速的 1.6T 測試解決方案，協助業界加速邁入 AI 時代的高速網路基礎建設。 展會亮點 加速 1.6Tb/s 生態系統發展 提升光收發器大規模量產測試能力 推進矽光子與連接測試技術 全球光纖檢測與清潔標準 光纖感測、建設、認證、集中測試與監控 高速都會區與資料中心互連測試 除了產品展示外，VIAVI 兩大事業單位 L&P 與 FAS 的專家將於現場協助業界夥伴進行交流與合作。展會期間並將於 9 月 29 日（週一）下午 3:00–5:00 舉辦招待酒會，歡迎業界先進蒞臨 VIAVI C3113 攤位與 VIAVI 專家及業界同儕交流。 若您有興趣於 2025 ECOC 與 VIAVI 技術團隊會面，歡迎透過 VIAVI 台灣代理商 翔宇科技 協助安排。 📩 專門聯絡信箱：hans.wu@eagletek.com.tw 活動資訊 日期：2025 年 9 月 29 日至 10 月 1 日 地點：Bella Center, Copenhagen, Denmark VIAVI 展位：C3113

《Cable Matters》 位於美國馬薩諸塞州，設計及生產各種辦公室、家庭使用的 AV 線材、擴充與轉接設備、網路設備的 3C 產品。主要使用技術為 HDMI、DisplayPort、USB、Ethernet 和 Thunderbolt 等國際普遍的協定規格。 Cable Matters 以最高品質檢測要求來對待旗下產品，所有線材經過全面測試，例如：電氣測試、DCR測試、訊號完整性測試、診斷每個針腳的連通性測試等等。自初創以來，Cable Matters 不斷精進其生產標準和測試方法，確保消費者手中的每一條線材都擁有最高品質、方便且耐用。 Advanced Cable Tester v2 幫助完成高效複雜的測試工作 對於這樣不斷加強品質檢測的製造商，選用 《Total Phase》 的各種協定測試設備再適合不過。Total Phase 是全球領先的嵌入式系統解決方案供應商，Total Phase 推出的協定測試設備涵蓋 USB、I²C、SPI、CAN、eSPI 等多種電子設備通用的串列通訊協定，用途極廣；而且體積小、簡易使用、又整合多種快速除錯功能，為全球各行各業的工程師提供方便好用的測試利器。 Cable Matters 公司近年決定增加先的商品種類，這當然也增加了產線上製造與測試的複雜度。Cable Matters 增加 USB-C、HDMI 2.1 和 DisplayPort 1.4 協定技術在下一代商品5之中；在這之後發現，若使用傳統繪製線路圖、進行各種協定的一關一關基本檢測，既耗時耗力，效果也不夠完善；難以測出產品在多種協定下的複合式功能。 Cable Matters 公司尋求更高效率、更多用途的線材測試方法，使用過 Total Phase 的 〈Advanced Cable Tester v2 進階線材測試儀〉 後，發現這是一款功能強大、測試品質穩定可靠的工具，而且能迅速整合到實驗室、產線上既有的測試流程中。目前， 〈Advanced Cable Tester v2〉 已經是 Cable Matters 公司每天標準測試流程的一部分，每天都用於研發實驗室和進貨 QA 偵測線，驗證高速電纜的訊號完整性、針腳映射、線路連續性和屏蔽等項目。 Advanced Cable Tester v2 第二代進階線材測試儀 Advanced Cable Tester v2 的 測試功能 Total Phase 第二代進階線材測試儀 Advanced Cable Tester v2 提供各種線材測試模組，例如， USB Type A/Micro-B/C、HDMI、DisplayPort、Thunderbolt 等，可以根據使用者要測試的線材和協定，自由做轉換搭配。 在測試功能上， Advanced Cable Tester v2 使用 VNA 量測 ，快速提供眼圖的圖形化介面與數據結果，方便判斷訊號完整性。針對 USB、HDMI 和 DisplayPort 連接線執行各種品質和安全檢查，無需使用多個獨立的測試設備。大量的深入測試可確保測試結果的準確性，快速識別出缺陷電纜，在複雜的高速介面中，Advanced Cable Tester v2 可執行的測試包括： 針腳連通性測試 透過在電纜一端施加電壓，測量電纜另一端的輸入訊號，分析電纜中個別針腳是否存在短路或斷路。測試詳細包括： VBUS 接地短路 、 CC/VCONN 接地短路 、 VBUS 到 CC/VCONN 短路 、所有其他針腳之間的短路，以及已定義和 現有針腳的連接性和錯線 。搭配有「即時針腳圖視覺化功能」，這在 Cable Matters 診斷交叉佈線問題方面尤其有用。以 USB-C 纜線上針腳連續性測試，範例如下所示： DCR測試 直流電阻（DCR）測試測量除了高速數據線以外的所有電纜的 DCR；並測量所有電源和接地針腳的 DCR，以及整個 USB-C 電纜的總 DCR。此測試的執行方式是在線纜的一端施加電流，然後測量線纜上的各點以確定電阻。USB-A 至 USB-C 連接線上 DCR 測試失敗的範例如下所示： 電子標記驗證 E-marker 是 USB Type-C 線材內整合的晶片，用於儲存線纜的特性和規格。驗證 E-marker 的內容可確保線材準確報告其功能，包括功率容量、資料速率和製造商詳細資訊。USB-C 纜線上通過 E-Marker 測試的範例如下所示： 訊號完整性測試 透過評估差分對線纜來測量線纜的性能和訊號品質，Advanced Cable Tester v2的測試頻率範圍為 1,030 MHz 至 12.8 GHz，最多可測試五個差分對。 該測試透過速度測試來評估訊號品質，並輸出測試眼圖，讓使用者輕鬆辨識訊號完整性；品質越好的線纜會顯示的眼圖越寬。眼圖包含一個光罩，用於參考水平眼圖開度（HEO）和垂直眼圖開度（VEO）值，這些測試在 Cable Matters 診斷屏蔽問題和阻抗不匹配方面特別有用。HDMI 電纜訊號完整性測試通過和失敗結果的範例如下所示： 超乎期待的纜線測試方法！ 透過 Advanced Cable Tester v2，Cable Matters 能夠快速檢測過去難以發現的產品問題，例如屏蔽異常、交叉佈線以及阻抗不匹配等。Advanced Cable Tester v2 的多功能、直覺的操作介面、和自動產出報告功能，使實驗室技術人員能迅速上手。 自從導入 Advanced Cable Tester v2 後，Cable Matters 將複雜電纜的檢測時間縮短了 50%，且在研發驗證階段有效簡化流程，加速新電纜產品的上市時程。 同時，與電纜故障相關的退貨授權（RMA）數量也降低了 25%。Cable Matters 的產品品質經理滿意地表示：「Advanced Cable Tester v2 已成為 Cable Matters 的必備工具。它的精度、速度和多功能性顯著改善了我們的電纜測試流程，確保我們始終如一地為客戶交付高品質的連接產品。」隨著產品線與業務版圖的持續擴展，Cable Matters 計劃進一步將更多 Advanced Cable Tester v2 納入海外供應商的審核流程。 參考資料： Case Study - Advanced Cable Tester v2 - Cable Matters Inc.

