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產業新訊


Total Phase 新搭載於 Promira 的 I2C / SPI 協定分析軟體,強化嵌入式系統開發&匯流排測試能力
新發布的 Promira 平台協定分析軟體,〈Promira I2C Analysis Application〉、〈Promira SPI Analysis Application Level 1 & Level 2〉三款皆可透過非侵入式監控 I2C / SPI 協定的通訊情形,達到不同的高速時脈監控速度;同時兼具精準的時序解析度
9小时前


用 Nmap 與 CyberScope 掃描邊緣裝置漏洞:強化企業資安可視性的新防線
企業內的邊緣裝置,例如:印表機、工業電腦、個人電腦手機、智慧電視、攝影機等,若疏於掃描,可能成為駭客攻擊的破口。邊緣網路的共通弱點,容易被當作攻擊的切入點,如今,新一代的企業資料外洩防護(DLP)需求出現:不僅要能辨識雲端資料庫中的敏感資訊,還要能在各種邊緣裝置與雲端之間即時監控、阻斷可疑的資料傳輸行為。
2天前


Rohde & Schwarz 推出 MXO3 系列示波器:以極速深層擷取、高解析度重新定義示波器性能
最新 MXO3 系列示波器,採用 Rohde & Schwarz 自主設計的 MXO-EP ASIC 晶片,資料處理速率高達 400 Gbit/s,實現每秒高達 450 萬次擷取的更新頻率、即時擷取率高達 99%,是目前業界型號中最高效精準的中階示波器。顯著提升使用者在高速信號或偶發事件中的捕捉能力。
10月16日


Rohde & Schwarz 於《IEEE EMC SIPI 2025 Symposium》展示 EMC 完整檢測設備組合
Rohde & Schwarz, R&S,今年於 EMC SIPI 研討會上,模擬真實電磁和訊號工程的情境,邀請來賓面對除錯情境進行互動挑戰,親身體驗最新 R&S 的 EMC 測試設備。R&S 此次主要展出的 EMC 測試設備組合有:〈MXO 5 系列數位儲存示波器〉和〈RTO6 系列數位儲存示波器〉、〈EPL EMI 1007 測試接收解決方案〉等等
10月15日


Rohde Schwarz 與臺灣國家太空中心合作,開發首個雙功能衛星測試系統
R&S 與 TASA 合作,為臺灣開發首個 EMC/天線測量雙功能衛星測試系統,在一個測試艙能夠同時進行 EMC(電磁相容測試) 和天線測量。為了滿足這項需求,R&S 採用多種解決方案,包括:R&S ZNA 43 向量網路分析儀、 R&S®AMS32 測量軟體、與其他工程服務,以及與臺灣第三方供應商合作開發的縮距場天線量測(CATR)反射器。
10月7日


10/22~24《2025 台北國際光電週》與《TPCA Show》聯展,翔宇科技受邀演講
臺灣唯一專攻光學、光電技術產業轉型的國際專業展覽,同時積極推廣光電技術與 CPO、半導體等跨領域整合。翔宇科技今年首次受邀,於〈 矽光子異質整合技術論壇 〉 演講。翔宇深耕光電傳輸檢測、乙太網測試領域;將分享全球矽光子研發與 CPO 的市場趨勢、與介紹 1.6T 超高速乙太網路測試技術。
10月3日


VIAVI ONE-1600ER 世界最高速乙太網路測試再進化!支援最新 802.3dj &下一代 1.6Tb 相干模組功能
ONE-1600ER 模組擴展 ONE LabPro 平台的功能:全面支援最新 802.3dj 規範乙太網測試,包括: 1.6Tb、8x200G 測試,這對於下一代 224G SerDes 測試和分析 200G 通道將是關鍵影響技術。支援 Riding Heat Sink (RHS) OSFP 1600G 模組;並針對 RFC2544 協定,可進行全面的效能測試。完整的電氣/光學支援(DAC–AOC、AEC、ACC),以及專為下一代 1.6Tb 相干模組(如 1600ZR 和 1600LR/ER)設計的強大電源管理、冷卻管理機制。 ONE-1600ER 提供 inter-sublayer link training(ILT)和 symbol muxing,以實現與其他測試設備能完全互通,這兩項均為 802.3dj 的新功能。
10月1日


VIAVI 針對 Xgig 6P16 推出新支援介面卡〈Xgig MCIO 16-lane Interposer〉
〈Xgig MCIO 16-lane Interposer〉可用於偵錯與驗證具備 MCIO 介面的 NIC、Switch Board、Switch Board、MCIO 周邊設備、主機系統實作、韌體與驅動程式,以及系統 BIOS 與軟體的驗證與製造測試。支援 6P16 對 PCIe 數據流量與鏈路狀態的完整解碼與分析。
9月25日


光學測試創新技術:VIAVI Enhanced-TDR,簡化 IL/RL 測試流程
Enhanced-TDR 旨在測量 DUT 的插入損耗(IL)與回波損耗(RL),且不再需要使用 Power Meter 。這將大幅提升測試效率,有效消除傳統測試流程中的瓶頸,顯著提高了測試吞吐量 。雖然傳統插入損耗測量精準,但往往耗時且昂貴,而 Enhanced-TDR 則提供更精簡的替代方案,無需連接 Power Meter,簡化並加速測試流程,特別適合高效能環境中的需求。
9月17日
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