翔宇科技 x Viavi Solutions 研討會—《迎接 Ultra Ethernet 與 AI Scale-Out架構：Silicon Photonics、CPO、1.6TE 的關鍵測試對策》
- 翔宇科技
- 7月17日
- 讀畢需時 5 分鐘
隨著 AI 與資料中心橫向擴充（Scale-Out）架構快速發展，SiPh 與 CPO 成為推動高速傳輸與能源效率革新的關鍵。而 224G SerDes 與 1.6TE 技術，是未來高速乙太網、Infiniband 和 Ultra Ethernet 應用的核心骨幹。為協助臺灣業界掌握下一代通訊技術浪潮，翔宇科技 EAGLETEK 和美國網路通訊測試研發大廠《Viavi Solutions》，將於 8 月 12 日，臺北萬豪酒店舉辦技術講座。
本場將邀請來自美國的 Viavi Solutions 技術負責人：Geraint Jones 和 Paul Brooks 演講，聚焦於高速網路領域三大前沿技術：矽光子（SiPh）、共同封裝光學元件（CPO）、以及224G SerDes 與 1.6TE 的測試挑戰與對策，深入剖析這些技術在 AI 與資料中心 Scale-Out 架構中所扮演的關鍵角色。本次講座為免費報名參加，機會難得，歡迎臺灣產業內先進踴躍報名！
研討會亮點
矽光子與 CPO 技術如何重新定義元件設計與部署，並為高速資料中心帶來突破性的效能躍升。
在矽光子元件與模組開發中，如何透過 Viavi MAP-300 系列精準量測 IL、RL、耦合效率、極化控制與穩定性等光學參數，搭配獨家光學矩陣式 switch，實現多通道複雜切換與穩定高精度測試，並支援自動化和平行測試，全面提升研發與量產效率。
224G SerDes 與 1.6TE 在訊號完整性、抖動、PAM4 調變等測試難題，ONE LabPro ONE-1600 平台如何協助克服。
實務案例解析，分享全球領先廠商如何導入最新測試策略，成功驗證產品並搶佔市場先機。
場次資訊
時間：2025. 08. 12 Tue - 1:30 PM ~ 4:30 PM
※ 1:30 PM 免費入場，請攜帶企業名片
地址：台北市中山區樂群二路199號
上半場講座 -
矽光子與共同封裝光學元件的光學測試方法 — 以 Viavi MAP-300 為應用實例
矽光子（SiPh）與共同封裝光學元件（CPO）的創新技術正在重新定義光學元件的設計與部署方式，對半導體與通訊產業供應鏈產生深遠影響。Viavi Solutions 分享光學測試技術的最新發展，以因應 SiPh/CPO 帶來的測試挑戰；其探討範圍涵蓋從 Wafer、Die、Chiplet 到子模組的測試流程，並聚焦於高精度、可擴展與高吞吐的測試解決方案。
矽光子與 CPO 技術趨勢與產業衝擊
SiPh 與 CPO 緊密的電光整合技術，如何引領光通訊的架構變化、突破傳統元件設計，以達到 224Gbs 這類超高傳輸效能，這對於全球的高速資料中心與電信應用具指標性意義。
光學測試的挑戰與進化
隨著元件尺寸微縮與整合度提升，傳統光學測試手法面臨極限。從Wafer層級探測到 Chiplet/模組測試，需因應光纖耦合難度提升與錯綜複雜的除錯需求，必須導入平行測試與高吞吐架構。
Viavi MAP-300 & FVAm 測試平台介紹
Viavi MAP-300 平台從過去針對光學被動元件與光收發模組的測試應用，發展到今日也能滿足 SiPh 與 CPO 等新興技術的測試需求。MAP-300 採用符合研發工程師直覺操作的 UX 介面與模組化設計，具備高密度架構、優異的穩定性，能全面支援研發實驗室到量產場域的各種測試需求，並透過自動化與可擴展性，顯著提升測試效率與驗證準確度。FVAm 是 MPO和其他多光纖連接器的一體化檢測和分析顯微鏡，提供快速、多功能、自動化的端面檢測和全面的軟體分析，除了支援業界最新的連接器外，還可檢測各種型式的 Transceiver。
關鍵應用場景與效益
說明 MAP-300 在應用於 SiPh/CPO 元件與系統測試案例，包括光學接點驗證、高精度損耗量測等，協助工程人員在壓力測試環境中維持高效穩定的測試品質。
講師：
Director of Product Management at Viavi Solutions - Geraint Jones
Jones 深耕光纖技術超過 40 年，曾任職於 GEC Marconi、JDSU 與 Viavi Solutions。專精電信網路、連接器、無源元件、收發模組與相干調變器等領域，現任為 Viavi Solutions 產品總監，負責光纖生產與實驗室測試設備管理。近年積極迎戰 AI 革命帶來的挑戰，致力於開發創新測試解決方案，以應對矽光子（SiPh）與共同封裝光學元件（CPO）領域的測試需求。
下半場講座 -
224G SerDes 與 1.6TE 測試新趨勢解析 — 以 ONE LabPro ONE-1600 應用實例分享
探討 IEEE 802.3dj 標準、和其影響的 224G SerDes 與 1.6TE 技術變革。同時，Viavi 以服務國際客戶的經驗為案例，展示光通訊的領先業者是如何導入 224G SerDes 與 1.6TE 技術革新。
1.6TE、SerDes 與 PAM4 測試的技術挑戰
224G SerDes 採用 PAM4 調變技術提升速率。我們將討論 PAM4 下傳輸的信號完整性、誤碼率、抖動與通道建模等問題；如何使用最新測試方式，確保晶片與模組在實際部署時具備足夠的穩定性與容錯能力。
Viavi ONE LabPro ONE-1600 測試平台介紹
ONE LabPro ONE-1600 是全球首款完整支援 1.6TE 測試的解決方案；以模組化、高密度為核心，具備即時錯誤分析、PAM4 偵測、通道損耗模擬等多種功能，能大幅簡化驗證流程，並支援實驗室驗證、產線測試到系統除錯的多階段應用。
實務部署經驗與產業案例
目前已有多家全球領導廠商導入 ONE LabPro ONE-1600，應用於高速光模組、交換器、SerDes 晶片的開發與驗證流程。Brooks 以測試實驗指導者的角度，分享為客戶部署設備時的經驗和常見問題。
講師： Technology Lead for Optical Transport at Viavi Solutions - Paul Brooks
Dr. Brooks 是 Viavi 實驗室與生產事業部首席技術工程師，負責研發高速乙太網路的前瞻性量測技術，參與IEEE 802.3規範制定並專注於未來 448G SerDes 等新興領域。Brooks 擁有南安普敦大學的光電子學博士學位以及多項與高速除錯分析的相關專利；曾任職於英國皇家海軍、Viavi 前身的 Wandel & Goltermann 並服務至今，執行 xDSL 測試用數位訊號處理器設計，以及 IEEE 802.3 高速乙太網路生態系的發展。