2025 年 7 月，菲律賓總統 Ferdinand Marcos Jr. 、國家資訊與通訊技術部，宣布啟動《國家核心光纖網路計劃 （National Fiber Backbone, NFB） 》第二、三期工程。這項計畫由菲律賓資訊與通訊技術部 （DICT） 主導，旨在進一步提升菲律賓全境的數位連結能力，尤其是為偏遠地區縮短數位落差，為數百萬民眾提供更快速、可靠的網路服務。 Philippines 國家核心光纖網路計劃（National Fiber Backbone, NFB）,使用 VIAVI MTS-5800-100G 在啟用典禮上，Marcos 總統偕同 DICT 部長、眾議院議長一同見證新建光纖骨幹的開通；強調目前菲律賓全國各地的網路存取不平等；擴大 NFB 的目的是縮小偏遠地區的數位鴻溝。NFB 計畫將為全國教育、醫療、商業與公共服務奠定數位基礎，帶動經濟發展並推進國家現代化，實現「數位菲律賓」的願景。 VIAVI MTS-5800-100G 測試儀被選用於光纖網測試 在這次具有里程碑意義的啟動典禮中，菲律賓官方使用 Viavi Solutions 的 T-BERD - 〈MTS-5800-100G 手持式網路測試儀〉 ，用來驗證核心光纖網的網路效能與連線品質。 VIAVI 旗下研發多種乙太網、光纖網路、各式協定測試解決方案，都具有操作簡單靈活、可互相搭配、高效能高精準度等優勢；在大型公共建設之中，能實際發揮其應用價值，已被全球多國採用，協助政府及電信業者確保網路品質、促進網路發展。 〈MTS-5800-100G 手持式網路測試儀〉 是 VIAVI 研發、全球最先進的便攜式 100G 網路測試平台之一，具備多元測試能力，能針對傳輸網路（Transport）、乙太網路（Ethernet）、以及同步數位階層（SDH/SONET）等多協定環境進行完整的驗證。 VIAVI MTS-5800-100G MTS-5800-100G 是業界最小巧的手持式雙介面 100G 測試儀，可在光纖網路生命週期的各個階段進行測試，包括光纖測試、啟用開/關流程、故障排除以及維護。 MTS-5800-100G 內部備有多種技術介面，包含： SFP/SFP+/SFP28 和QSFP+/QSFP28/CFP4 等。借助光學器件自檢、數據中心使用的高速線纜的測試、乙太網線路速率抓取、解碼，以及具備 OTN 驗證 等進階測試功能。讓使用者能輕鬆、準確地測試並維護網路。這些優勢也讓 MTS-5800-100G 成為菲律賓政府單位在建置高速網路時的首選工具。 VIAVI 多元化的解決方案，應對全球各種測試需求 隨著全球雲端運算、AI、大數據與高速乙太網路的不斷發展，對於更高頻寬的需求日益迫切。對國家來說，不只是追求 1600G、800G 等超高速突破，消弭各地方、交通不便區、偏遠地區、鄉鎮等的數位落差，也是同樣重要的工作。菲律賓總統表示，有了順暢的網路速度，人們將能夠獲取早期天氣預警、進行企業轉型，獲取更多工作，促成地方進步。 Philippines 國家核心光纖網路計劃（National Fiber Backbone, NFB） VIAVI 在光纖網路、光通訊的測試領域，持續推出多種不同取向的解決方案，應對各種測試需求。除了上述的便攜式設備，同類型在市場上熱門的還有 〈OneAdvisor 800 測試傳輸平台〉 ，可支援 400G 與 800G 傳輸模組，進一步滿足新世代資料中心與電信網路對超高速傳輸的需求。 ONA800 不僅延續了 MTS 系列便攜測試平台的優勢，更針對次世代超高速網路設計，能協助業者進行更複雜、更高速的網路傳輸驗證。 OneAdvisor 800 測試傳輸平台 《翔宇科技》 為 VIAVI Solutions 在臺灣的緊密合作夥伴，針對 PCIe 與其他各種匯流排協定領域、光通訊相關量測等代理及銷售、VIAVI 的測試、除錯等各種解決方案，包括：PCIe、NVMe、CXL、Serial Attached SCSI、Serial ATA、Fibre Channel、Ethernet，另外也提供其他大廠的解決方案包含MIPI M-PHY、 UniPro、UFS、MIPI A-PHY、MIPI I3C、eMMC、SD、SDIO、USB、CAN、I2C、SPI、eSPI 等測試工具。攜手科技產業客戶群，共同突破於研發與製程的難關，在新興應用領域持續前進。 參考資料： News Releases - PBBM launches National Fiber Backbone Phases 2 and 3 to digitally connect more Filipinos https://www.linkedin.com/posts/viavi-solutions

本週 8 月 12 日（二），由翔宇科技 EAGLETEK 攜手美國網路通訊測試領導廠商 Viavi Solutions 共同舉辦的技術研討會 《迎接 Ultra Ethernet 與 AI Scale-Out 架構：Silicon Photonics、CPO、1.6TE 的關鍵測試對策》 ，在臺北萬豪酒店圓滿落幕。 此次研討會吸引 超過 110 位來自光通訊、半導體與資料中心產業的工程師、技術決策者 到場參與，現場高朋滿座，充分展現臺灣與美國光通訊及 IC 產業界對未來超高速光傳輸趨勢與矽光子技術的高度關注。 國際專家齊聚台北 分享前沿技術洞察 本次研討會，翔宇科技特別邀請到與我們長期合作，來自 Viavi Solutions 美國總部的三位技術權威： 產品總監 Geraint Jones 、 光傳輸技術負責人 Paul Brooks 、以及 商務開發負責人 Ramnik Johar 親臨分享。 當天分享內容包含兩場專題講座：〈矽光子與共同封裝光學元件的光學測試方法〉、〈224G SerDes 與 1.6TE 測試新趨勢解析〉，並搭配現場多項光通訊與高速匯流排測試儀器展示，由 Ramnik Johar 實際帶領賓客操作使用；其中包含目前 全球最高速的 1.6TE 乙太網路測試解決方案 ，劍指 Ultra Ethernet 與巨量 AI 資料中心的超高速傳輸效能；讓本次參與研討會的來賓搶先一窺 224G SerDes 與 1.6TE 技術的驗證優勢，深入了解在 「高頻寬、低延遲、靈活組合」 需求下，通訊市場如何持續迭代升級。 講座揭示矽光子、CPO、224G 與 1.6TE 技術挑戰 上半場，由產品總監 Geraint Jones 剖析美國的 矽光子、CPO 最新技術發展與實際應用案例、以及未來全球市場的策略趨勢。此外，Jones 展示 Viavi 〈MAP-300 光學測試平台〉 在 IL、RL、耦合效率 與 極化控制 等高精度量測的實務應用，說明如何以「自動化測試」、「多通道架構」提升研發與量產效能。 ▲ ONE LabPro 1600 運作中的 Rx FEX 統計數據 接著下半場，由 Viavi-Lab 光傳輸技術負責人 Paul Brooks 開講，深入探討〈IEEE 802.3dj 標準〉 所帶來的 224G SerDes 與 1.6 TE 技術變革，並結合 Viavi Solutions 與國際客戶的合作經驗，展示全球光通訊領導廠商如何導入這些革新技術。內容涵蓋 PAM4 調變下的訊號完整性、誤碼率、抖動與通道建模等核心挑戰。最後，介紹全球首款完整支援 1.6TE 測試的〈Viavi ONE LabPro ONE-1600〉，其模組化與高密度架構、即時錯誤分析、通道損耗模擬等功能，能大幅簡化驗證流程，從研發實驗室到量產測試與系統除錯全方位應用。 現場除了專業技術剖析，兩位講師也分享多個國際領先廠商的實際部署案例，讓與會者更直觀地理解如何將新一代測試策略落地實施。會後的 Q&A 時段，現場參與者皆是來自臺灣光通訊、IC 及半導體產業業者，針對測試流程最佳化、產線驗證與自動化整合等議題踴躍發問，與講師進行深入交流。 隨著 AI 與資料中心 Scale-Out 架構的興起，224G SerDes、1.6TE、SiPh 與 CPO 技術的重要性與日俱增。本次研討會不僅提供前瞻性的技術觀點，也讓臺灣工程團隊直接獲取國際最新測試方法與趨勢，助力業界提前布局未來市場。 翔宇科技密切關注 AI 時代的產業需求，創下活動佳績 EAGLETEK 翔宇科技在本次研討會中，榮幸攜手 Viavi Solutions ，首次同場邀請三位來自美國總部的海外講師（含主持與技術專家），並創下歷來參與人數最多、技術互動最熱烈的活動紀錄。這不僅展現臺灣產業對 AI 與高速光通訊技術的高度關注，也再次印證國際頂尖測試方案在研發與量產上的關鍵價值。 展望未來，翔宇科技將持續與 VIAVI 等各家全球領導品牌深化合作，把世界最先進的測試技術與設備儀器引入臺灣，協助產業提前布局 Ultra Ethernet、AI 資料中心與超高速通訊市場，攜手客戶共同迎向新世代的競爭與機遇。 延伸閱讀 VIAVI 發表 Xgig 6P16 EDSFF 全新測試解決方案，支援 E1/E3/OCP3 高速儲存應用 迎接 800GbE 商用化與1.6TbE！VIAVI 推出業界最高規格的測試解決方案

全球測試與量測解決方案領導者 R&S 羅德史瓦茲，於 2025年推出新一代多功能電力量測設備： 《UDS 系列數位萬用錶》 ，此系列包含 UDS500、UDS500-G 與 UDS600、UDS600-G 四種機型，結合高度精準解析、12 種量測能力與一次可顯示 3 種結果的方便性，搭載遠端控制功能；專為現代電子研發、品質檢驗與自動化測試系統所設計；能輕鬆解決研發應用和生產線上大量量測任務。 >>看完整產品資訊 超高精度與多功能整合，一機應萬變 UDS 系列提供解析度至 5½ 位元 與 6½ 位元 兩種顯示解析度的選項，供使用者選擇。機身採用小巧堅固的機身設計，支援 19 吋（2U）機架安裝，可與 R&S®HZC95 套件搭配使用，實現雙機並排，節省空間。 UDS 全系列均支援最多 12 種量測功能，包含：直流／交流電壓與電流 DCV / DCI / ACV / ACI 、頻率、電阻（2 線與 4 線）、電容、溫度、二極體測試與導通測試等。此外，更進一步內建包括最小值／最大值、平均值、標準差、dB、dBm 等數學與統計運算工具，滿足工程師從研發驗證到量產檢測的全階段需求。搭載 QVGA 彩色顯示螢幕，可同時顯示三項量測結果，例如 DC、AC 統計數據等，方便多項量測工作同時使用、無需切換畫面。 其中 UDS600 更是具備高達 0.0075% 的直流電量測精度，即使是最微小的電壓或電流變化，也能清晰地捕捉，適合實驗室的高精密量測工作。  >>看完整產品資訊 量測流程智慧化！遠端操作及記錄，全面提升測試效率 UDS 數位萬用電錶 支援即時量測、亦兼具長時間的資料記錄功能，可透過 USB 隨身碟儲存為 CSV 檔案，或經由 USB／LAN 介面即時傳輸至電腦，最高支援每秒紀錄 10 筆取樣數據，方便使用者追溯設計製程工作、產出品質報告。使用者亦可將常用設定儲存在內建記憶體中，快速載入使用，實現多場景切換與重複測試的最佳化管理。同時，全系列內建 USB、LAN 介面與 SCPI 指令支援，亦提供 GPIB（IEEE-488）匯流排規範，滿足自動化與量產測試環境需求。另也提供 LabVIEW、LabWindows/CVI 與 IVI.net 驅動程式，協助使用者快速整合至現有測試系統，顯著提升開發效率與系統穩定性。 UDS 四款機型，彈性滿足不同企業需求 型號 顯示位數 傳輸介面 特點說明 R&S®UDS500 5½ 位 USB / LAN 高性價比萬用錶，適合一般測試用途 R&S®UDS500-G 5½ 位 USB / LAN / GPIB 增加 GPIB，適合自動化系統整合 R&S®UDS600 6½ 位 USB / LAN 超高精度，適合精密測量與研發 R&S®UDS600-G 6½ 位 USB / LAN / GPIB 完整介面與最高精度，應用最廣 一般量測環境中，測試設備對於準確度、多工彈性與可擴充性的研發不停迭代更新。 UDS 數位萬用電錶 系列以強大多功能整合為核心優勢，涵蓋多達 12 種量測模式、統計分析、數學運算、限值測試與遠端控制功能，全面滿足從研發實驗室到自動化產線的各式應用需求。 翔宇科技代理 Rohde & Schwarz，整合多功能且精準的量測解方 翔宇科技一直是德國大廠 Rohde & Schwarz （R&S）在臺灣的代理合作商，以專業技術團隊，幫助客戶解決各種半導體量測、匯流排協定、通訊量測等問題，強化臺灣電子產業的企業實力。翔宇與 R&S 合作密切，不僅於設備上的合作，更時常與 R&S 進行技術交流、共同舉辦研討會、及參與 R&S 的原廠 Demo 活動等。是深受原廠及各大客戶信賴的優質代理商，滿足科技、電子、通訊產業客戶從研發到量產、不同階段的測試需求。 翔宇全面代理 Rohde & Schwarz 的各種 T&M 解決方案，包含：無線與行動通訊應用、射頻和微波測試應用、EMC 測試、以及汽車與電子等領域；為台灣的科技企業提供更全方位的測試解決方案。 若您有相關需求，歡迎與我們聯繫。 延伸閱讀 【活動回顧】翔宇科技「2025 研討會—《從合規到效能：消費性電子電源設計與測試實務剖析》」圓滿落幕，攜手 GRL、Rohde & Schwarz 深入剖析電源設計關鍵技術 羅德史瓦茲〈2024 R&S Wireless Innovation Day〉圓滿落幕！《翔宇科技》參展示範 Rohde & Schwarz 台南研討會獲熱烈反響，展示業界領先的高性能示波器

去年，美國知名光通訊與光學測試研發商 Viavi Solutions 推出 1.6 TE 乙太網路測試解決方案： 〈ONE LabPro ONE-1600〉 ， 是目前市場上支援最高速乙太流量、且能深入的實體層（PHY）進行測試分析；此一突破性的新設備推出影響光通訊產業甚鉅。2025 年 VIAVI 再精進 〈ONE LabPro ONE-1600〉 的測試功能，提供 2 連接埠與 4 連接埠機架安裝配置，以實現最大連接埠密度。 VIAVI ONE LabPro 率先全球，支援 1.6Tb/s 乙太網測試 VIAVI 積極開發並強化 ONE-1600 的效能，使該解決方案成為 全球首款可實現 212G/通道、1.6Tb/s 傳輸 的測試解決方案，並已在全球各地的實驗室中得到驗證。值得一提的是，該款解決方案榮獲了 2025 年 Lightwave+BTR 創新評審高分榮譽，並於 2025 年 4 月於舊金山舉行的光纖通訊 《OFC 2025》 博覽會展出。 Testing at 1.6T - Enabling AI, ML, HPC and Quantum Applications at Scale▼ 改版後的 ONE-1600 採用 Broadcom 最新的 SerDes 和 DSP 技術 ，為更高速、更新標準的實體層晶片提供滿足各種測試需求的完整系統，能夠測試 framed/unframed traffic，並支援乙太網路結構核心的高頻寬網路交換，實現大規模 AI 部署；為積體電路（IC）、收發器和交換系統製造商提供研發、系統驗證測試 （SVT）以及即時生產和製造測試。 應用靈活性上，ONE LabPro One Controller 搭配 ONE-1600 2 埠、4 埠 測試模組，能達到個性化測試整合系統，混和搭配之下，可以支持多達 64 個 1600GE/s 測試端口、或 128 個 800GE/s、256 個 400GE/s 、1024 個 100GE/s測試端口等組合。使用插拔式 1600 GE 收發器，具有 224G 電性通道速度，具有深入的實體層（PHY）、向前糾錯檢測（FEC）和 MAC/IP、及乙太網路性能測試。 實際使用畫面▼ 超高速網路驅動 AI 基礎建設，VIAVI ONE LabPro 支援大規模部署除錯 VIAVI 實驗室與生產事業部資深副總裁暨總經理， Tom Fawcett 受訪時表示：「VIAVI 預見網路與運算基礎設施將面臨前所未有的壓力，並於 2024 年 9 月率先推出 1.6Tb/s 測試方案。現在 ONE-1600 測試模組已成功與多家 1.6Tb/s 光模組供應商完成互通測試，整體市場對 1.6Tb/s 光連接技術的採用速度，明顯快於歷代資料傳輸速率技術。」 合作研發的 《Broadcom》 實體層產品事業部資深行銷總監 Khushrow Machhi 則指出：「隨著產業邁向 1.6T 網路，確保 200G/lane 的訊號完整性、和穩定的錯誤更正能力是核心關鍵。我們與 VIAVI 的合作重點，在於共同開發能有效因應這些挑戰的前瞻測試解決方案，加速 1.6T 技術的導入，同時支援 AI 基礎架構與高效能資料中心的發展。」 VIAVI - ONE LabPro 系列包含 ONE、HSE 系列；支援多埠、多流程的流量產生與分析，涵蓋多種資料傳輸速率。其具備業界最高的埠密度與可擴充性，可擴展至 102Tb/s 的測試頻寬，例如透過 ONE-1600 模組配置 64 個 1.6Tb/s 測試埠，或透過 HSE-800 模組配置 128 個 800Gb/s 測試埠，並由單一控制器統一協調管理。該系統可在奈秒精度下，同步混和不同模組的組合，支援完整分拆功能、多使用者邏輯埠管理，以及單一使用者對單一邏輯埠的精細控管。 翔宇 EAGLETEK × VIAVI Solutions 光通訊研討會 翔宇科技 EAGLETEK 和美國網路通訊測試研發大廠 《Viavi Solutions》聯手舉辦技術講座 。邀請來自美國的 Viavi Solutions 技術負責人：Geraint Jones 和 Paul Brooks 演講，聚焦於高速網路領域三大前沿技術：矽光子（SiPh）、共同封裝光學元件（CPO）、以及224G SerDes 與 1.6TE 的測試挑戰與對策。 免費報名，歡迎踴躍參加！【點擊進入活動網站】 活動會後，還有填問卷抽大獎！獎品豐富， 有機會將最新的 Switch 2 遊戲機帶回家！ VIAVI x 翔宇科技，助企業掌握高速乙太網未來主動權 隨著 1.6TbE 成為資料中心與 AI 應用的新標準，VIAVI ONE LabPro 持續在測試效能、系統彈性與協作開放性方面創造突破，成為業界最完整的高速乙太網測試解決方案。在臺灣，《翔宇科技》是 VIAVI 為臺灣的白金級代理商，代理 VIAVI Solutions 光纖網路設備測試、以及電腦運算儲存匯流排測試等兩大量測應用的各項解決方案。歡迎針對 ONE LabPro 系列測試解決方案，諮詢翔宇科技；我們提供對接原廠訂製、設備安裝、現場問題排除、基本協定教學、潛在問題諮詢；輔助客戶無縫接軌全球最新技術。 延伸閱讀 VIAVI 發表 Xgig 6P16 EDSFF 全新測試解決方案，支援 E1/E3/OCP3 高速儲存應用 翔宇科技 x Viavi Solutions 研討會—《迎接 Ultra Ethernet 與 AI Scale-Out架構：Silicon Photonics、CPO、1.6TE 的關鍵測試對策》 參考資料 VIAVI Announces Enhancements to ONE LabPro™ 1.6Tb/s Test Platform | VIAVI Solutions Inc. OFC 2025 unveils 1.6T networking innovations - Electronic Products VIAVI ONE LabPro ONE-1600 with Broadcom SerDes, DSP VIAVI Highlights Test Solutions for AI Infrastructure Development, Manufacturing and Deployment at OFC 2025

掌握超高速乙太網通訊的技術轉折！翔宇科技 x Viavi Solutions 技術講座！ 《迎接 Ultra Ethernet 與 AI Scale-Out 架構：Silicon Photonics、CPO、1.6TE 的關鍵測試對策》 隨著 AI 與資料中心橫向擴充（Scale-Out）架構快速發展，SiPh 與 CPO 成為推動高速傳輸與能源效率革新的關鍵。而 224G SerDes 與 1.6TE 技術，是未來高速乙太網、Infiniband 和 Ultra Ethernet 應用的核心骨幹。為協助臺灣業界掌握下一代通訊技術浪潮，翔宇科技 EAGLETEK 和美國網路通訊測試研發大廠 《Viavi Solutions》 ，將於 8 月 12 日，臺北萬豪酒店舉辦技術講座。 本場將邀請來自美國的 Viavi Solutions 技術負責人：Geraint Jones 和 Paul Brooks 演講，聚焦於高速網路領域三大前沿技術：矽光子（SiPh）、共同封裝光學元件（CPO）、以及224G SerDes 與 1.6TE 的測試挑戰與對策，深入剖析這些技術在 AI 與資料中心 Scale-Out 架構中所扮演的關鍵角色。本次講座為免費報名參加，機會難得，歡迎臺灣產業內先進踴躍報名！ 【點擊進入活動網站】 研討會亮點 矽光子 與 CPO 技術如何重新定義元件設計與部署，並為高速資料中心帶來突破性的效能躍升。 在矽光子元件與模組開發中，如何透過 Viavi MAP-300 系列精準量測 IL、RL、耦合效率、極化控制與穩定性等光學參數，搭配獨家光學矩陣式 switch，實現多通道複雜切換與穩定高精度測試，並支援自動化和平行測試，全面提升研發與量產效率。 224G SerDes 與 1.6TE 在訊號完整性、抖動、PAM4 調變等測試難題， ONE LabPro ONE-1600 平台如何協助克服。 實務案例解析，分享全球領先廠商如何導入最新測試策略，成功驗證產品並搶佔市場先機。 場次資訊 時間：2025. 08. 12 Tue - 1:30 PM ~ 4:30 PM ※ 1:30 PM 免費入場，請攜帶企業名片 地點： 大直萬豪酒店 5F - 萬豪二廳 地址：台北市中山區樂群二路199號 上半場講座 - 矽光子與共同封裝光學元件的光學測試方法 — 以 Viavi MAP-300 為應用實例 矽光子（SiPh）與共同封裝光學元件（CPO）的創新技術正在重新定義光學元件的設計與部署方式，對半導體與通訊產業供應鏈產生深遠影響。Viavi Solutions 分享光學測試技術的最新發展，以因應 SiPh/CPO 帶來的測試挑戰；其探討範圍涵蓋從 Wafer、Die、Chiplet 到子模組的測試流程，並聚焦於高精度、可擴展與高吞吐的測試解決方案。 矽光子與 CPO 技術趨勢與產業衝擊 SiPh 與 CPO 緊密的電光整合技術，如何引領光通訊的架構變化、突破傳統元件設計，以達到 224Gbs 這類超高傳輸效能，這對於全球的高速資料中心與電信應用具指標性意義。 光學測試的挑戰與進化 隨著元件尺寸微縮與整合度提升，傳統光學測試手法面臨極限。從Wafer層級探測到 Chiplet/模組測試，需因應光纖耦合難度提升與錯綜複雜的除錯需求，必須導入平行測試與高吞吐架構。 Viavi MAP-300 & FVAm 測試平台介紹 Viavi MAP-300 平台從過去針對光學被動元件與光收發模組的測試應用，發展到今日也能滿足 SiPh 與 CPO 等新興技術的測試需求。MAP-300 採用符合研發工程師直覺操作的 UX 介面與模組化設計，具備高密度架構、優異的穩定性，能全面支援研發實驗室到量產場域的各種測試需求，並透過自動化與可擴展性，顯著提升測試效率與驗證準確度。FVAm 是 MPO和其他多光纖連接器的一體化檢測和分析顯微鏡，提供快速、多功能、自動化的端面檢測和全面的軟體分析，除了支援業界最新的連接器外，還可檢測各種型式的 Transceiver。 關鍵應用場景與效益 說明 MAP-300 在應用於 SiPh/CPO 元件與系統測試案例，包括光學接點驗證、高精度損耗量測等，協助工程人員在壓力測試環境中維持高效穩定的測試品質。 講師： Director of Product Management at Viavi Solutions - Geraint Jones Jones 深耕光纖技術超過 40 年，曾任職於 GEC Marconi、JDSU 與 Viavi Solutions。專精電信網路、連接器、無源元件、收發模組與相干調變器等領域，現任為 Viavi Solutions 產品總監，負責光纖生產與實驗室測試設備管理。近年積極迎戰 AI 革命帶來的挑戰，致力於開發創新測試解決方案，以應對矽光子（SiPh）與共同封裝光學元件（CPO）領域的測試需求。 下半場講座 - 224G SerDes 與 1.6TE 測試新趨勢解析 — 以 ONE LabPro ONE-1600 應用實例分享 探討 IEEE 802.3dj 標準、和其影響的 224G SerDes 與 1.6TE 技術變革。同時，Viavi 以服務國際客戶的經驗為案例，展示光通訊的領先業者是如何導入 224G SerDes 與 1.6TE 技術革新。 1.6TE、SerDes 與 PAM4 測試的技術挑戰 224G SerDes 採用 PAM4 調變技術提升速率。我們將討論 PAM4 下傳輸的信號完整性、誤碼率、抖動與通道建模等問題；如何使用最新測試方式，確保晶片與模組在實際部署時具備足夠的穩定性與容錯能力。 Viavi ONE LabPro ONE-1600 測試平台介紹 ONE LabPro ONE-1600 是全球首款完整支援 1.6TE 測試的解決方案；以模組化、高密度為核心，具備即時錯誤分析、PAM4 偵測、通道損耗模擬等多種功能，能大幅簡化驗證流程，並支援實驗室驗證、產線測試到系統除錯的多階段應用。 實務部署經驗與產業案例 目前已有多家全球領導廠商導入 ONE LabPro ONE-1600，應用於高速光模組、交換器、SerDes 晶片的開發與驗證流程。Brooks 以測試實驗指導者的角度，分享為客戶部署設備時的經驗和常見問題。 講師： Technology Lead for Optical Transport at Viavi Solutions - Paul Brooks Dr. Brooks 是 Viavi 實驗室與生產事業部首席技術工程師，負責研發高速乙太網路的前瞻性量測技術，參與IEEE 802.3規範制定並專注於未來 448G SerDes 等新興領域。Brooks 擁有南安普敦大學的光電子學博士學位以及多項與高速除錯分析的相關專利；曾任職於英國皇家海軍、Viavi 前身的 Wandel & Goltermann 並服務至今，執行 xDSL 測試用數位訊號處理器設計，以及 IEEE 802.3 高速乙太網路生態系的發展。 免費報名，歡迎踴躍參加！【點擊進入活動網站】 活動會後，還有填問卷抽大獎！獎品豐富， 有機會將最新的 Switch 2 遊戲機帶回家！

《耕雲科技 GENG YUN Technology》 是一家來自新加坡的獨立開發商，專注於設計快速且易於使用的 PCIe/NVMe SSD 測試軟體與設備。其中，旗艦產品 〈PyNVMe3〉 是一款功能強大且全面的 NVMe SSD 測試工具，專為企業級 SSD 在高壓力環境下的效能與可靠性進行嚴格測試。PyNVMe3 提供完整的 Python API，讓測試工程師能夠輕鬆開發客製化腳本。除此之外，耕雲科技亦持續更新、精進 PyNVMe3 軟體，並在耕雲官網中建置涵蓋廣泛應用場景的企業級 NVMe SSD 測試腳本庫，供企業客戶隨時取用。 耕雲科技在實驗室中，透過 PyNVMe3™ 平台執行 SSD 管理介面（MI）測試，尤其是 in-band and out-of-band testing。為了順利進行這項測試，團隊需要一款穩定且可靠的 I2C 封包產生器，來模擬 Master 和 Slave 之間的連接，以及分析其連接的測試結果。 Total Phase 的 〈Aardvark I2C&SPI 封包產生器〉 提供卓越的 I2C 協定測試穩定性、以及具備能模擬 Master/Slave、體積小、使用簡易等優勢，成為耕雲科技在測試實驗時的理想解決方案。 Aardvark I2C&SPI 可與耕雲既有的硬體架構無縫整合，進一步簡化SSD 設備從設計到量產階段的測試與除錯流程。 〈完整產品介紹〉 使用 Total Phase 的 Aardvark I2C/SPI 進行 NVMe SSD 測試 Total Phase 的 Aardvark 是一款支援 I2C 和 SPI 雙通訊協定的主機適配器（封包產生器），可在主模式（Master）與從模式（Slave）間切換。這項特性特別適用於需要模擬多種通訊環境的測試場景，並大幅提升測試效率與準確性。 在 I2C 介面測試中，Aardvark 的優勢包括： 可於 Master 與 Slave 模式下操作，USB 介面傳輸速度可達 800Kbps 支援標準模式（100 kbps）和快速（400 Kbps ）模式，以及各種速度範圍從 1 kHz 到 800 kHz 支援 inter-bit 和 inter-byte 時脈延長功能 支援多重 Master Master 發送和接收 非同步 Slave 重送和接收 可透過軟體開啟Aardvark內建的 I2C 上拉電阻 軟體可設置的目標電源 Pin 腳供電下游設備 重複啟動模式，10 位元 Slave 定址，組合格式化轉換 耕雲設計 PyNVMe3™ 時，透過四個測試流程階段，專注於提升 NVMe SSD 的設計品質，分別為： 協定的回歸校正測試、效能基準測試、穩定性測試、保存及分析資料的效能檢驗 。 Aardvark 強化測試流程的彈性與準確性 為了促進 MI 測試，耕雲團隊將 Aardvark I2C/SPI 與 PyNVMe3™ 平台整合。 Aardvark 支援高達 800 kHz 的 I2C 資料傳輸，並提供靈活的模擬 Master/Slave切換角色，適合於各種測試場景。 PyNVMe3™ 能夠根據測試的特定需求動態配置 Aardvark 的主從模式，在主模式（用於向 SSD 發送命令時）和從模式（用於等待回應時）之間切換。這種自適應方法可以根據溝通過程的每個階段的需要進行調整；在整個耕雲的產品設計過程中，此設定反覆用於驗證韌體更新並進行每週回歸測試，而這普遍是當耕雲的客戶提出特殊要求時，PyNVMe3™ 例行測試的一部分。 除了上述角色模擬之外，透過 Aardvark，耕雲得以進行 PyNVMe3™ 的其他實用常規測試： NVMe 管理指令測試（如 mi_cmd_set、mi_admin_cmd） 韌體更新與週期性回歸測試 錯誤注入與壓力測試 PCIe Commands、Primitives 評估 還有，由於 PyNVMe3™ 提供使用者自訂腳本功能，測試腳本能否正確被設備讀寫也是重點；當使用 Aardvark 與 PyNVMe3™ 平台來進行開發中的腳本測試，例如腳本 06_mi_pcie_cmd_test.py 時，「PyNVMe3™ + Aardvark」 的整體測試架構會執行以下步驟： 透過 SMBus（I2C）發送模擬 PCIe 命令 驗證 SSD 對 PCIe Commands、Primitives 的反應 評估在錯誤注入（如封包錯誤）後的處理邏輯是否正確 Total Phase Aardvark 為企業級 SSD 測試加值 耕雲科技在研發設備的過程中，納入 Total Phase 的 Aardvark I2C/SPI 做為測試設備，這有助於增強 PyNVMe3™ 平台對於 I2C 協定的駕馭能力，也讓企業級 SSD 的開發與驗證過程更為紮實。憑藉 Aardvark 高穩定性的 I2C 傳輸能力與靈活的主從角色轉換，耕雲得以模擬多種測試場景，從而提升 SSD 對於 NVMe-MI 命令的相容性與韌體反應的正確性。 此外，Aardvark 的小巧設計與簡易操作介面，使其成為測試流程中不可或缺的工具。透過與 PyNVMe3™ 測試平台的完美整合，Aardvark 不僅協助耕雲團隊完成日常測試，也成為滿足 PyNVMe3™ 使用客戶在做特殊測試需求時的重要角色。 參考資料： Case Study - Aardvark I2C/SPI Host Adapter - Geng Yun Technology Pte Ltd 延伸閱讀： 〈Total Phase - Aardvark I2C&SPI〉支援《Astera Labs》的 PCIe 6.0 運算技術展示 【How to】如何提升速度以達到最大的 I2C 位元速率 (Bitrate)？ 《Lightware》導入 Total Phase Advanced Cable Tester v2，強化 Type-C 電纜驗證流程

翔宇科技 EAGLETEK 於 6 月 19 日舉辦研討會 《從合規到效能：消費性電子電源設計與測試實務剖析》 剛落幕，本次攜手 GRL 及 Rohde & Schwarz 原廠兩位講師，聚焦於 USB Type-C PD 高功率協定、 SoC 精密供電架構設計與國際法規（如 EU RED、IEC 62368-1 ）測試應用，並展出完整電源驗證與協定測試方案。 現場共吸引逾百位專業人士參與，橫跨半導體、筆電與 AI 裝置開發、電源模組設計、連接器與傳輸線製造、品牌系統廠、測試與安規實驗室等領域。來賓主要從事 SoC 設計、PD 系統整合、電源架構開發、測試與驗證、專案管理等關鍵角色，並深入涵蓋硬體研發、韌體設計、相容性驗證、元件選型與供應鏈管理等技術面與策略面的議題，共同交流並探討新一代電源測試所面臨的挑戰與解決方案。 GRL 聚焦電源設計實務，對應國際規範及高功率需求 研討會上半場，由 GRL 講師 Alan Chuang 詳解 IEC 62368-1、EU RED 指令 及 USB-IF 規範最新發展 ，說明如何針對 高功率 EPR （Extended Power Range）應用，在設計階段有效配置過電壓／過電流／過載保護及控制迴路，確保產品在高達 100W~240W 的傳輸場景中，亦兼具穩定性、相容性及符合國際法規；讓 USB 傳輸資料和電源交握訊號（CC／E‑marker）不受壓力及負載量干擾，以及設備本身具有一定程度對錯誤訊號、資料遺失及延遲處理的風險控制。 GRL 在 USB 領域中，是受協會 《USB-IF》 授權的產品測試認證機構 ；而 Alan 現為 GRL 的技術協理，擁有 20 年以上電子技術實務經驗；因此一開場先詢問來賓： 是否有從事 USB PD 充電協定相關的產品開發 ，進一步針對 USB Type-C/PD 規範，介紹 PPS（可程式電源）、AVS（可調電壓供應）及 Shared Capacity Interoperability Software 測試經驗分享，協助工程師建立貼近標準的電源設計和法規驗證環境。 之後 Alan 針對上述種種電源設計情境，介紹因應的 USB PD 解決方案： 〈USB Type-C® Power Delivery 測試分析儀 C2-EPR〉 ，符合多項國際測試標準與認證，包括〈IEC62368-1/IEC61784-3〉、〈IEC62680-1-2〉、〈EU RED 無線電設備指令規範〉以及〈SASO 沙烏地阿拉伯通用充電裝置認證〉。該設備可驗證支援高達 240W 功率的供電設備（PSE）、線纜及接收端設備（PD），並支援 DisplayPort™、Alt-mode、Thunderbolt Power 等多種電力傳輸場景測試，涵蓋 Vconn 和 Vbus 同時負載等情境。以及整合了 Qualcomm Quick Charge™5 和 Legacy 模式的特殊測試功能，滿足多樣化應用需求。現場也有 Demo 區，由 GRL 的技術人員示範操作。 高效 SoC 電源設計中的精準量測 — Rohde & Schwarz MXO5 技術分享 第二場演講，由 Rohde & Schwarz (R&S) 應用工程師 Jason Hou 以「 高效 SoC 電源設計 」 之中，如何達到精準量測各種電力數據，以及分享 SoC／RFSoC 在電源管理和量測驗證上的關鍵技術和挑戰。Jason 以高電流 SoC 模組實務案例說明跨電源干擾除錯、電壓瞬降／啟動時序優化及 PSRR 驗證，提供可直接應用於設計和驗證流程的關鍵測試方法。例如對於 低電壓／大電流 的要求，在研發上追求電壓公差收窄至毫伏級（3.3V±33mV、1V±10mV）。還有，電動車技術日新月異，資料中心及電動車控制器面臨更大功率密度及快速載荷變化的挑戰，需要的強大量測能力。 在解決方案推薦中，Jason 介紹 R&S 的量測技術和最新示波器設備： 〈MXO5〉 、 〈MXO5C〉 系列示波器。現場展示了新型的 MXO5 8 通道示波器，透過R&S推出的光隔離探測系統 RT-ZISO，與 ANCORA 以及 TI 德州儀器的待測物連接演示量測結果，MXO5 能完整抓取到低電壓／大電流時的突發載荷，呈現漣波、雜訊過高的訊號波形，讓工程師看見過去被忽略的細節。無論是周期性／隨機性的雜訊干擾，還是瞬態載荷對電源漣波及控制迴路的影響，都可以在 R&S 的設備介面下，同步觀察時間和頻率維度，快速鎖定問題。Jason 也近一步說明如何為 MXO 系列搭配專用的功能測試探頭，確保量測結果最貼近真實運行環境，避免過往因頻寬／阻抗／雜訊限制而看不見的問題。同時 MXO5 也具備與同系列的 MXO5C 疊接串聯讓通道數量達到 24ch，為業界之最。 共創電源設計新局，翔宇、GRL、R&S 助力國際標準對接及技術升級 本次研討會以 電源技術 為主題，讓現場來賓獲得一套從設計、除錯到國際合規驗證的完整解答。GRL 在 USB Type-C PD 領域，深入剖析新一代高功率／高相容性的設計規範，並以實機展示 C2‑EPR 測試方案，說明如何確保設備在 IEC 62368‑1、EU RED、USB‑IF 規範下，於過載／過壓／過電流／過渡瞬態等情境皆能穩定運作。R&S 則以 MXO5、MXO5C 示波器，展示高電流、低電壓、多相控制及跨電源干擾量測的關鍵技術，讓工程師掌握 SoC／RFSoC 設計及驗證過程中，關乎可靠性及訊號完整性的最佳解題方向。 透過兩大品牌的技術分享，翔宇科技期望促進國內電源設計、驗證工程師及研發團隊，快速掌握新世代電源管理技術和國際標準的最新脈動，更有效提升設計品質及產品上市速度。 活動預告：翔宇 EAGLETEK × VIAVI Solutions 光通訊研討會 翔宇科技將持續舉辦更多技術研討及實務交流活動，推廣科技產業掌握最新趨勢、強化研發實力。同時預告，我們將在 8 月 12 日 台北萬豪酒店，舉辦以「224G SerDes／1.6TbE高速乙太網傳輸、及矽光子 CPO 等光通訊技術」應用為主題的技術研討會，歡迎產業先進關注 EAGLETEK 翔宇科技的官網消息！

Protocol Insight 推出全新的 Marlin A200 協定分析儀和測試工具 ，它支援即將推出的 A-PHY 2.0 規範，並在位於加利福尼亞州聖荷西的MIPI聯盟會員大會第 63 次會議上進行示範操作。 什麼是 MIPI A-PHY MIPI A-PHY 是一種針對汽車應用的長距離序列器-解序器（SerDes）物理層介面，包括ADAS (先進駕駛輔助系統, Advanced Driver Assistance Systems)、ADS (自動駕駛系統, Autonomous Driving system) 和其他周邊傳感器應用，如攝影機和車用資訊娛樂系統（IVI, In-Vehicle Infotainment）顯示螢幕。 該規範提供了一種非對稱資料連接方式，可以在點對點、或串聯的拓撲中使用，透過單一電纜傳輸高速單向資料、嵌入式雙向控制資料、和可選擇的電源傳遞，這樣可以減少佈線、成本、和重量，並使設計人員能夠根據使用案例所需的性能、成本、和複雜性進行系統優化，提供可擴展性和靈活性以滿足各種速度和設計需求；對於與現有網路骨幹的整合，A-PHY可以與乙太網路、CAN、FlexRay和其他介面相輔相成。 Marlin A200 A-PHY 協定分析儀 Marlin A200 具備產業領先的分析儀功能，提供了上行和下行流量的時間相關封包以及封包統計訊息，Marlin 封包產生器 (exerciser) 支援流量產生，並具備錯誤注入功能，可實現接收端或發送端的模擬、和CTS一致性驗證；A200與Protocol Insight 軟體無縫整合，該軟體提供了對開發人員來說非常有幫助的工具，包括Trace Validation 和Stimulus Test Editor；Stimulus Test Editor 允許使用者建立自定義的A-PHY流量模式，並且設定複雜的進階觸發條件；Trace Validation 可用於評估接收到的流量進行延遲分析，並定義可自行定義通過/失敗的標準。 Marlin A200 A-PHY 協定分析儀 「恭喜Protocol Insight加入不斷擴大的MIPI A-PHY生態系統，」MIPI Alliance A-PHY工作組聯合主席、Valens Semiconductor Ltd. 汽車產品副總裁Edo Cohen表示； 「Valens Semiconductor期待與Protocol Insight合作，利用Marlin協定分析儀和測試工具來簡化A-PHY的除錯和一致性測試工作。」 利用Marlin協定分析儀和測試工具來簡化A-PHY的除錯和一致性測試工作 MIPI A-PHY最初於2020年9月發佈，是第一個長距離非對稱SerDes介面的產業標準，用於在汽車影像傳感器和顯示器與相應的電子控制單元（ECU）之間提供高性能連接，它的開發重點在於簡化更多車載傳感器和顯示器的整合，被應用於先進駕駛輔助系統（ADAS）、數位座艙 (digital cockpits)、車用資訊娛樂系統（IVI）和自動駕駛系統（ADS）等，預計在2023年底推出2.0版本，該版本將實現每個單通道32 Gbps的傳輸速率，同時提升上行帶寬至1.666 Gbps。 預計在2024年首批使用A-PHY元件的汽車將投入生產，除了汽車應用外，這個規範也非常適合物聯網（IoT）和工業等應用，MIPI A-PHY是由MIPI A-PHY工作小組所開發，並且僅對MIPI聯盟成員開放；A-PHY v1.0也在2021年6月被IEEE標準採用，並以IEEE 2977-2021的形式提供，A-PHY v1.1也將被提交作為IEEE標準的採用版本。 「Protocol Insight在MIPI測試社群中活躍了近十年」MIPI Alliance主席Sanjiv Desai表示；「像Marlin A200這樣的測試工具，將有助於推動A-PHY v2.0規範的採用，幫助開發者確保一致性，同時支援不斷擴大的A-PHY生態系統中的互操作性。」 關於 Protocol Insight Protocol Insight為行動 (mobile) 和行動應用關聯性 (mobile-influenced) 產品的開發商，如智慧型手機、平板電腦、物聯網、以及電動汽車等提供量測與測試解決方案；自2014年以來，Protocol Insight一直提供UFS和UniPro測試工具，並成為UFS和UniPro應用在協定定分析和封包產生器的領導者；此外，Protocol Insight也在MIPI UniPro和測試工作小組，對UniPro規範的發展做出了重要貢獻。 關於 MIPI Alliance MIPI Alliance（MIPI）是為行動和行動應用關聯性 (mobile-influenced) 的產業開發介面規範的組織，每一款現代智慧手機都至少使用了一項MIPI規範；MIPI聯盟成立於2003年，即將迎來其20週年慶典，該組織擁有超過375家全球會員公司和15個活躍的工作小組，致力於為廣大的行動生態系統提供規範；組織的成員包括：手機製造商、設備原始設計製造商（OEM）、軟體供應商、半導體公司、應用處理器開發商、IP工具供應商、汽車製造商和Tier 1供應商、測試儀器商，以及相機、平板電腦和筆記型電腦製造商等；欲了解更多資訊，請至 www.mipi.org 。 關於 JEDEC JEDEC是全球微電子產業標準開發的領導者，憑藉近300家會員公司的支持、數以千計的志願者參、與100多個JEDEC委員會和工作小組，共同滿足製造商和消費者等各個領域產業的需求，JEDEC委員會所制定的出版物和標準在全球範圍內得到廣泛認可，所有的JEDEC標準均可從JEDEC網站上下載，欲了解更多訊息，請至 www.jedec.org 。 關於 UFSA 通用快閃記憶體儲存協會（UFSA）成立於2010年，是一個開放的行業協會，主要推廣通用快閃記憶體（UFS）標準的廣泛採用和接受，有關UFSA的更多資訊，請至 http://www.ufsa.org。 MIPI A-PHY 和 UniPro 是MIPI聯盟的註冊商標；UFSA和UFS是通用快閃記憶體儲存協會 (UFSA) 的商標；JEDEC和JEDEC標誌是JEDEC固態技術協會的註冊商標。